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표적물질이 분포된 시료에 측정광을 조사하는 측정광원;상기 표적물질을 가열하기 위한 자극광을 상기 시료에 조사하는 자극광원; 및 상기 시료에서 산란되는 상기 측정광의 스펙클 영상을 취득하고, 상기 시료의 표적 물질 분포 부위의 스펙클 패턴 변화를 감지하는 감지부;를 포함하고,상기 자극광원은 상기 자극광이 기설정된 명멸 주파수로 명멸하며 상기 시료의 측정 영역에 조사될 수 있도록 상기 자극광을 기설정된 주기로 명멸하고, 상기 감지부는 상기 명멸 주파수에 해당하는 신호를 검출하는 표적물질 농도 측정장치
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제1항에 있어서, 상기 측정광원은 상기 시료에 레이저를 조사하여 상기 시료의 표면 또는 내부 구조에서 산란을 일으키고,상기 감지부는 상기 시료의 표적 물질 분포 부위의 레이저 스펙클 패턴 변화를 감지하는 표적물질 농도 측정장치
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제2항에 있어서, 상기 측정광이 상기 시료의 측정 영역에 고르게 조사할 수 있도록 상기 측정광의 크기를 조절하는 측정광 조절부를 더 포함하는 표적물질 농도 측정장치
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제3항에 있어서,상기 측정광 조절부는 광학렌즈, 거울, 단모드 광섬유 가운데 어느 하나인 것을 특징으로 하는 표적물질 농도 측정장치
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제1항에 있어서, 상기 측정광원은 상기 측정광을 산란시키는 측정광 산란부를 더 구비하고, 상기 측정광 산란부에 의하여 형성된 스펙클 패턴을 상기 시료에 조사하는 표적물질 농도 측정장치
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제5항에 있어서, 상기 측정광 산란부는 그라운드 글라스 디퓨저, 홀로그래픽 디퓨저, 스카치 테이프, 반사형 디퓨저(Diffuser reflector), 샌드블라스트 디퓨저(Sandblasted diffuser) 가운데 어느 하나인 것을 특징으로 하는 표적물질 농도 측정장치
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제1항에 있어서,상기 자극광원은 상기 측정광원의 조사 부위와 같은 영역에 자극광을 조사하고, 상기 자극광은 상기 표적물질의 흡수 파장에 해당하는 표적물질 농도 측정장치
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제7항에 있어서,상기 자극광원은 상기 시료에 자극광을 조사하여 상기 자극광이 조사되는 부위를 발열시키는 표적물질 농도 측정장치
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제7항에 있어서,상기 자극광원에서 조사되는 자극광은 상기 측정광원에서 조사되는 측정광과 파장이 서로 다른 것을 특징으로 하는 표적물질 농도 측정장치
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제8항에 있어서,상기 자극광은 레이저, LED, 적외선, 전파, 초음파 가운데 적어도 하나인 것을 특징으로 하는 표적물질 농도 측정장치
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제1항에 있어서,상기 자극광원의 명멸 주기는 일정하거나 또는 불규칙적인 표적물질 농도 측정장치
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제1항에 있어서,상기 감지부는 시료에 조사되는 상기 측정광원 외의 빛 감지를 차단하는 광학필터를 더 구비하는 표적물질 농도 측정장치
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제13항에 있어서, 상기 측정광이 상기 시료에 조사되고 있는 상태에서, 상기 자극광을 일정한 명멸 주기로 명멸하는 방식으로 상기 시료에 조사하고, 상기 감지부에서 감지된 신호 가운데 상기 명멸 주파수에 해당하는 신호를 검출하는 표적물질 농도 측정장치
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제15항에 있어서,상기 명멸 주파수에 해당하는 신호는 상기 감지부로 들어오는 빛의 밝기 신호의 푸리에 변환에 의하여 검출되는 것을 특징으로 하는 표적물질 농도 측정장치
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제13항에 있어서, 상기 측정광이 상기 시료에 조사되고 있는 상태에서, 상기 자극광을 불규칙적인 명멸 주기로 명멸하는 방식으로 상기 시료에 조사하고, 시간에 따른 상기 자극광의 명멸 신호 패턴과 스펙클 패턴 변화를 상관관계 (Correlation)를 취함으로써 출력 신호를 획득하는 표적물질 농도 측정장치
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표적물질이 분포된 시료에 레이저를 조사하여 상기 시료에서 레이저의 산란을 일으키는 측정광원;상기 표적물질의 흡수파장에 해당하는 자극광을 상기 시료에 조사하는 자극광을 조사하는 자극광원; 및상기 시료의 레이저 스펙클 영상을 취득하고, 상기 시료의 표적 물질 분포 부위의 레이저 스펙클 패턴 변화를 감지하는 감지부;를 포함하며, 상기 레이저 스펙클 패턴 변화를 이용하여 상기 표적물질의 농도 및 분포를 측정하되,상기 자극광원은 상기 자극광이 기설정된 명멸 주파수로 명멸하며 상기 시료의 측정 영역에 조사될 수 있도록 상기 자극광을 기설정된 주기로 명멸하고, 상기 감지부는 상기 명멸 주파수에 해당하는 신호를 검출하는 표적물질 농도 측정장치
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