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비파괴 검사를 위한 와전류 검사 장치에 있어서,상기 비파괴 검사의 검사 대상인 시험편의 내부에 삽입되어 상기 시험편의 내벽에 유도전류를 인가하기 위한 보빈형 코일;상기 시험편의 레퍼런스인 무결함 시험편 의 내부에 삽입되어 상기 무결함 시험편의 내벽에 유도 전류를 인가하기 위한 참조 코일;상기 보빈형 코일의 내부에 배치되되, 행과 열을 포함하는 원통형 홀센서 배열; 및다중 주파수 중 하나 이상의 주파수를 선택하여 상기 보빈형 코일 및 상기 참조 코일에 교류 전원을 인가하고, 위상차를 달리하는 구형파 신호를 생성하며, 인가된 신호 및 상기 구형파 신호가 제1 승산되도록 제어하는 제어 모듈;을 포함하며,상기 제어 모듈은,상기 원통형 홀센서 배열의 복수의 열 중에서 원호 방향의 열이 순차적으로 선택되도록 구동 전원을 스위칭하여 인가하고, 인가된 신호에 생성된 상기 위상차를 달리하는 구형파가 제2 승산되도록 제어하며,상기 제1 승산된 신호 및 상기 제2 승산된 신호에 기초하되, 신호의 진폭 및 위상차의 분포를 이용하여 상기 시험편의 결함을 검출하는, 비파괴 검사를 위한 와전류 검사 장치
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비파괴 검사를 위한 와전류 검사 장치에 있어서,상기 비파괴 검사의 검사 대상인 시험편의 내부에 삽입되어 상기 시험편의 내벽에 유도전류를 인가하기 위한 보빈형 코일;상기 보빈형 코일의 내부에 배치되되, 행과 열을 포함하는 원통형 홀센서 배열; 및다중 주파수 중 하나 이상의 주파수를 선택하여 상기 보빈형 코일에 교류 전원을 인가하고, 위상차를 달리하는 구형파 신호를 생성하며, 인가된 신호 및 상기 구형파 신호가 제1 승산되도록 제어하는 제어 모듈;을 포함하며,상기 제어 모듈은,상기 원통형 홀센서 배열의 복수의 열 중에서 원호 방향의 열이 순차적으로 선택되도록 구동 전원을 스위칭하여 인가하고, 인가된 신호에 생성된 상기 위상차를 달리하는 구형파가 제2 승산되도록 제어하며,상기 제1 승산된 신호 및 상기 제2 승산된 신호에 기초하되, 신호의 진폭 및 위상차의 분포를 이용하여 상기 시험편의 결함을 검출하는, 비파괴 검사를 위한 와전류 검사 장치
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비파괴 검사를 위한 와전류 검사 장치에 있어서,상기 비파괴 검사의 검사 대상인 시험편의 내부에 삽입되어 상기 시험편의 내벽에 유도전류를 인가하기 위한 보빈형 코일;상기 시험편의 레퍼런스인 무결함 시험편의 내부에 삽입되어 상기 무결함 시험편의 내벽에 유도 전류를 인가하기 위한 참조 코일;상기 보빈형 코일의 내부에 배치되되, 하나의 열로 구성되는 환형 홀센서 배열; 및다중 주파수 중 하나 이상의 주파수를 선택하여 상기 보빈형 코일 및 상기 참조 코일에 교류 전원을 인가하고, 위상차를 달리하는 구형파 신호를 생성하며, 인가된 신호 및 상기 구형파 신호가 제1 승산되도록 제어하는 제어 모듈;을 포함하며,상기 제어 모듈은,상기 환형 홀센서 배열에 구동 전원을 인가하고, 인가된 신호에 생성된 상기 위상차를 달리하는 구형파가 제2 승산되도록 제어하며,상기 제1 승산된 신호 및 상기 제2 승산된 신호에 기초하되, 신호의 진폭 및 위상차의 분포를 이용하여 상기 시험편의 결함을 검출하는, 비파괴 검사를 위한 와전류 검사 장치
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비파괴 검사를 위한 와전류 검사 장치에 있어서,상기 비파괴 검사의 검사 대상인 시험편의 내부에 삽입되어 상기 시험편의 내벽에 유도전류를 인가하기 위한 보빈형 코일;상기 보빈형 코일의 내부에 배치되되, 하나의 열로 구성되는 환형 홀센서 배열; 및다중 주파수 중 하나 이상의 주파수를 선택하여 상기 보빈형 코일에 교류 전원을 인가하고, 위상차를 달리하는 구형파 신호를 생성하며, 인가된 신호 및 상기 구형파 신호가 제1 승산되도록 제어하는 제어 모듈;을 포함하며,상기 제어 모듈은,상기 환형 홀센서 배열에 구동 전원을 인가하고, 인가된 신호에 생성된 상기 위상차를 달리하는 구형파가 제2 승산되도록 제어하며,상기 제1 승산된 신호 및 상기 제2 승산된 신호에 기초하되, 신호의 진폭 및 위상차의 분포를 이용하여 상기 시험편의 결함을 검출하는, 비파괴 검사를 위한 와전류 검사 장치
