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공장정보 관리장치가, 공장정보를 입력받는 단계;공장정보 관리장치가, 맵핑 알고리즘을 이용하여 입력된 공장정보로부터 공장용 온톨로지를 생성하는 단계; 및공장정보 관리장치가, 생성된 공장용 온톨로지를 이용하여 공장 검색 UI(User Interface)를 생성하는 단계;를 포함하고,공장용 온톨로지는,에셋(asset), 캐퍼빌리티(capability), 프로퍼티(Property), 및 측정단위(Unit of Measure)를 포함하며, 에셋(asset)은 공장의 일부분에 해당되는 자산 또는 공장 자체를 나타내는 정보이고, 캐퍼빌리티(capability)는 에셋에 대응되는 공장 자체 또는 공장 자산의 능력이나 기능을 나타내는 정보이며, 프로퍼티(property)는 캐퍼빌리티와 연관된 성능이나 능력의 기준을 표시하기 위해 필요한 속성값이나 능력치를 나타내는 정보이고,측정단위(Unit of Measure)는 프로퍼티의 속성 값에 적용되는 단위를 나타내는 정보이며, 온톨로지 생성단계는,맵핑 알고리즘을 이용하여 AML 기반 모델링 파일로부터 캐퍼빌리티와 연관된 정보를 추출하여 공장용 온톨로지를 생성하고, 맵핑 알고리즘은,공장정보 관리장치가, AML 기반 모델링 파일의 롤 클래스 라이브러리에서 생성된 캐퍼빌리티 롤 클래스가 존재하는 경우, 해당 캐퍼빌리티 롤 클래스의 명칭을 공장용 온톨로지의 캐퍼빌리티에 맵핑시키는 단계;공장정보 관리장치가, AML 기반 모델링 파일의 해당 캐퍼빌리티 롤 클래스에 애트리뷰트(attribute)가 포함되어 있는 경우, 해당 애트리뷰트를 공장용 온톨로지의 프로퍼티와 맵핑시키고, 해당 애트리뷰트의 값(value)를 해당 프로퍼티의 값(value)에 맵핑시키는 단계; 및 공장정보 관리장치가, AML 기반 모델링 파일의 해당 캐퍼빌리티 롤 클래스에 애트리뷰트 단위(unit of attribute)가 포함되어 있는 경우, 해당 애트리뷰트 단위를 공장용 온톨로지의 측정 단위(Unit of Measure)와 맵핑시키는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 공장정보 관리방법
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청구항 1에 있어서, 입력단계는, AML(Automation Markup Language) 기반 모델링 파일의 업로드를 통해 공장 정보를 입력받는 것을 특징으로 하는 공장정보 관리방법
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청구항 2에 있어서, AML 기반 모델링 파일은, 인스턴스 계층(Instance Hierarchy), 시스템 유닛 클래스(System Unit Classes), 롤 클래스 라이브러리(Role Class Library), 및 인터페이스 클래스 라이브러리(Interface Class Library)를 포함하는 것을 특징으로 하는 공장정보 관리방법
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청구항 3에 있어서,공장 검색 UI 생성단계는,공장용 온톨로지의 에셋(asset), 캐퍼빌리티(capability), 프로퍼티(Property), 및 측정단위(Unit of Measure) 중 적어도 하나를 선택할 수 있는 공장 검색 UI를 생성하는 것을 특징으로 하는 공장정보 관리방법
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청구항 1에 있어서, 공장정보 관리장치가, 단어 또는 문장으로 구성된 시맨틱 검색어에 의한 시맨틱 검색 요청이 입력된 경우, 공장용 온톨로지를 이용하여 시맨틱 검색 요청에 대응되는 공장 리스트를 검색하는 단계; 및공장정보 관리장치가, 검색된 공장 리스트에 포함된 공장들에 시맨틱 검색어를 포함하는 메시지를 자동 생성하여 전송하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 공장정보 관리방법
