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위상광학 이미지 획득 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2018014658
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 위상광학 이미지 획득 장치는 물체에 의해 반사되어 입사되는 빛을 특정 각도의 편광 성분으로 필터링하는 선형 편광자, 상기 선형 편광자를 통과하여 입사되는 빛 중 일부를 구면파로 변환하는 구면 렌즈, 및 상기 구면 렌즈를 통과하여 입사되는 빛 중 일부를 픽셀 단위의 서로 다른 위상을 가지는 평면파로 변환하는 위상 천이기를 포함할 수 있다.
Int. CL G02B 5/32 (2006.01.01) G02B 30/00 (2020.01.01) G02B 5/30 (2006.01.01) G02B 3/00 (2006.01.01)
CPC G02B 5/32(2013.01) G02B 5/32(2013.01) G02B 5/32(2013.01) G02B 5/32(2013.01)
출원번호/일자 1020170053194 (2017.04.25)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0119428 (2018.11.02) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.02.12)
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이문섭 대한민국 대전광역시 유성구
2 민기현 대한민국 광주광역시 광산구
3 이병탁 대한민국 경기도 수원시 영통구
4 이세형 대한민국 광주광역시 광산구
5 이동수 대한민국 경기도 용인시 수지구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 팬코리아특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 역삼***빌딩 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.04.25 수리 (Accepted) 1-1-2017-0406134-11
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2020.02.12 수리 (Accepted) 1-1-2020-0149611-64
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번호 청구항
1 1
물체에 의해 반사되어 입사되는 빛을 특정 각도의 편광 성분으로 필터링하는 선형 편광자, 상기 선형 편광자를 통과하여 입사되는 빛 중 일부를 구면파로 변환하는 구면 렌즈, 및상기 구면 렌즈를 통과하여 입사되는 빛 중 일부를 픽셀 단위의 서로 다른 위상을 가지는 평면파로 변환하는 위상 천이기를 포함하는 위상광학 이미지 획득 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 위상 천이기를 통과하여 간섭되는 상기 구면파 및 상기 평면파의 간섭 광을 촬상하여, 상기 물체의 위상광학 이미지를 획득하는 카메라를 더 포함하는 이미지 획득 장치
3 3
제1항에 있어서, 상기 물체와 상기 선형 편광자 사이에 배치되며, 상기 물체에 의해 반사되어 입사되는 빛을 평면파로 변환하는 초점 렌즈를 더 포함하는 위상광학 이미지 획득 장치
4 4
제1항에 있어서, 상기 물체에 빛을 조사하는 광원을 더 포함하는 위상광학 이미지 획득 장치
5 5
제4항에 있어서, 상기 광원은 가간섭성 광원인 위상광학 이미지 획득 장치
6 6
제1항에 있어서, 상기 광원은 비간섭성 광원인 위상광학 이미지 획득 장치
7 7
제1항에 있어서, 상기 선형 편광자는 45도 선형 편광자인 위상광학 이미지 획득 장치
8 8
제7항에 있어서, 상기 선형 편광자를 통과한 빛은 TM 모드(Transverse Magnetic mode)(X축) 편광 성분과 TM 모드(Y축) 편광 성분을 포함하며, 상기 구면 렌즈는 입사되는 빛 중 상기 TM 모드(X축) 성분을 가지는 빛을 구면파로 변환하여 투과시키는 위상광학 이미지 획득 장치
9 9
제8항에 있어서, 상기 위상 천이기는 입사되는 빛 중 TM 모드(Y축) 편광 성분을 가지는 빛을 위상 천이하는 위상광학 이미지 획득 장치
10 10
제9항에 있어서, 상기 위상 천이기는, 수동 소자로 이루어지는 이미지 획득 장치
11 11
물체에 의해 반사되어 입사되는 빛을 제1 경로 및 제2 경로로 분배하여 진행시키는 빔 스플리터, 상기 빔 스플리터에 의해 상기 제1 경로로 진행된 빛 중 적외선 영역의 빛만 통과시키는 적외선 필터, 상기 적외선 필터를 통과한 빛을 특정 각도의 편광 성분으로 필터링하는 선형 편광자, 상기 선형 편광자를 통과하여 입사되는 빛 중 일부를 구면파로 변환하는 구면 렌즈,상기 구면 렌즈를 통과하여 입사되는 빛 중 일부를 픽셀 단위의 서로 다른 위상을 가지는 평면파로 변환하는 위상 천이기, 상기 위상 천이기를 통과하여 간섭되는 상기 구면파 및 상기 평면파의 간섭 광을 촬상하여, 상기 물체의 흑백 위상광학 이미지를 획득하는 제1 카메라, 및상기 빔 스플리터에 의해 상기 제2 경로로 진행된 빛을 촬상하여 컬러 이미지를 획득하는 제2 카메라를 포함하는 위상광학 이미지 획득 장치
12 12
제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 카메라를 통해 촬상된 상기 흑백 위상광학 이미지 및 상기 컬러 이미지를 합성하여 컬러 위상광학 이미지를 획득하는 영상 합성기를 더 포함하는 위상광학 이미지 획득 장치
13 13
제11항에 있어서, 상기 물체와 상기 빔 스플리터 사이에 배치되며, 상기 물체에 의해 반사되어 입사되는 빛을 평면파로 변환하는 초점 렌즈를 더 포함하는 위상광학 이미지 획득 장치
14 14
제11항에 있어서, 상기 물체에 빛을 조사하는 광원을 더 포함하는 위상광학 이미지 획득 장치
15 15
제11항에 있어서, 상기 선형 편광자는 45도 선형 편광자인 위상광학 이미지 획득 장치
16 16
제15항에 있어서, 상기 선형 편광자를 통과한 빛은 TM 모드(X축) 편광 성분과 TM 모드(Y축) 편광 성분을 포함하며, 상기 구면 렌즈는 입사되는 빛 중 상기 TM 모드(X축) 성분을 가지는 빛을 구면파로 변환하여 투과시키는 위상광학 이미지 획득 장치
17 17
제16항에 있어서, 상기 위상 천이기는 입사되는 빛 중 TM 모드(Y축) 편광 성분을 가지는 빛을 위상 천이하는 위상광학 이미지 획득 장치
18 18
제17항에 있어서, 상기 위상 천이기는, 수동 소자로 이루어지는 이미지 획득 장치
지정국 정보가 없습니다
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1 US20180307181 US 미국 FAMILY

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1 US2018307181 US 미국 DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국전자통신연구원 한국전자통신연구원연구운영비지원 지역광부품 고도화를 위한 광융합 기술개발