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금속 부식 모니터링 시스템

  • 기술번호 : KST2019000652
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 금속 부식 모니터링 시스템에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 복수 개의 파장 대역을 갖는 광을 출력하는 다파장 광원; 상기 다파장 광원으로부터 출력되는 광 중 특정 파장 대역의 광만을 반사시키고 나머지 파장 대역의 광은 투과시키기 위한 복수 개의 광학필터; 상기 광학필터의 사이에 구비되어 상기 광학필터에 의해 반사된 특정 파장 대역의 광이 입력되며, 입력된 광을 부식 측정대상물의 표면으로 조사하기 위한 복수 개의 옵티컬 서큘레이터; 상기 옵티컬 서큘레이터와 부식 측정대상물의 사이에 구비되는 대역통과필터; 상기 대역통과필터와 부식 측정대상물의 사이에 구비되어 상기 부식 측정대상물에 조사되는 광을 평행하게 유지하기 위한 콜리메이터; 및 상기 부식 측정대상물의 표면에서 반사된 반사광의 세기를 측정하여 상기 부식 측정대상물의 표면 부식 정도를 감지하기 위한 디텍터를 포함한다.
Int. CL G01N 17/00 (2006.01.01) G01N 21/27 (2006.01.01) G01N 21/552 (2014.01.01) G01N 21/39 (2006.01.01)
CPC G01N 17/006(2013.01) G01N 17/006(2013.01) G01N 17/006(2013.01) G01N 17/006(2013.01)
출원번호/일자 1020170101263 (2017.08.09)
출원인 조선대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1958403-0000 (2019.03.08)
공개번호/일자 10-2019-0016822 (2019.02.19) 문서열기
공고번호/일자 (20190704) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.08.09)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 조선대학교산학협력단 대한민국 광주광역시 동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 안태정 대한민국 광주광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인아이엠 대한민국 서울특별시 강남구 봉은사로 ***, ***호 (역삼동, 혜전빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 조선대학교산학협력단 광주광역시 동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.08.09 수리 (Accepted) 1-1-2017-0769795-27
2 보정요구서
Request for Amendment
2017.08.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2017-0113795-68
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.08.25 수리 (Accepted) 1-1-2017-0823316-38
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.12.06 수리 (Accepted) 4-1-2017-5199091-10
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.06.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.08.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2018-0101789-24
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.08.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0555495-19
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.10.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-1015593-41
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.10.16 수리 (Accepted) 1-1-2018-1015596-88
10 등록결정서
Decision to grant
2019.02.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0129307-53
11 [명세서등 보정]보정서(심사관 직권보정)
2019.07.01 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-5018076-12
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.03.26 수리 (Accepted) 4-1-2020-5071333-01
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2020-5088703-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
복수 개의 파장 대역을 갖는 광을 출력하는 다파장 광원;상기 다파장 광원으로부터 출력되는 광 중 특정 파장 대역의 광만을 반사시키고 나머지 파장 대역의 광은 투과시키기 위한 복수 개의 FBG(Fiber Bragg Grating) 광학필터;상기 광학필터의 사이에 구비되어 상기 광학필터에 의해 반사된 특정 파장 대역의 광이 입력되며, 입력된 광을 부식 측정대상물의 표면으로 조사하기 위한 복수 개의 옵티컬 서큘레이터;상기 옵티컬 서큘레이터와 부식 측정대상물의 사이에 구비되는 대역통과필터;상기 대역통과필터와 부식 측정대상물의 사이에 구비되어 상기 부식 측정대상물에 조사되는 광을 평행하게 유지하기 위한 콜리메이터; 및상기 부식 측정대상물의 표면에서 반사된 반사광의 세기 또는 주파수를 측정하여 상기 부식 측정대상물의 표면 부식 정도를 감지하기 위한 디텍터를 포함하는 것을 특징으로 하는 금속 부식 모니터링 시스템
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삭제
3 3
제 1 항에 있어서,상기 다파장 광원은 연속적으로 파장이 가변되어 출력되는 TLS(Tunable laser source)인 것을 특징으로 하는 금속 부식 모니터링 시스템
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제 3 항에 있어서, 상기 TLS(Tunable laser source)의 출력단에는 광 아이솔레이터가 구비되는 것을 특징으로 하는 금속 부식 모니터링 시스템
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삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육부 조선대학교 산학협력선도대학(LINC)육성 기술개발과제 광주파수영역 반사광 측정시스템을 위한 파장가변레이저 개발