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청구항 1에 있어서, 공장정보 관리장치가, 지도상에 공장 아이콘을 표시하는 단계;공장정보 관리장치가, 공장 아이콘이 선택되면 공장용 온톨로지를 이용하여 해당 공장 아이콘에 대응되는 공장의 정보를 표시하는 단계; 및공장정보 관리장치가, 선택된 공장과 적어도 하나의 동일한 캐퍼빌리티(capability)를 포함하는 공장 리스트를 표시하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 공장정보 관리방법
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공장정보를 입력받는 단계;맵핑 알고리즘을 이용하여 입력된 공장정보로부터 공장용 온톨로지를 생성하는 단계; 및생성된 공장용 온톨로지를 이용하여 공장 검색 UI(User Interface)를 생성하는 단계;를 포함하고,공장용 온톨로지는,에셋(asset), 캐퍼빌리티(capability), 프로퍼티(Property), 및 측정단위(Unit of Measure)를 포함하며, 에셋(asset)은 공장의 일부분에 해당되는 자산 또는 공장 자체를 나타내는 정보이고, 캐퍼빌리티(capability)는 에셋에 대응되는 공장 자체 또는 공장 자산의 능력이나 기능을 나타내는 정보이며, 프로퍼티(property)는 캐퍼빌리티와 연관된 성능이나 능력의 기준을 표시하기 위해 필요한 속성값이나 능력치를 나타내는 정보이고,측정단위(Unit of Measure)는 프로퍼티의 속성 값에 적용되는 단위를 나타내는 정보이며, 온톨로지 생성단계는,맵핑 알고리즘을 이용하여 AML 기반 모델링 파일로부터 캐퍼빌리티와 연관된 정보를 추출하여 공장용 온톨로지를 생성하고, 맵핑 알고리즘은,공장정보 관리장치가, AML 기반 모델링 파일의 롤 클래스 라이브러리에서 생성된 캐퍼빌리티 롤 클래스가 존재하는 경우, 해당 캐퍼빌리티 롤 클래스의 명칭을 공장용 온톨로지의 캐퍼빌리티에 맵핑시키는 단계;공장정보 관리장치가, AML 기반 모델링 파일의 해당 캐퍼빌리티 롤 클래스에 애트리뷰트(attribute)가 포함되어 있는 경우, 해당 애트리뷰트를 공장용 온톨로지의 프로퍼티와 맵핑시키고, 해당 애트리뷰트의 값(value)를 해당 프로퍼티의 값(value)에 맵핑시키는 단계; 및 공장정보 관리장치가, AML 기반 모델링 파일의 해당 캐퍼빌리티 롤 클래스에 애트리뷰트 단위(unit of attribute)가 포함되어 있는 경우, 해당 애트리뷰트 단위를 공장용 온톨로지의 측정 단위(Unit of Measure)와 맵핑시키는 단계;를 포함하는인 것을 특징으로 하는 공장정보 관리방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램이 수록된 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체
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공장정보를 입력받는 입력부; 및맵핑 알고리즘을 이용하여 입력된 공장정보로부터 공장용 온톨로지를 생성하고, 생성된 공장용 온톨로지를 이용하여 공장 검색 UI(User Interface)를 생성하는 제어부;를 포함하고,공장용 온톨로지는,에셋(asset), 캐퍼빌리티(capability), 프로퍼티(Property), 및 측정단위(Unit of Measure)를 포함하며, 에셋(asset)은 공장의 일부분에 해당되는 자산 또는 공장 