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히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2019003127
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 및 그 제조 방법이 개시된다. 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서의 제조 방법은, 기판에 n 타입 또는 p타입 GaN 층을 성장시키는 단계와; 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층 상에 GaN (AlxGa1-xN, InxAl1-xN, 고저항 GaN 포함) 기반의 단층 또는 다층으로 이루어진Barrier 층을 성장시키는 단계와; 상기 Barrier 층 상에 u-GaN 층 및 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층을 순차적으로 성장시키는 단계와; 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층에 전극을 형성할 수 있도록 패터닝을 수행하는 단계와; 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층에 형성된 패턴에 따라 전극을 형성시키는 단계와; 상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층 상에 검지물질층을 형성시키는 단계를 포함한다. 따라서, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 및 그 제조 방법은, n-GaN(또는 p-GaN)층을 이용하여 HEMT 구조 또는 쇼트키(Schottky) 다이오드 구조의 센서를 가열하여 센서의 감도를 높이고, 회복시간을 단축시킬 수 있다.
Int. CL G01N 27/12 (2006.01.01) G01N 27/14 (2006.01.01)
CPC G01N 27/125(2013.01) G01N 27/125(2013.01) G01N 27/125(2013.01)
출원번호/일자 1020170124251 (2017.09.26)
출원인 (재)한국나노기술원
등록번호/일자 10-1989977-0000 (2019.06.11)
공개번호/일자 10-2019-0035246 (2019.04.03) 문서열기
공고번호/일자 (20190617) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.09.26)
심사청구항수 23

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 (재)한국나노기술원 대한민국 경기도 수원시 영통구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박경호 경기도 수원시 영통구
2 조주영 경기도 수원시 팔달구
3 박형호 대전광역시 유성구
4 고유민 경기도 용인시 기흥구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이준성 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길 **, ***호 준성특허법률사무소 (대치동, 대치빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 (재)한국나노기술원 경기도 수원시 영통구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.09.26 수리 (Accepted) 1-1-2017-0940023-22
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.02.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0084088-59
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.03.27 수리 (Accepted) 1-1-2019-0312739-65
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.03.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0312738-19
5 등록결정서
Decision to grant
2019.06.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0407100-53
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번호 청구항
1 1
기판에 n 타입 또는 p타입 GaN 층을 성장시키는 단계; 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층 상에 Barrier 층을 성장시키는 단계;상기 Barrier 층 상에 u-GaN 층, 그리고 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층을 순차적으로 성장시키는 단계; 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층에 전극을 형성할 수 있도록 패터닝을 수행하는 단계; 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층에 형성된 패턴에 따라 전극을 형성시키는 단계; 및상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층 상에 검지물질층을 형성시키는 단계를 포함하고,상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층은, 상기 전극을 지나 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층의 횡방향으로 전류의 흐름 동안, 열을 발생시키는 히터 기능을 수행하고,상기 Barrier 층은, 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층에 흐르는 전류가 상기 Barrier 층을 지나 상기 u-GaN 층, 그리고 상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층으로 흐르는 것을 막는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 제조 방법
2 2
삭제
3 3
청구항 1에 있어서, 상기 Barrier 층은,상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 고저항 GaN 층 중 어느 하나의 층 또는 이 층들의 복합층으로 형성시키는 것을 특징으로 하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 제조 방법
4 4
청구항 1에 있어서, 상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층 상에 검지물질층을 형성시키는 단계는, 상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층 상에 소스 전극 및 드레인 전극을 형성시키고, 상기 소스 전극 및 드레인 전극 사이의 일부 영역에 상기 검지물질층을 형성시키는 것을 특징으로 하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 제조 방법
5 5
청구항 1에 있어서, 상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층 상에 두께 30 nm 이하의 GaN cap층, 산화막층 또는 질화막층을 단층 또는 다층으로 추가로 형성시키는 것을 특징으로 하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 제조 방법
6 6
청구항 1에 있어서, 상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층 상에 검지물질층을 형성시키는 단계는, 상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층 상에 옴성접촉 전극을 형성시키고, 쇼트키성 접촉을 형성하는 상기 검지물질층과 이와 연결된 옴성접촉 전극을 형성시키는 것을 특징으로 하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 제조 방법
7 7
청구항 1에 있어서, 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층에 전류가 인가되어 발생한 열은 상기 검지물질층에 전달되는 것을 특징으로 하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 제조 방법
