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제1 병렬 데이터를 제1 직렬 데이터로 변환하고, 상기 제1 직렬 데이터를 출력 포트를 통해서 송신하는 송신기;입력 포트를 통해서 제2 직렬 데이터를 수신하고, 상기 제2 직렬 데이터를 제2 병렬 데이터로 변환하는 수신기;적어도 하나의 테스트 제어 신호를 생성하는 테스트 컨트롤러; 및테스트 모드에서, 상기 출력 포트 및 상기 입력 포트 사이에서 상기 적어도 하나의 테스트 제어 신호에 기초하여 채널 모델을 포함하는 외부 루프백(loopback) 경로를 형성하는 내장형 외부 루프백 회로를 포함하는 직렬 통신 인터페이스 회로
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제1항에 있어서,상기 내장형 외부 루프백 회로는,상기 출력 포트에 연결되고, 상기 테스트 모드에서 턴-온 되는 제1 격리 스위치;상기 입력 포트에 연결되고, 상기 테스트 모드에서 턴-온 되는 제2 격리 스위치; 및상기 제1 및 제2 격리 스위치와 연결되고, 상기 채널 모델을 제공하는 채널 모델 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 직렬 통신 인터페이스 회로
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제2항에 있어서,상기 채널 모델 회로는, 상기 적어도 하나의 테스트 제어 신호에 기초하여 복수의 채널 모델들 중 하나를 제공하는 것을 특징으로 하는 직렬 통신 인터페이스 회로
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제2항에 있어서,상기 채널 모델 회로는,복수의 수동 소자들; 및상기 복수의 수동 소자들의 일단들에 각각 연결된 복수의 스위치들을 포함하고,상기 복수의 스위치들 각각은, 상기 적어도 하나의 테스트 제어 신호에 따라 자신에 연결된 수동 소자를 상기 외부 루프백 경로에 포함시키거나 제외시키는 것을 특징으로 하는 직렬 통신 인터페이스 회로
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제4항에 있어서,상기 복수의 수동 소자들은, 상기 외부 루프백 경로에 병렬 연결된 적어도 하나의 저항을 포함하는 것을 특징으로 하는 직렬 통신 인터페이스 회로
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제4항에 있어서,상기 복수의 수동 소자들은, 상기 외부 루프백 경로 및 접지 사이에 연결된 적어도 하나의 캐패시터를 포함하는 것을 특징으로 하는 직렬 통신 인터페이스 회로
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제1항에 있어서,상기 테스트 모드에서, 테스트 패턴에 기초해 상기 제1 병렬 데이터를 생성하여 상기 송신기에 제공하는 패턴 생성기; 및상기 테스트 모드에서, 상기 테스트 패턴에 기초해 생성된 상기 제1 병렬 데이터 및 상기 제2 병렬 데이터를 비교함으로써 테스트 결과 신호를 생성하는 패턴 비교기를 더 포함하는 직렬 통신 인터페이스 회로
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제1항에 있어서,상기 출력 포트는 차동 출력 포트이고,상기 송신기는 상기 제1 직렬 데이터를 상기 차동 출력 포트를 통해서 차동 신호로 출력하는 드라이버를 포함하고,상기 입력 포트는 차동 입력 포트이고,상기 수신기는 상기 제2 직렬 데이터를 상기 차동 입력 포트를 통해서 차동 신호로 입력받는 수신 아날로그 프론트 엔드를 포함하고,상기 내장형 외부 루프백 회로는, 차동 신호의 양 신호라인들에 대칭적인 구조의 채널 모델을 포함하는 외부 루프백 경로를 형성하는 것을 특징으로 하는 직렬 통신 인터페이스 회로
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적어도 하나의 직렬 통신 인터페이스 회로; 및상기 적어도 하나의 직렬 통신 인터페이스 회로의 직렬 통신 요건(requirement)에 따라 상기 적어도 하나의 직렬 통신 인터페이스 회로를 테스트하기 위해 상기 적어도 하나의 직렬 통신 인터페이스 회로에 테스트 설정 신호를 제공하는 컨트롤러를 포함하고,상기 적어도 하나의 직렬 통신 인터페이스 회로는,제1 직렬 데이터를 출력하는 출력 포트;제2 직렬 데이터를 수신하는 입력 포트;상기 테스트 설정 신호에 응답하여 적어도 하나의 테스트 제어 신호를 생성하는 테스트 컨트롤러; 및테스트 모드에서, 상기 출력 포트 및 상기 입력 포트 사이에서 상기 적어도 하나의 테스트 제어 신호에 기초하여 채널 모델을 포함하는 외부 루프백 경로를 형성하는 내장형 외부 루프백 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 장치
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제9항에 있어서,상기 내장형 외부 루프백 회로는,상기 출력 포트에 연결되고, 상기 테스트 모드에서 턴-온 되는 제1 격리 스위치;상기 입력 포트에 연결되고, 상기 테스트 모드에서 턴-온 되는 제2 격리 스위치; 및상기 제1 및 제2 격리 스위치와 연결되고 상기 채널 모델을 제공하는 채널 모델 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 장치
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