자체를 나타내는 정보이고, 캐퍼빌리티(capability)는 에셋에 대응되는 공장 자체 또는 공장 자산의 능력이나 기능을 나타내는 정보이며, 프로퍼티(property)는 캐퍼빌리티와 연관된 성능이나 능력의 기준을 표시하기 위해 필요한 속성값이나 능력치를 나타내는 정보이고,측정단위(Unit of Measure)는 프로퍼티의 속성 값에 적용되는 단위를 나타내는 정보이며, 제어부는,맵핑 알고리즘을 이용하여 AML 기반 모델링 파일로부터 캐퍼빌리티와 연관된 정보를 추출하여 공장용 온톨로지를 생성하고, 맵핑 알고리즘은,공장정보 관리장치가, AML 기반 모델링 파일의 롤 클래스 라이브러리에서 생성된 캐퍼빌리티 롤 클래스가 존재하는 경우, 해당 캐퍼빌리티 롤 클래스의 명칭을 공장용 온톨로지의 캐퍼빌리티에 맵핑시키는 단계;공장정보 관리장치가, AML 기반 모델링 파일의 해당 캐퍼빌리티 롤 클래스에 애트리뷰트(attribute)가 포함되어 있는 경우, 해당 애트리뷰트를 공장용 온톨로지의 프로퍼티와 맵핑시키고, 해당 애트리뷰트의 값(value)를 해당 프로퍼티의 값(value)에 맵핑시키는 단계; 및 공장정보 관리장치가, AML 기반 모델링 파일의 해당 캐퍼빌리티 롤 클래스에 애트리뷰트 단위(unit of attribute)가 포함되어 있는 경우, 해당 애트리뷰트 단위를 공장용 온톨로지의 측정 단위(Unit of Measure)와 맵핑시키는 단계;를 포함하는인 것을 특징으로 하는 공장정보 관리장치
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공장정보 관리장치가, AML(Automation Markup Language) 기반 모델링 파일의 업로드 또는 사용자의 입력에 의해 공장정보를 입력받는 단계; 및공장정보 관리장치가, 맵핑 알고리즘을 이용하여 입력된 공장정보로부터 공장용 온톨로지를 생성하는 단계;를 포함하고,공장용 온톨로지는,에셋(asset), 캐퍼빌리티(capability), 프로퍼티(Property), 및 측정단위(Unit of Measure)를 포함하며, 에셋(asset)은 공장의 일부분에 해당되는 자산 또는 공장 자체를 나타내는 정보이고, 캐퍼빌리티(capability)는 에셋에 대응되는 공장 자체 또는 공장 자산의 능력이나 기능을 나타내는 정보이며, 프로퍼티(property)는 캐퍼빌리티와 연관된 성능이나 능력의 기준을 표시하기 위해 필요한 속성값이나 능력치를 나타내는 정보이고,측정단위(Unit of Measure)는 프로퍼티의 속성 값에 적용되는 단위를 나타내는 정보이며, 온톨로지 생성단계는,맵핑 알고리즘을 이용하여 AML 기반 모델링 파일로부터 캐퍼빌리티와 연관된 정보를 추출하여 공장용 온톨로지를 생성하고, 맵핑 알고리즘은,공장정보 관리장치가, AML 기반 모델링 파일의 롤 클래스 라이브러리에서 생성된 캐퍼빌리티 롤 클래스가 존재하는 경우, 해당 캐퍼빌리티 롤 클래스의 명칭을 공장용 온톨로지의 캐퍼빌리티에 맵핑시키는 단계;공장정보 관리장치가, AML 기반 모델링 파일의 해당 캐퍼빌리티 롤 클래스에 애트리뷰트(attribute)가 포함되어 있는 경우, 해당 애트리뷰트를 공장용 온톨로지의 프로퍼티와 맵핑시키고, 해당 애트리뷰트의 값(value)를 해당 프로퍼티의 값(value)에 맵핑시키는 단계; 및 공장정보 관리장치가, AML 기반 모델링 파일의 해당 캐퍼빌리티 롤 클래스에 애트리뷰트 단위(unit of attribute)가 포함되어 있는 경우, 해당 애트리뷰트 단위를 공장용 온톨로지의 측정 단위(Unit of Measure)와 맵핑시키는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 공장정보 관리방법
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