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비선택 비트라인 전하에 의한 셀 대지전압 상승을 이용한 정적 메모리 및 쓰기 보조 방법

  • 기술번호 : KST2018012718
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 일 실시예에 따른 비선택 비트라인 전하에 의한 셀 대지전압 상승을 이용한 정적 메모리는 정적 메모리의 셀 어레이를 구성하는 복수의 서브 어레이 및 상기 서브 어레이에서 비 선택된 셀의 대지전압을 플로팅 시키는 플로팅부를 포함한다.
Int. CL G11C 11/413 (2006.01.01) G11C 11/419 (2015.01.01)
CPC G11C 11/413(2013.01) G11C 11/413(2013.01)
출원번호/일자 1020170028770 (2017.03.07)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0102316 (2018.09.17) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.03.07)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정성욱 대한민국 서울특별시 서대문구
2 정한울 대한민국 서울특별시 서대문구
3 오세혁 대한민국 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김연권 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 ***, ****/****호(문정동, 문정대명벨리온)(시안특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.03.07 수리 (Accepted) 1-1-2017-0226365-73
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.04.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0289079-11
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.06.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0618578-64
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.06.25 수리 (Accepted) 1-1-2018-0618559-07
5 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2018.09.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0598211-12
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.10.30 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2018-1073501-11
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.10.30 수리 (Accepted) 1-1-2018-1073479-93
8 등록결정서
Decision to grant
2019.02.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0081649-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
정적 메모리의 셀 어레이를 구성하며 복수의 셀들을 포함하고 상기 복수의 셀들이 공유하는 대지전압에 기초하여 상기 셀 어레이를 구성하는 개수가 결정되는 복수의 서브 어레이; 및상기 복수의 서브 어레이들 각각에 구비되고, 상기 복수의 서브 어레이 중 선택된 셀을 포함하는 서브 어레이에서 비 선택된 셀의 대지전압을 플로팅 시켜, 상기 선택된 셀의 대지전압을 상승시키는 플로팅부를 포함하는비선택 비트라인 전하에 의한 셀 대지전압 상승을 이용한 정적 메모리
2 2
제1항에 있어서,상기 플로팅부는쓰기 동작 시 선택된 서브 어레이에서 상기 비 선택된 셀의 대지전압을 플로팅 시킴으로써, 비트라인으로부터 상기 비 선택된 셀의 대지전압 노드로 전류가 흘러 상기 선택된 셀의 대지전압을 상승시키는비선택 비트라인 전하에 의한 셀 대지전압 상승을 이용한 정적 메모리
3 3
제1항에 있어서,상기 플로팅부는읽기 또는 대기 동작 시 상기 서브 어레이의 모든 대지전압을 접지시키는비선택 비트라인 전하에 의한 셀 대지전압 상승을 이용한 정적 메모리
4 4
제1항에 있어서,상기 복수의 서브 어레이들 중 쓰기 동작을 수행하려는 셀이 속한 서브 어레이를 선택하는 선택부를 더 포함하는 비선택 비트라인 전하에 의한 셀 대지전압 상승을 이용한 정적 메모리
5 5
제1항에 있어서,상기 대지전압은 상기 서브 어레이 내의 셀 사이에만 서로 공유되는 구조인비선택 비트라인 전하에 의한 셀 대지전압 상승을 이용한 정적 메모리
6 6
제1항에 있어서,상기 플로팅부는 풋스위치로 구성되는 것을 특징으로 하는비선택 비트라인 전하에 의한 셀 대지전압 상승을 이용한 정적 메모리
7 7
제1항에 있어서,상기 셀 어레이를 구성하는 서브 어레이의 개수는 상기 셀의 대지전압의 상승 속도와 최종 상승된 대지전압을 고려하여 결정되는비선택 비트라인 전하에 의한 셀 대지전압 상승을 이용한 정적 메모리
8 8
정적 메모리의 셀 어레이를 구성하며 복수의 셀들을 포함하고 상기 복수의 셀들이 공유하는 대지전압에 기초하여 상기 셀 어레이를 구성하는 개수가 결정되는 복수의 서브 어레이 중 선택하려는 셀이 속한 서브 어레이를 선택하는 단계; 및상기 선택된 서브 어레이에서 비 선택된 셀의 대지전압을 플로팅 시켜, 상기 선택된 셀의 대지전압을 상승시키는 단계를 포함하는 비선택 비트라인 전하에 의한 셀 대지전압 상승을 이용한 정적 메모리의 쓰기 보조 방법
9 9
제8항에 있어서,상기 선택하려는 셀의 대지전압을 상승시키는 단계는쓰기 동작 시 상기 선택된 서브 어레이에서 상기 비 선택된 셀의 대지전압을 플로팅 시킴으로써, 비트라인으로부터 상기 비 선택된 셀의 대지전압 노드로 전류가 흘러 상기 선택된 셀의 대지전압을 상승시키는비선택 비트라인 전하에 의한 셀 대지전압 상승을 이용한 정적 메모리의 쓰기 보조 방법
10 10
제8항에 있어서,읽기 또는 대기 동작 시 상기 선택된 서브 어레이의 모든 대지전압을 접지시키는 단계를 더 포함하는 비선택 비트라인 전하에 의한 셀 대지전압 상승을 이용한 정적 메모리의 쓰기 보조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.