1 |
1
물체에 의해 반사되어 입사되는 빛을 특정 각도의 편광 성분으로 필터링하는 선형 편광자, 상기 선형 편광자를 통과하여 입사되는 빛 중 일부를 구면파로 변환하는 구면 렌즈, 및상기 구면 렌즈를 통과하여 입사되는 빛 중 일부를 픽셀 단위의 서로 다른 위상을 가지는 평면파로 변환하는 위상 천이기를 포함하는 위상광학 이미지 획득 장치
|
2 |
2
제1항에 있어서, 상기 위상 천이기를 통과하여 간섭되는 상기 구면파 및 상기 평면파의 간섭 광을 촬상하여, 상기 물체의 위상광학 이미지를 획득하는 카메라를 더 포함하는 이미지 획득 장치
|
3 |
3
제1항에 있어서, 상기 물체와 상기 선형 편광자 사이에 배치되며, 상기 물체에 의해 반사되어 입사되는 빛을 평면파로 변환하는 초점 렌즈를 더 포함하는 위상광학 이미지 획득 장치
|
4 |
4
제1항에 있어서, 상기 물체에 빛을 조사하는 광원을 더 포함하는 위상광학 이미지 획득 장치
|
5 |
5
제4항에 있어서, 상기 광원은 가간섭성 광원인 위상광학 이미지 획득 장치
|
6 |
6
제1항에 있어서, 상기 광원은 비간섭성 광원인 위상광학 이미지 획득 장치
|
7 |
7
제1항에 있어서, 상기 선형 편광자는 45도 선형 편광자인 위상광학 이미지 획득 장치
|
8 |
8
제7항에 있어서, 상기 선형 편광자를 통과한 빛은 TM 모드(Transverse Magnetic mode)(X축) 편광 성분과 TM 모드(Y축) 편광 성분을 포함하며, 상기 구면 렌즈는 입사되는 빛 중 상기 TM 모드(X축) 성분을 가지는 빛을 구면파로 변환하여 투과시키는 위상광학 이미지 획득 장치
|
9 |
9
제8항에 있어서, 상기 위상 천이기는 입사되는 빛 중 TM 모드(Y축) 편광 성분을 가지는 빛을 위상 천이하는 위상광학 이미지 획득 장치
|
10 |
10
제9항에 있어서, 상기 위상 천이기는, 수동 소자로 이루어지는 이미지 획득 장치
|
11 |
11
물체에 의해 반사되어 입사되는 빛을 제1 경로 및 제2 경로로 분배하여 진행시키는 빔 스플리터, 상기 빔 스플리터에 의해 상기 제1 경로로 진행된 빛 중 적외선 영역의 빛만 통과시키는 적외선 필터, 상기 적외선 필터를 통과한 빛을 특정 각도의 편광 성분으로 필터링하는 선형 편광자, 상기 선형 편광자를 통과하여 입사되는 빛 중 일부를 구면파로 변환하는 구면 렌즈,상기 구면 렌즈를 통과하여 입사되는 빛 중 일부를 픽셀 단위의 서로 다른 위상을 가지는 평면파로 변환하는 위상 천이기, 상기 위상 천이기를 통과하여 간섭되는 상기 구면파 및 상기 평면파의 간섭 광을 촬상하여, 상기 물체의 흑백 위상광학 이미지를 획득하는 제1 카메라, 및상기 빔 스플리터에 의해 상기 제2 경로로 진행된 빛을 촬상하여 컬러 이미지를 획득하는 제2 카메라를 포함하는 위상광학 이미지 획득 장치
|
12 |
12
제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 카메라를 통해 촬상된 상기 흑백 위상광학 이미지 및 상기 컬러 이미지를 합성하여 컬러 위상광학 이미지를 획득하는 영상 합성기를 더 포함하는 위상광학 이미지 획득 장치
|
13 |
13
제11항에 있어서, 상기 물체와 상기 빔 스플리터 사이에 배치되며, 상기 물체에 의해 반사되어 입사되는 빛을 평면파로 변환하는 초점 렌즈를 더 포함하는 위상광학 이미지 획득 장치
|
14 |
14
제11항에 있어서, 상기 물체에 빛을 조사하는 광원을 더 포함하는 위상광학 이미지 획득 장치
|
15 |
15
제11항에 있어서, 상기 선형 편광자는 45도 선형 편광자인 위상광학 이미지 획득 장치
|
16 |
16
제15항에 있어서, 상기 선형 편광자를 통과한 빛은 TM 모드(X축) 편광 성분과 TM 모드(Y축) 편광 성분을 포함하며, 상기 구면 렌즈는 입사되는 빛 중 상기 TM 모드(X축) 성분을 가지는 빛을 구면파로 변환하여 투과시키는 위상광학 이미지 획득 장치
|
17 |
17
제16항에 있어서, 상기 위상 천이기는 입사되는 빛 중 TM 모드(Y축) 편광 성분을 가지는 빛을 위상 천이하는 위상광학 이미지 획득 장치
|
18 |
18
제17항에 있어서, 상기 위상 천이기는, 수동 소자로 이루어지는 이미지 획득 장치
|