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정적 변환 방식의 푸리에 변환 분광 시스템

  • 기술번호 : KST2018016123
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 열전도도 측정에 관한 장치 및 이를 이용해서 열전도도를 측정하는 방법에 관한 것이다. RTD 센서를 이용하고 진공챔버 내에서 측정함으로써 상세하게는 초박형 시트 타입도 열전도도를 측정할 수 있다.
Int. CL G01N 21/3504 (2014.01.01) G01N 21/88 (2006.01.01) G01N 21/94 (2006.01.01) G01N 21/35 (2014.01.01) G01J 9/02 (2006.01.01)
CPC G01N 21/3504(2013.01) G01N 21/3504(2013.01) G01N 21/3504(2013.01) G01N 21/3504(2013.01) G01N 21/3504(2013.01)
출원번호/일자 1020170066939 (2017.05.30)
출원인 한서대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1972883-0000 (2019.04.22)
공개번호/일자 10-2018-0130836 (2018.12.10) 문서열기
공고번호/일자 (20190426) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.05.30)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한서대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 서산시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 장원권 대한민국 경기도 의왕시 포일세거리로 *
2 조주용 대한민국 충청남도 서산시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인아이엠 대한민국 서울특별시 강남구 봉은사로 ***, ***호 (역삼동, 혜전빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한서대학교 산학협력단 충청남도 서산시
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.05.30 수리 (Accepted) 1-1-2017-0516308-50
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.05.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.07.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2018-0129494-16
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.10.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0730635-10
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.12.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-1310937-41
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2018-1310936-06
7 등록결정서
Decision to grant
2019.04.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0253381-42
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광이나 레이저의 빔을 수신하는 집광부, 수신된 빔을 분할하는 빔 스플리터, 상기 빔 스플리터에 의해 분할된 각각의 빔을 반사하는 반사부, 및 디텍터를 포함하는 푸리에 변환 분광기를 이용한 측정 방법에 있어서,상기 빔 스플리터는 빔을 두 개로 직각 분할하고, 그리고 광원이 시료에 조명되거나 반사되어 상기 시료에 대한 정보를 가진 빔을 간섭계를 거쳐서 디텍터에서 검출되면 이를 미리 저장된 광원의 정보와 비교하여 데이터 처리를 통해서 스펙트럼을 생성하며, 그리고상기 푸리에 변환 분광기를 통해서 시료에 대한 정보를 가진 신호와 광원에 대한 정보를 가진 신호 모두를 배정도하는 단계;상기 두 신호들 모두의 왜곡된 신호를 제거하는 단계;각각의 배정도에 Apodization 함수를 적용시키는 단계;푸리에 변환을 수행하는 단계;각각의 신호의 위상을 보정하는 단계; 및두 신호를 비교하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 정적 변환 방식의 푸리에 변환 분광 측정 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 왜곡된 신호를 제거하는 단계는 사이드 컷(Side Cut)하는 단계로서, 어레이 아웃(array out) 및 어레이 다운(array down)으로서 Apodization 함수, 또는 수퍼픽셀(superpixel) 수행 알고리즘, 또는 문턱조건(threshold condition)에 의해 수행되며,상기 사이드 컷 단계를 거친 신호가 2차원 신호인 경우, 1차원 신호로 변경하는 단계;Apodization 함수는 Boxcar, Triangular, Gaussian, Happ-Genzel 중 어느 하나의 함수로 사용되며, 그리고푸리에 변환은 빠른 푸리에 변환(Fast Fourier Transform, FFT)을 사용하는 것,을 특징으로 하는 정적 변환 방식의 푸리에 변환 분광 측정 방법
3 3
제1항에 있어서,상기 빔 스플리터는 빔을 두 개로 분할하며, 그리고 상기 반사부는 계단형 반사부로서 상기 분리된 빔들은 계단형 반사부에서 반사되며, 상기 반사부가 이동하지 않는 것을 특징으로 하는 정적 변환 방식의 푸리에 변환 분광 측정 방법
4 4
제3항에 있어서,상기 반사부는 서로 다른 크기를 가지며, 그리고 상기 반사부 중 어느 하나의 앞에는 광 경로의 보상을 위한 보상 플레이트가 추가되는 것을 특징으로 하는 정적 변환 방식의 푸리에 변환 분광 측정 방법
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제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 푸리에 변환 분광기는수광되는 광을 평행광으로 만들기 위하여 포함되며 그리고 광 경로상 빔 스플리터 앞에 배치되는 편광자 또는 조리개 및 편광자;디텍터에 빔을 집속하기 위해 배치되는 집속 플레이트; 및 디텍터 앞에 배치되는 패스밴드 필터(Passband filter);를하나 이상 포함하는 것,을 특징으로 하는 정적 변환 방식의 푸리에 변환 분광 측정 방법
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삭제
7 7
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한서대학교 산학협력단 우주핵심기술개발사업 인공 위성 탑재를 위한 원격 및 정적 변환 방식의 푸리에 변환 분광 기술 연구