8 8
청구항 1에 있어서,상기 AlxGa1-xN층의 x값은, 0003c#x≤1 이고,상기 InxAl1-xN층의 x값은, 0003c#x≤1 인 것인, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 제조 방법
9 9
청구항 1에 있어서,상기 InxAlyGa1-x-yN층의 x와 y값은,0003c#x≤1, 0003c#y≤1, 0003c#(x+y)≤1 인 것인, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 제조 방법
10 10
청구항 3에 있어서,상기 Barrier 층을 형성시키는 상기 AlxGa1-xN층의 x값은, 0003c#x≤1 이고,상기 Barrier 층을 형성시키는 상기 InxAl1-xN층의 x값은, 0003c#x≤1 인 것인, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 제조 방법
11 11
청구항 1에 있어서, 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층에서 상기 기판을 분리하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 제조 방법
12 12
청구항 1에 있어서, 상기 기판은, 사파이어, AlN, Diamond, BN, SiC, Si 및 GaN로 이루어지는 군에서 선택되는 어느 하나의 재료로 만들어지는 것을 특징으로 하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 제조 방법
13 13
청구항 1에 있어서, 상기 기판상에 형성된 n 타입 또는 p타입 GaN 층은 스트라이프 형상으로 형성될 수 있으며, 스트라이프 형상의 두께, 폭, 간격, 전기전도도 등의 조절함을 통해 검지물질층의 반응시간(감도) 및 회복시간 조절이 용이한 것을 특징으로 하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서 제조 방법
14 14
기판;상기 기판에 성장되는 n 타입 또는 p타입 GaN 층; 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층 상에 성장되는 Barrier 층;상기 Barrier 층 상에 성장되는 u-GaN 층;상기 u-GaN 층 상에 성장되는 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층; 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층에 형성된 패턴에 따라 형성되는 전극; 및상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층 상에는 형성되는 검지물질층을 포함하고,상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층은, 상기 전극을 통해 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층의 횡방향으로 전류의 흐름 동안, 열을 발생시키는 히터 기능을 수행하고,상기 Barrier 층은, 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층에 흐르는 전류가 상기 Barrier 층을 지나 상기 u-GaN 층, 그리고 상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층으로 흐르는 것을 막는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서
15 15
삭제
16 16
청구항 14에 있어서, 상기 Barrier 층은, 상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 고저항 GaN 층 중 어느 하나의 층 또는 이 층들의 복합층으로 형성시키는 것을 특징으로 하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서
17 17
청구항 14에 있어서, 상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층 상에 형성된 소스 전극 및 드레인 전극을 더 포함하되, 상기 검지물질층은, 상기 소스 전극 및 드레인 전극 사이의 일부 영역에 형성되는 것을 특징으로 하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서
18 18
청구항 14에 있어서, 상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층 상에 두께 30 nm 이하의 GaN cap층, 산화막층 또는 질화막층을 단층 또는 다층으로 추가로 형성시키는 것을 특징으로 하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서
19 19
청구항 14에 있어서, 상기 AlxGa1-xN층, InxAl1-xN층 및 InxAlyGa1-x-yN층으로 이루어지는 군에서 선택되는 1종의 층 상에 형성되는 옴성접촉 전극; 및쇼트키성 접촉을 형성하는 상기 검지물질층과 연결되는 옴성접촉 전극을 더 포함하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서
20 20
청구항 14에 있어서,상기 AlxGa1-xN층의 x값은, 0003c#x≤1 이고,상기 InxAl1-xN층의 x값은, 0003c#x≤1 인 것인, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서
21 21
청구항 14에 있어서,상기 InxAlyGa1-x-yN층의 x와 y값은,0003c#x≤1, 0003c#y≤1, 0003c#(x+y)≤1 인 것인, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서
22 22
청구항 16에 있어서,상기 Barrier 층을 형성시키는 상기 AlxGa1-xN층의 x값은, 0003c#x≤1 이고,상기 Barrier 층을 형성시키는 상기 InxAl1-xN층의 x값은, 0003c#x≤1 인 것인, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서
23 23
청구항 14에 있어서, 상기 n 타입 또는 p타입 GaN 층에 전류가 인가되어 발생한 열은 상기 검지물질층에 전달되는 것을 특징으로 하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서
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청구항 14에 있어서,상기 기판은, 사파이어, AlN, Diamond, BN, SiC, Si 및 GaN로 이루어지는 군에서 선택되는 어느 하나의 재료로 만들어지는 것을 특징으로 하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서
25 25
청구항 14에 있어서, 상기 기판상에 형성된 n 타입 또는 p타입 GaN 층은 스트라이프 형상으로 형성될 수 있으며, 스트라이프 형상의 두께, 폭, 간격, 전기전도도 등의 조절함을 통해 검지물질층의 반응시간(감도) 및 회복시간 조절이 용이한 것을 특징으로 하는, 히터 구조를 구비한 질화갈륨계 센서
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2 EP03460468 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 EP03460468 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
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5 US20190097067 US 미국 FAMILY
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2 EP3460468 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
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4 US2019097067 US 미국 DOCDBFAMILY
5 WO2019066145 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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1 미래창조과학부 (재)한국나노기술원 나노 소재기술개발사업 화합물반도체 기반 고성능 HEMT 센서 및 고감도 자기센서 공정플랫폼 개발