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자동 테스트 장비에서 홀센서 다중 병렬 테스트 방법

  • 기술번호 : KST2019000221
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 자동 테스트 장비에서 홀센서 다중 병렬 테스트 방법이 제공된다. 본 발명의 실시예에 따른 센서 자동 테스트 시스템은, 테스트할 다수의 센서들이 설치되는 보드, 다수의 센서들에서 출력되는 센서 값들에 대해, 다수의 센서들이 설치된 위치들에 따른 오류들을 각각 보정하는 다수의 보정부들 및 보정부들에서 출력되는 보정된 센서 값들을 측정하는 미터를 포함한다. 이에 의해, 자동 테스트 장비로 동시에 병렬로 측정/테스트하는 홀센서들의 센서 값들을 테스트 보드 상에서의 설치 위치에 따라 보정하여, 설치 위치에 상관 없이 홀센서들의 테스트 결과를 정확하게 산출할 수 있다.
Int. CL G01R 33/00 (2006.01.01) G01R 35/00 (2006.01.01) G01R 31/28 (2006.01.01)
CPC G01R 33/0023(2013.01) G01R 33/0023(2013.01) G01R 33/0023(2013.01)
출원번호/일자 1020170089457 (2017.07.14)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0007866 (2019.01.23) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 장진모 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 차철웅 대한민국 서울특별시 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남충우 대한민국 서울 강남구 언주로 ***, *층(역삼동, 광진빌딩)(알렉스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.07.14 수리 (Accepted) 1-1-2017-0674336-90
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
테스트할 다수의 센서들이 설치되는 보드;다수의 센서들에서 출력되는 센서 값들에 대해, 다수의 센서들이 설치된 위치들에 따른 오류들을 각각 보정하는 다수의 보정부들; 및보정부들에서 출력되는 보정된 센서 값들을 측정하는 미터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 시스템
2 2
청구항 1에 있어서,센서들에 인가할 물리량을 발생시키는 발생장치;를 더 포함하고,다수의 센서들이 설치된 위치들에 따른 오류들은,발생장치로부터의 다수의 센서들의 거리들과 방향들의 차이들에 의해 발생하는 오류들인 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 시스템
3 3
청구항 2에 있어서,다수의 센서들 각각에 대한 보정 값들을 저장하고 있는 메모리;를 더 포함하고,보정부들은,메모리에 저장된 보정 값들을 이용하여, 센서 값들을 보정하는 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 시스템
4 4
청구항 3에 있어서,보정 값들은,기준 센서가 기준 위치에 설치된 경우에 출력하는 출력 값과 해당 위치에 설치된 경우에 출력하는 출력 값의 차인 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 시스템
5 5
청구항 3에 있어서,센서들의 개수는,테스트에 따라 가변되는 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 시스템
6 6
청구항 3에 있어서,발생장치의 위치가 변경되면, 메모리에 저장된 보정 값들도 변경되는 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 시스템
7 7
청구항 1에 있어서,센서들은 홀센서들인 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 시스템
8 8
보드에 설치된 테스트할 다수의 센서들에서 출력되는 센서 값들에 대해, 다수의 센서들이 설치된 위치들에 따른 오류들을 각각 보정하는 단계; 및보정된 센서 값들을 측정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 전자부품연구원 센서산업고도화전문기술개발사업 사물인터넷/스마트공장/안전산업 수요대응 첨단센서 활성화를 위한 고신뢰/지능화/공정 기술 개발