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열전 특성 측정장치

  • 기술번호 : KST2018012682
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 측정 대상인 열전 소재의 상측에 이동 가능하게 배치되는 상부모듈; 측정 대상인 열전 소재의 하측에 배치되어 열전 소재가 안치되는 하부모듈; 및 상기 하부모듈을 고정시키고, 상기 상부모듈을 이동시키는 고정모듈;을 포함하는 열전 특성 측정장치를 제공하여, 열전 특성을 파악하기 위한 제백계수, 전기전도도 및 열전도도(k)를 개별적으로 측정할 수 있으며, 열전 소재를 다양한 방향에서 정밀하게 측정할 수 있다.
Int. CL G01R 5/22 (2006.01.01) G01R 1/04 (2006.01.01) G01R 1/44 (2006.01.01)
CPC G01R 5/22(2013.01) G01R 5/22(2013.01) G01R 5/22(2013.01)
출원번호/일자 1020170029250 (2017.03.08)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0102745 (2018.09.18) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.03.08)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강상우 대한민국 대전광역시 유성구
2 김영석 대한민국 경기도 수원시 장안구
3 박현민 대한민국 서울특별시 서초구
4 송재용 대한민국 대전광역시 유성구
5 김태성 대한민국 서울특별시 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영호 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길* (역삼동, 조이타워), ***호(대신특허사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.03.08 수리 (Accepted) 1-1-2017-0229698-86
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.03.17 수리 (Accepted) 1-1-2017-0268708-14
3 보정요구서
Request for Amendment
2017.03.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2017-0037195-12
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.02.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.04.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2018-0055390-08
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.04.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0268541-67
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.05.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0513210-05
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.05.25 수리 (Accepted) 1-1-2018-0513222-42
9 등록결정서
Decision to grant
2018.09.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0660894-53
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
측정 대상인 열전 소재의 상측에 이동 가능하게 배치되는 상부모듈; 및측정 대상인 열전 소재의 하측에 배치되어 측정 대상인 열전 소재가 안치되는 하부모듈을 포함하고,상기 상부모듈은,열을 방출하는 제1 히터와, 상기 제1 히터의 온도를 제어하는 제1 히트싱크와, 상기 제1 히터의 출력을 측정하는 제1 온도계와, 상기 제1 히터에서 방출된 열을 저장하는 제1 히터블록을 포함하는 제1 히터부; 상기 제1 히터부와 측정 대상인 열전 소재 사이에 배치되는 기 공지된 열전 소재로써 형성되는 제1 프루브; 상기 제1 히터부와 제1 프루브 사이에 배치되어 상기 제1 히터부 또는 제1 프루브에 접촉하여 전류를 인가하거나 전압을 측정하는 제1 보조패드; 및 상기 제1 프루브와 측정 대상인 열전 소재 사이에 배치되어 상기 제1 프루브 또는 측정 대상인 열전 소재에 접촉하여 전류를 인가하거나 전압을 측정하는 제1 메인패드를 포함하며,상기 하부모듈은,열을 방출하는 제2 히터와, 상기 제2 히터의 온도를 제어하는 제2 히트싱크와, 상기 제2 히터의 출력을 측정하는 제2 온도계와, 상기 제2 히터에서 방출된 열을 저장하는 제2 히터블록을 포함하는 제2 히터부; 상기 제2 히터부와 측정 대상인 열전 소재 사이에 배치되는 기 공지된 열전 소재로써 형성되는 제2 프루브; 상기 제2 히터부와 제2 프루브 사이에 배치되어 상기 제2 히터부 또는 제2 프루브에 접촉하여 