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저선량 방사선의 검출에 사용하는 광전자 증배관을 구비한 NaI(Tl) 섬광 검출기와 중·고선량 방사선 검출에 사용하는 GM tube를 구비하는 검출부;상기 NaI(Tl) 섬광 검출기에 300V 이상 1000V 이하의 전압을 공급하는 저선량 고전압 발생기와 상기 GM tube에 350V 이상 650V 이하의 전압을 공급하는 중·고선량 고전압 발생기를 구비하고, 발생하는 고전압 값을 변경할 수 있는 고전압 발생부;상기 NaI(Tl) 섬광 검출기의 출력 신호를 입력받아 증폭하여 디지털 펄스 신호로 전달하는 저선량 아날로그 전처리기와 상기 GM tube의 출력 신호를 입력받아 로직 레벨에 맞도록 줄여주고 노이즈의 영향을 받지 않도록 바이어스를 잡아주는 전처리 필터모듈을 구비한 중·고선량 아날로그 전처리기를 구비하는 아날로그 전처리부; 및상기 고전압 발생부를 제어하고, 상기 아날로그 전처리부를 통과한 디지털 펄스를 카운팅하여 측정된 방사선의 수를 계수하여 방사선량을 판정하는 제어부;를 포함하며,상기 제어부는, 방사선량이 100 μSv/h 이하로 측정되는 경우 상기 NaI(Tl) 섬광 검출기에 고전압을 인가하여 가동시키고, 방사선량이 10 μSv/h 이하로 측정되는 경우 상기 GM tube에 인가된 고전압을 차단하여 가동을 중지시키는 것을 특징으로 하는 광역 방사선 측정 시스템
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제1항에 있어서, 상기 저선량 고전압 발생기는, 변압기를 구비하여 고압을 발생시키는 고압발생모듈; 다이오드와 커패시터를 이용한 배압정류회로를 구비하여 전압을 배압시키는 배압변환모듈; RC필터를 구비하여 리플을 제거하는 평활·노이즈제거모듈; 및 출력전압을 감시하여 상기 고압발생모듈의 동작여부를 결정하는 전압검출·제어모듈;을 포함하는 것을 특징으로 하는 광역 방사선 측정 시스템
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제1항에 있어서, 상기 제어부는,상기 NaI(Tl) 섬광 검출기와 GM tube의 방사선량 측정가능 구간이 중복되는 경우,상기 NaI(Tl) 섬광 검출기와 GM tube를 동시에 동작시키고,상기 NaI(Tl) 섬광 검출기와 GM tube에서 검출된 값에서 측정값을 결정할 때, 상기 GM tube에서 검출된 값만으로 측정값을 산출하는 구간, 상기 GM tube의 검출값과 상기 NaI(Tl) 섬광 검출기의 검출값을 평균하여 측정값을 산출하는 구간, 상기 NaI(Tl) 섬광 검출기에서 검출된 값만으로 측정값을 산출하는 구간으로 구분하여 측정값을 산출하는 것을 특징으로 하는 광역 방사선 측정 시스템
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제1항에 있어서, 외부의 출력장치와 통신이 가능한 이더넷 모듈 또는 PoE 모듈을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광역 방사선 측정 시스템
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(a) 제어부가 중·고선량 고전압 발생기를 작동시켜, 상기 중·고선량 고전압 발생기에서 GM tube에 350V 이상 650V 이하의 전압을 인가하는 단계;(b) 상기 GM tube가 측정한 값을 중·고선량 아날로그 전처리기로 전달하는 단계;(c) 상기 중·고선량 아날로그 전처리기에서 전처리 필터모듈을 사용하여 출력 신호를 로직레벨로 낮추고 바이어스를 조정하여 상기 제어부로 전달하는 단계; (d) 상기 제어부에서 펄스 카운팅하여 방사선의 수를 계수하여 방사선의 양을 판정하는 단계;(e) 방사선의 양이 100 μSv/h 이하로 판정되는 경우, 상기 제어부가 저선량 고전압 발생기를 작동시켜서, 광전자 증배관을 구비한 NaI(Tl) 섬광 검출기에 300V 이상 1000V 이하의 고전압을 인가하는 단계;(f) 상기 NaI(Tl) 섬광 검출기가 측정한 값을 저선량 아날로그 전처리기로 전달하는 단계;(g) 상기 저선량 아날로그 전처리기에서 NaI(Tl) 섬광 검출기의 출력 신호를 증폭하여 디지털 펄스 신호로 만들어 제어부로 전달하는 단계; 및(h) 방사선의 양이 10 μSv/h 이하로 판정되는 경우, 상기 중·고선량 고전압 발생기의 작동을 중지시켜, 상기 GM tube에 인가된 고전압을 차단시키는 단계;를 더 포함하는 광역 방사선 측정 방법
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