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분석 장치

  • 기술번호 : KST2018012820
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 분석 장치에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시 예에 따르면, 내부 성분을 분석하기 위한 시료에 광을 공급하는 광원부와 상기 광원부로부터 공급받은 광의 경로를 변경하는 반사부 및 상기 반사로부터 공급받은 상기 광을 상기 시료로 공급하는 빔스플리터를 포함하는 광 공급 부재와 상기 광원부에서 공급된 광이 상기 시료의 내부 성분에 반사한 뒤 되돌아오는 반사광의 분석 신호의 검출이 용이하도록 초점을 조절하는 초점 조절 렌즈부와 상기 반사광의 분석 신호를 분석하도록 상기 반사광 중 일부를 검출하는 광검출부 및 상기 광검출부에서 검출된 상기 반사광의 분석 신호를 분석하여 상기 초점 조절 렌즈부의 초점을 조절하도록 제어하는 초점 제어부를 구비하는 초점 조절 부재와 그리고 상기 반사광의 스펙트럼을 수집하여 상기 시료의 내부 성분을 분석하는 분석 부재를 포함하는 분석 장치를 포함한다.
Int. CL G01N 21/25 (2006.01.01) G01J 1/44 (2006.01.01)
CPC G01N 21/25(2013.01) G01N 21/25(2013.01) G01N 21/25(2013.01)
출원번호/일자 1020170029016 (2017.03.07)
출원인 국민대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0102410 (2018.09.17) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.03.07)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국민대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김형민 대한민국 서울특별시 강남구
2 박찬량 대한민국 서울특별시 서초구
3 임수영 대한민국 인천광역시 계양구
4 송시원 대한민국 서울특별시 성북구
5 조영호 대한민국 서울특별시 마포구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이룸리온 대한민국 서울특별시 서초구 사평대로 ***, *층 (반포동)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.03.07 수리 (Accepted) 1-1-2017-0228235-93
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.02.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.04.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2018-0058552-12
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.04.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0288218-93
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.06.27 수리 (Accepted) 1-1-2018-0631745-43
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.06.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0631746-99
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2018.10.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0695247-42
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.11.14 수리 (Accepted) 1-1-2018-1133292-48
9 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2018.11.14 보정각하 (Rejection of amendment) 1-1-2018-1133293-94
10 보정각하결정서
Decision of Rejection for Amendment
2018.11.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0799799-38
11 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2018.11.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0799800-08
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번호 청구항
1 1
내부 성분을 분석하기 위한 시료에 광을 공급하는 광원부와 상기 광원부로부터 공급받은 광의 경로를 변경하는 반사부 및 상기 반사로부터 공급받은 상기 광을 상기 시료로 공급하는 빔스플리터를 포함하는 광 공급 부재와;상기 광원부에서 공급된 광이 상기 시료의 내부 성분에 반사한 뒤 되돌아오는 반사광의 분석 신호의 검출이 용이하도록 초점을 조절하는 초점 조절 렌즈부와 상기 반사광의 분석 신호를 분석하도록 상기 반사광 중 일부를 검출하는 광검출부 및 상기 광검출부에서 검출된 상기 반사광의 분석 신호를 분석하여 상기 초점 조절 렌즈부의 초점을 조절하도록 제어하는 초점 제어부를 구비하는 초점 조절 부재와; 그리고상기 반사광의 스펙트럼을 수집하여 상기 시료의 내부 성분을 분석하는 분석 부재를 포함하는 분석 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 초점 제어부는 상기 시료의 내부 성분을 분석 시 상기 초점 조절 렌즈부에서 각각 상이한 초점으로 수집된 복수개의 상기 반사광의 분석 신호를 분석하여, 수신된 분석 신호 구간 중 중 가장 높은 분석 신호 구간을 검출하여 분석 신호 정보를 상기 초점 조절 렌즈부로 전달하여 초점을 조절하도록 상기 초점 조절 렌즈부를 제어하는 분석 장치
3 3
제2항에 있어서,상기 초점 조절 부재는 상기 반사광이 이동하는 경로에 위치하며 상기 분석 부재로 이동하는 상기 반사광 중 일부를 상기 광검출부로 반사시키는 제1 빔스플리터를 더 포함하는 분석 장치
4 4
제2항에 있어서, 상기 광 공급 부재는 상기 광원부에서 공급된 광을 필터하는 광필터부를 더 포함하며, 상기 빔스플리터는 상기 반사광이 이동하는 경로에 위치하며 상기 시료를 기준으로 상기 초점 조절부보다 더 멀리 위치하는 분석 장치
5 5
제2항에 있어서,상기 분석 부재는,상기 반사광 중 상기 시료의 성분 분석을 위한 광을 필터하는 신호 필터부와;상기 신호 필터부를 통과한 반사광이 통과하는 렌즈부와;상기 반사광의 스펙트럼을 수집하고 상기 시료의 내부 성분을 검출하는 검출부와; 그리고상기 검출부를 통해서 검출된 특정 스펙트럼을 공간적으로 분해하여 상기 시료 내부 성분을 파악하는 분석부를 포함하는 분석 장치
6 6
제2항에 있어서,상기 분석 장치는 상기 광 공급 부재, 상기 초점 조절 부재 그리고 상기 분석 부재를 지지하며, 이동시킬 수 있는 이동 부재를 더 포함하고,상기 이동 부재는,상기 광 공급 부재, 상기 초점 조절 부재 그리고 상기 분석 부재가 놓이는 지지부와;상기 지지부를 이동시킬 수 있는 구동부를 포함하는 분석 장치
7 7
제2항에 있어서,상기 초점 조절 렌즈부는 다초점 렌즈로 제공되는 분석 장치
8 8
제2항에 있어서,상기 광검출부는 포토 다이오드로 제공되는 분석 장치
9 9
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광원부에서 공급되는 광은 레이저 광이고, 상기 레이저 광은 고체 레이저, 기체 레이저 또는 다이오드 레이저 중 어느 하나로 제공되는 분석 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.