전류를 인가하거나 전압을 측정하는 제2 보조패드; 및 상기 제2 프루브와 측정 대상인 열전 소재 사이에 배치되어 상기 제2 프루브 또는 측정 대상인 열전 소재에 접촉하여 전류를 인가하거나 전압을 측정하는 제2 메인패드를 포함하고,상기 제1 메인패드와 제2 메인패드는 각각직사각형 또는 정사각형 형상의 절연체 기판; 및상기 절연체 기판을 4 등분하여 상기 4 등분된 절연체 기판의 상측에서 상호 대각선 방향에 증착되는 두 개의 상부 금(Au) 또는 구리(Cu) 패드와, 상기 절연체 기판의 하측에서 상기 절연체 기판의 상측에 증착된 것과 교차되도록 상호 대각선 방향에 증착되는 두 개의 하부 금(Au) 또는 구리(Cu) 패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 열전 특성 측정장치
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
제1항에 있어서,상기 하부모듈을 고정시키고, 상기 상부모듈을 이동시키는 고정모듈을 더 포함하여 이루어지고,상기 고정모듈은,상기 상부모듈의 제1 히터부, 제1 보조패드, 제1 프루브를 수용하는 제1 수용하우징;상기 상부모듈의 상측에 고정되는 제1 고정하우징;상기 하부모듈의 제2 히터부, 제2 보조패드, 제2 프루브를 수용하는 제2 수용하우징;상기 하부모듈의 하측에 고정되는 제2 고정하우징;상기 제1 고정하우징과 제2 고정하우징의 일측에 배치되어 상기 제1 고정하우징의 위치를 가변시키는 구동하우징; 및상기 제1 고정하우징과 제2 고정하우징의 타측에 배치되어 상기 제1 고정하우징의 위치를 측정 대상인 열전 소재에 대응되게 가이드하는 가이드하우징;을 포함하는 열전 특성 측정장치
5 5
제4항에 있어서,상기 제1 수용하우징에는 상기 제1 프루브의 외측에 배치되는 제1 스프링을 더 포함하고, 상기 제2 수용하우징에는 상기 제2 프루브의 외측에 배치되는 제2 스프링을 더 포함하는 열전 특성 측정장치
6 6
제4항에 있어서,상기 구동하우징은,상기 제1 고정하우징에 고정되는 제1 고정체;상기 제2 고정하우징에 고정되는 제2 고정체; 및상기 제1 고정체와 제2 고정체 사이에 배치되어 상기 제1 고정체의 위치를 가변시키는 노브;를 포함하는 열전 특성 측정장치
7 7
제1항에 있어서,상기 제1 프루브 및 제2 프루브는 텔루르화 비스무트(bismuth telluride) 또는 비스무스 안티몬 텔루라이드(bismuth antimony telluride) 화합물로 형성되는 열전 특성 측정장치
8 8
삭제
9 9
제1항에 있어서,상기 제1 히터부에서 측정대상인 열전 소재 방향으로 방출되는 온도는 상기 제2 히터부에서 방출되는 온도보다 고온으로 설정되는 열전 특성 측정장치
10 10
제9항에 있어서,상기 제1 보조패드와 제1 메인패드 사이의 전압(dVh)과, 상기 제2 보조패드와 제2 메인패드 사이의 전압(dVc)을 측정하고,상기 측정된 전압(dVh, dVc)과 상기 제1 프루브 및 제2 프루브의 기 공지된 제백계수로써 측정 대상인 열전 소재의 상, 하부 온도(Th', Tc'), 상, 하부 온도차(△T) 및 평균온도(T)를 산출하는 열전 특성 측정장치
11 11
제10항에 있어서,상기 제1 온도계로써 측정된 제1 히터블록의 온도(Th)와 상기 측정 대상인 열전 소재의 상부 온도(Th')의 차이(Th-Th'), 상기 제2 온도계로써 측정된 제2 히터블록의 온도(Tc)와 상기 측정 대상인 열전 소재의 하부 온도(Tc')의 차이(Tc-Tc'), 및 상기 제1 프루브와 제2 프루브의 열전도도(k) 특성을 가지고 상기 측정 대상인 열전 소재의 열유속(Qh, Qc)을 산출하는 열전 특성 측정장치
12 12
제10항에 있어서,상기 제1 메인패드와 제2 메인패드 사이의 전압(dVsample)을 측정하여, 상기 산출된 열전 소재의 상, 하부 온도차(△T), 평균온도(T)를 가지고 제백계수(S)를 산출하는 열전 특성 측정장치
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제11항에 있어서,상기 산출된 열전 소재의 상, 하부 온도차(△T), 평균온도(T) 및 열유속(Qh, Qc)을 가지고 열전도도(k)를 산출하는 열전 특성 측정장치
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제10항에 있어서,상기 제1 보조패드와 제2 보조패드에 전류를 인가하여 상기 제1 메인패드와 제2 메인패드 사이의 저항(Rsample)을 측정하고,측정대상인 열전 소재의 두께(tsample) 및 면적(Asample)을 이용하여 전기전도도(σ)를 산출하는 열전 특성 측정장치
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제12항에 있어서,상기 산출된 열전 소재의 상, 하부 온도차(△T), 평균온도(T) 및 열유속(Qh, Qc)을 가지고 열전도도(k)를 산출하고, 상기 제1 보조패드와 제2 보조패드에 전류를 인가하여 상기 제1 메인패드와 제2 메인패드 사이의 저항(Rsample)을 측정하고, 측정대상인 열전 소재의 두께(tsample) 및 면적(Asample)을 이용하여 전기전도도(σ)를 산출하여,열전성능지수(ZT)를 산출하는 열전 특성 측정장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.