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8 펨토초 이하의 펄스폭을 갖는 출력광을 생성하는 펨토초 광펄스 발생기;상기 출력광에 기초하여 시료를 통과하는 여기광과 탐사광을 생성하고, 상기 여기광과 상기 탐사광이 전파되는 거리 차이를 생성하여 상기 시료에 대한 시간분해를 측정하는 광분리기; 및상기 탐사광을 일정한 파장 간격에 대응하는 주파수 성분으로 각각 분해하고 시료의 에너지 의존성 및 전자 에너지 구조 중 적어도 하나를 측정하는 광검출기를 포함하고,상기 광분리기는 상기 여기광의 일부를 분리하고 상기 시료에 상기 여기광을 조사하기 전후의 변화를 측정할 수 있는 기준광을 생성하고, 상기 광검출기는 상기 탐사광과 상기 기준광의 세기 차이를 선택적으로 증폭하여 상기 시료의 순간흡수율변화 및 상기 시료 내 격자진동의 시간 거동을 검출하는 펨토초 광펄스를 이용한 격자진동 검출 장치
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제1항에 있어서,상기 광검출기는 적어도 하나 이상의 광필터를 포함하고,상기 적어도 하나 이상의 광필터는 600nm이상 1100nm이하의 범위에서 일정한 간격으로 중심파장을 갖는펨토초 광펄스를 이용한 격자진동 검출 장치
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제1항에 있어서,상기 광검출기는 상기 탐사광의 상기 주파수 성분의 순간 투과율 또는 순간 흡수율 변화를 측정하고 격자진동 신호를 검출하고, 상기 격자진동 신호를 푸리에 변환하고 격자진동 주파수 스펙트럼을 추출하는펨토초 광펄스를 이용한 격자진동 검출 장치
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제5항에 있어서, 상기 광검출기는 상기 탐사광에 대응하는 시간지연이 영점인 경우에 상기 순간 투과율을 측정하고 규격화된 순간투과율로서 검출하는펨토초 광펄스를 이용한 격자진동 검출 장치
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8 펨토초 이하의 펄스폭을 가지는 출력광을 생성하는 펨토초 레이저;제1 처프 미러; 및상기 제1 처프 미러와 순차적으로 배치되고, 상기 출력광의 군지연(group delay) 효과를 상쇄하는 제2 처프 미러를 포함하고,상기 출력광에 기초하여 시료를 통과하는 여기광과 탐사광을 생성하고 상기 여기광과 상기 탐사광이 전파되는 거리 차이를 생성하여 상기 시료에 대한 시간분해를 측정하고, 상기 여기광의 일부를 분리하고, 상기 시료에 상기 여기광을 조사하기 전후의 변화를 측정할 수 있는 기준광을 생성하는 광분리기; 및상기 탐사광과 상기 기준광의 세기 차이를 선택적으로 증폭하여 상기 시료의 순간흡수율변화 및 상기 시료 내 격자진동의 시간 거동을 검출하는 광검출기를 더 포함하는 펨토초 광펄스 발생기
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제7항에 있어서,군속도 분산 보상기;를 더 포함하고,상기 펨토초 레이저는 티타늄 사파이어 레이저 매질을 포함하고, 상기 군속도 분산 보상기는 상기 티타늄 사파이어 레이저 매질과 동일한 크기의 양의 군속도 분산 값을 생성하고, 상기 제1 처프 미러 및 상기 제2 처프 미러는 상기 양의 군속도 분산 값의 크기에 대응하는 음의 군속도 분산 값을 생성하는펨토초 광펄스 발생기
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제8항에 있어서,상기 군속도 분산 보상기는 상기 출력광이 상기 펨토초 광펄스 발생기 내에서 획득하는 총 군속도의 값이 0의 값으로 수렴하도록 미세 조절 기능을 갖는펨토초 광펄스 발생기
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제8항에 있어서,상기 군속도 분산 보상기는 쐐기 형태를 갖고, 1,6mm 이상 1
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8 펨토초 이하의 펄스폭을 갖는 출력광을 생성하는 단계;상기 출력광에 기초하여 시료를 통과하는 여기광 및 탐사광을 생성하는 단계;상기 여기광에 기초하여 상기 시료에 상기 여기광을 조사하기 전후의 변화를 측정할 수 있는 기준광을 생성하는 단계;상기 여기광과 상기 탐사광이 전파되는 거리 차이를 생성하여 상기 시료에 대한 시간분해를 측정하는 단계;상기 탐사광을 일정한 파장 간격에 대응하는 주파수 성분 각각으로 분해하는 단계;상기 시료의 에너지 의존성 및 전자 에너지 구조 중 적어도 하나를 측정하는 단계; 및상기 탐사광과 상기 기준광의 미세한 세기 차이를 선택적으로 증폭하여 상기 시료의 순간흡수율변화 및 상기 시료 내 격자진동의 시간 거동을 검출하는 단계를 포함하는 펨토초 광펄스를 이용한 격자진동 검출 방법
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제11항에 있어서,상기 격자진동의 데이터를 푸리에 변환하고 상기 격자진동에 대응하는 주파수 스펙트럼을 추출하는 단계를 더 포함하는 펨토초 광펄스를 이용한 격자진동 검출 방법
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