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와전류 검사 장치의 구동 방법에 있어서,비파괴 검사 대상인 시험편의 내부에 삽입된 보빈형 코일 및 상기 시험편의 레퍼런스인 무결함 시험편의 내부에 삽입된 참조 코일에 다중 주파수 중 하나 이상의 주파수를 선택하여 유도 전류를 인가하고, 위상차를 달리하는 구형파 신호를 생성하여, 인가된 신호에 제1 승산하는 단계-상기 보빈형 코일 및 상기 참조 코일의 출력은 차동으로 연결됨-;상기 보빈형 코일의 내부에 삽입된 원통형 홀센서 배열의 복수의 열 중에서 원호 방향의 열이 순차적으로 선택되도록 구동 전원을 스위칭하여 인가하고, 인가된 신호에 생성된 상기 위상차를 달리하는 구형파를 제2 승산하는 단계; 및상기 제1 승산된 신호 및 상기 제2 승산된 신호에 기초하되, 신호의 진폭 및 위상차의 분포를 이용하여 상기 시험편의 결함을 검출하는 단계;를 포함하는, 와전류 검사 장치의 구동 방법
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컴퓨터 상에서 수행하기 위한 프로그램을 기록한 비일시적 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 있어서, 상기 프로그램은, 프로세서에 의한 실행 시, 상기 프로세서가,비파괴 검사 대상인 시험편의 내부에 삽입된 보빈형 코일 및 상기 시험편의 레퍼런스인 무결함 시험편의 내부에 삽입된 참조 코일에 다중 주파수 중 하나 이상의 주파수를 선택하여 유도 전류를 인가하고, 위상차를 달리하는 구형파 신호를 생성하여, 인가된 신호에 제1 승산하는 단계-상기 보빈형 코일 및 상기 참조 코일의 출력은 차동으로 연결됨-;상기 보빈형 코일의 내부에 삽입된 원통형 홀센서 배열의 복수의 열 중에서 원호 방향의 열이 순차적으로 선택되도록 구동 전원을 스위칭하여 인가하고, 인가된 신호에 생성된 상기 위상차를 달리하는 구형파를 제2 승산하는 단계; 및상기 제1 승산된 신호 및 상기 제2 승산된 신호에 기초하되, 신호의 진폭 및 위상차의 분포를 이용하여 상기 시험편의 결함을 검출하는 단계;를 수행하는, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체
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제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 위상차를 달리하는 구형파의 위상차는 90도인, 비파괴 검사를 위한 와전류 검사 장치
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제5항에 있어서,상기 위상차를 달리하는 구형파의 위상차는 90도인, 와전류 검사 장치의 구동 방법
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제6항에 있어서,상기 위상차를 달리하는 구형파의 위상차는 90도인, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체
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제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,디스플레이;를 더 포함하며,상기 제어 모듈은,선택된 하나 이상의 주파수에 기초하여 결함 부위 별로 상기 신호의 진폭 및 위상차를 상기 디스플레이에 정량적으로 표시하는, 비파괴 검사를 위한 와전류 검사 장치
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제1항 또는 제2항에 있어서,상기 제어 모듈은,교류증폭회로 및 직류증폭회로의 증폭비를 결정하고, 원통형 홀센서 배열에 포함된 행과 열에 구동 전원을 스위칭하여 인가하며, 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 회로를 구동하는, 비파괴 검사를 위한 와전류 검사 장치
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