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다중 레벨의 전하 저장이 가능한 반도체 소자

  • 기술번호 : KST2018014328
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 다중 레벨 또는 다중 비트의 정보를 저장하고, 읽기 동작이 수행될 수 있는 반도체 소자가 개시된다. 반도체 소자는 바이어스 인가부에서 인가되는 충전 전압에 따라 전하 저장부에 전자를 저장한다. 전하 저장부에 저장된 전자에 따른 정전기력에 의해 채널층 또는 도핑층들 사이의 이격공간의 저항은 변경된다. 이를 통해 아날로그 형태의 신호를 저장할 수 있으며, 출력 신호의 디지털 변경을 통해 멀디 비트의 정보를 프로세싱할 수 있다.
Int. CL H01L 27/108 (2006.01.01) H01L 29/739 (2006.01.01)
CPC H01L 27/10829(2013.01) H01L 27/10829(2013.01) H01L 27/10829(2013.01)
출원번호/일자 1020170048625 (2017.04.14)
출원인 포항공과대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1967525-0000 (2019.04.03)
공개번호/일자 10-2018-0115999 (2018.10.24) 문서열기
공고번호/일자 (20190409) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.04.14)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유인경 대한민국 경상북도 포항시 남구
2 김창현 대한민국 경기도 성남시 분당구
3 황현상 대한민국 대구광역시 수성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이상 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.04.14 수리 (Accepted) 1-1-2017-0368088-16
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.11.28 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.12.13 수리 (Accepted) 9-1-2017-0045989-50
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.03.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0161987-85
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.05.08 수리 (Accepted) 1-1-2018-0447356-79
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.05.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0447357-14
7 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2018.09.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0644373-13
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.10.30 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2018-1070643-60
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.10.30 수리 (Accepted) 1-1-2018-1070642-14
10 등록결정서
Decision to grant
2019.03.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0201454-24
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.20 수리 (Accepted) 4-1-2019-5243581-27
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5245997-53
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5247115-68
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
반도체 기판의 표면 상에 형성되고, 스위칭 동작을 통해 전하의 충방전 경로를 형성하는 전하 제어부;상기 전하 제어부에 연결되고, 상기 반도체 기판으로부터 함몰되어 형성되며, 전하의 충전 또는 방전을 통해 저항이 변경되는 전하 저장부; 및상기 전하 저장부를 중심으로 상기 전하 제어부에 대향하는 위치의 상기 반도체 기판 상에 형성되며, 스위칭 동작을 통해 상기 전하 저장부에 전하를 충전하기 위한 충전 전압을 인가하거나, 상기 변경된 저항에 따른 읽기 동작을 수행하기 위한 바이어스 인가부를 포함하고,상기 전하 저장부는,배선 라인을 통해 상기 전하 제어부와 연결되고, 상기 반도체 기판의 표면으로부터 내부로 함몰된 영역에 형성되며, 전하가 충전 또는 방전되는 전하 저장층;상기 전하 저장층의 측벽 및 저면을 따라 형성된 절연성의 전하 차단층;상기 반도체 기판의 표면으로부터 상기 전하 차단층의 측벽을 따라 형성되며, 고농도로 도핑되고, 상기 반도체 기판의 표면 상에 형성된 출력 단자에 연결된 출력 도핑층;상기 출력 도핑층에 대향하는 위치에 형성되고, 고농도로 도핑되며, 상기 바이어스 인가부와 연결된 입력 도핑층; 및상기 출력 도핑층과 상기 입력 도핑층에 연결되고, 상기 전하 차단층의 측벽 또는 하부 영역에 형성되어 상기 전하 저장층에서의 충전 또는 방전에 의해 저항이 변경되는 채널층을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
2 2
제1항에 있어서, 상기 전하 제어부는 상기 반도체 기판 상에 형성된 절연층;상기 절연층 상에 형성된 p-n 접합 구조를 가지는 박막 반도체층; 및상기 박막 반도체층 상 형성된 제어 게이트층을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
3 3
제2항에 있어서, 상기 박막 반도체층은상기 절연층 상에 형성된 n+의 고농도로 도핑된 제1 박막 도핑층, 상기 제1 박막 도핑층과 접하고, n-의 저농도로 도핑된 제2 박막 도핑층, 및 상기 제2 박막 도핑층과 접하고, p+의 고농도로 도핑된 제3 박막 도핑층을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
4 4
삭제
5 5
제3항에 있어서, 상기 바이어스 인가부는상기 반도체 기판 상에 형성된 바이어스 게이트층; 및상기 바이어스 게이트층의 측면 및 상기 반도체 기판의 표면으로부터 내부를 향해 형성된 바이어스 도핑층을 포함하고,상기 바이어스 인가부는 상기 입력 도핑층을 도핑 영역으로 공유하여 NMOS 트랜지스터 구조를 가지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
6 6
제5항에 있어서, 상기 바이어스 인가부는 턴온되고, 상기 제1 박막 도핑층은 접지되며, 상기 바이어스 도핑층에 충전 전압이 인가되어, 상기 박막 반도체층으로부터 상기 전하 저장층으로 전자가 이동하여 충전 동작이 수행되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
7 7
제6항에 있어서, 상기 충전 동작은 전자가 상기 전하 저장층에 저장되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
8 8
제7항에 있어서, 상기 충전 동작에 의해 상기 채널층의 저항은 감소하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
9 9
제5항에 있어서, 상기 전하 제어부는 턴온되고, 상기 제1 박막 도핑층에는 방전 전압이 인가되어 상기 전하 저장층의 전하가 상기 전하 제어부를 통해 방전되는 방전 동작이 수행되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
10 10
제9항에 있어서, 상기 방전 동작에 의해 상기 채널층의 저항은 증가하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
11 11
제5항에 있어서, 상기 바이어스 인가부는 턴온되고, 상기 바이어스 도핑층에는 읽기 전압이 인가되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
12 12
삭제
13 13
제3항에 있어서, 상기 바이어스 인가부는상기 반도체 기판 상에 형성된 제2 절연층;상기 제2 절연층 상에 형성된 제2 박막 반도체층; 및상기 제2 박막 반도체층 상에 형성된 바이어스 게이트층을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
14 14
제13항에 있어서, 상기 전하 저장부의 상기 입력 도핑층은 입력 컨택에 의해 상기 바이어스 인가부와 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
15 15
제14항에 있어서, 상기 제2 박막 반도체층은 상기 제2 절연층 상에 형성된 n+의 고농도로 도핑된 제4 박막 도핑층, 상기 제4 박막 도핑층과 접하고, n-의 저농도로 도핑된 제5 박막 도핑층, 및 상기 제5 박막 도핑층과 접하고, p+의 고농도로 도핑되며 상기 입력 컨택과 연결된 제6 박막 도핑층을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 포항공과대학교 산학협력단 미래유망융합기술파이오니어사업 뉴로모픽 (NEUROMORPHIC) 소자용 고집적 시냅스 소자 및 집적공정 개발