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시편에 대한 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템 및 그 동작 방법

  • 기술번호 : KST2019003491
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예에 따른 시편에 대한 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템은 무작위 위상 변조된 다중광을 발생시키는 광조사부; 다중광에 구조 패턴을 적용하고, 변조된 구조광 패턴에 의해 도출된 다중광을 시편에 조사하는 광변조부; 다중광이 조사된 시편의 다중 위치로부터 반사되는 각각의 광을 획득하는 이미지 센서부; 및 이미지 센서부로부터 획득한 영상을 통해 시편의 각 위치에서 발생하는 하나 이상의 변화요인을 측정하는 제어부;를 포함한다.
Int. CL G01B 11/16 (2006.01.01) G01N 21/88 (2006.01.01) G01D 5/26 (2006.01.01) H04N 5/225 (2006.01.01) G06T 7/60 (2017.01.01) G06T 1/00 (2006.01.01)
CPC G01B 11/16(2013.01) G01B 11/16(2013.01) G01B 11/16(2013.01) G01B 11/16(2013.01) G01B 11/16(2013.01) G01B 11/16(2013.01)
출원번호/일자 1020170130733 (2017.10.11)
출원인 한국철도기술연구원
등록번호/일자 10-2016740-0000 (2019.08.26)
공개번호/일자 10-2019-0040747 (2019.04.19) 문서열기
공고번호/일자 (20191021) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.10.11)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국철도기술연구원 대한민국 경기도 의왕시 철

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강동훈 서울특별시 송파구
2 김순희 경상남도 김해시 삼안로***번
3 주철민 경기도 고양시 일산동구
4 김수철 서울특별시 서대문구
5 송승리 서울특별시 중구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인엠에이피에스 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 (역삼동, 한동빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국철도기술연구원 경기도 의왕시 철
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.10.11 수리 (Accepted) 1-1-2017-0989156-77
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.05.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.08.06 수리 (Accepted) 9-1-2018-0037782-19
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.08.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0564288-75
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.10.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-1039235-73
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.10.22 수리 (Accepted) 1-1-2018-1039234-27
7 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2019.01.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0075859-33
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.03.05 수리 (Accepted) 1-1-2019-0225253-69
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.03.05 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2019-0225254-15
10 등록결정서
Decision to grant
2019.07.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0547323-77
11 [명세서등 보정]보정서(심사관 직권보정)
2019.09.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-5029653-15
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
시편에 대한 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템에 있어서,무작위(random) 위상 변조된 다중광을 발생시키는 광조사부상기 다중광에 구조 패턴을 적용하고, 상기 변조된 구조광 패턴에 의해 도출된 다중광을 시편에 조사하는 광변조부;상기 다중광이 조사된 시편의 다중 위치로부터 반사되는 각각의 광을 획득하는 이미지 센서부; 및상기 이미지 센서부로부터 획득한 영상을 통해 상기 시편의 각 위치에서 발생하는 하나 이상의 변화요인을 측정하는 제어부;를 포함하되,상기 광조사부는상기 다중광을 통과시켜 스펙클 패턴을 발생시키는 산란매체를 포함하는 것인, 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템
2 2
제 1 항에 있어서,상기 변화요인은 상기 시편의 변위, 인장 및 압축 중 적어도 하나를 포함하는 것인, 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템
3 3
제 2 항에 있어서,상기 제어부는 상기 구조광 패턴을 이용하여 주변광을 제거하여 스펙클 영상을 복원하고, 상기 복원된 스펙클 영상에 기초하여 상기 변화요인의 변화량을 측정하되,상기 구조광 패턴은 일정한 위상각의 간격을 갖도록 형상화된 것이고,상기 복원된 스펙클 영상은 상기 광조사부에 의해 발생된 스펙클 패턴을 갖는 다중광이 조사된 시편의 다중 위치로부터 반사되는 각각의 광을 획득한 영상인 것인, 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템
4 4
제 3 항에 있어서,상기 제어부는 상기 변위의 변화량을 측정하는 경우,상기 시편의 변화 전의 복원된 스펙클 영상 및 상기 변화 후의 복원된 스펙클 영상의 이차원 상호 상관 분석을 수행하고, 상기 분석 결과를 통해 상기 변위의 변화량을 산출하는 것인, 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템
5 5
제 3 항에 있어서,상기 제어부는상기 압축 및 인장의 변화량을 측정하는 경우,상기 시편의 변화 전의 복원된 스펙클 영상 및 상기 변화 후의 복원된 스펙클 영상을 복수의 구간으로 분할하고, 상기 각 구간별로 상기 변화 전/후의 복원된 스펙클의 이차원 상호 상관 분석을 수행하고, X 및 Y 축 방향으로의 상기 분석 결과의 차이를 연산하여 상기 압축 및 인장의 변화량을 측정하는 것인, 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템
6 6
제 1 항에 있어서,상기 광조사부는광을 조사하는 간섭성 광원; 및상기 광을 집속하여 상기 다중광을 구현하는 렌즈렛 어레이를 더 포함하는 것인, 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템
7 7
제 1 항에 있어서,상기 광조사부는상기 다중광을 구현하는 복수의 간섭성 광원을 더 포함하는 것인, 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템
8 8
제 6 항 또는 제 7항에 있어서,상기 산란매체는 그라운드 글라스 디퓨저(ground glass diffuser), 홀로그래픽 디퓨저(holographic diffuser), 셀로판 테이프(cellophane tape), 반사형 디퓨저(Diffuser reflector) 및 샌드블라스트 디퓨저(Sandblasted diffuser) 중 적어도 하나를 포함하는 것인, 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템
9 9
제 1 항에 있어서,상기 이미지 센서부는상기 각각의 광을 집속하는 복수의 광학계; 및상기 각각의 광학계로 집속된 광으로부터 영상 정보를 획득하는 이미지 센서를 포함하는 것인 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템
10 10
제 9 항에 있어서,상기 이미지 센서는 CCD(Charge coupled device) 또는 CMOS(Complementary metaloxide semiconductor)로 구성되는 것인, 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템
11 11
시편에 대한 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템에 있어서,무작위 위상 변조된 다중광을 발생시키는 광조사부;상기 광에 구조 패턴을 적용하고, 상기 변조된 구조광 패턴에 의해 도출된 광을 시편에 조사하는 광변조부;상기 시편의 다중 위치에서, 상기 조사된 광을 각각 획득하도록 어레이 형태로 배치된 이미지 센서부; 및 상기 각 이미지 센서부로부터 획득한 영상을 통해 상기 각각의 위치에서 발생하는 하나 이상의 변화요인을 측정하는 제어부;를 포함하되,상기 광조사부는상기 다중광을 통과시켜 스펙클 패턴을 발생시키는 산란매체를 포함하는 것인, 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템
12 12
시편에 대한 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템의 동작 방법에 있어서,광조사부에 의해, 무작위 위상 변조된 다중광을 발생시키는 단계;광변조부에 의해, 상기 다중광에 구조 패턴을 적용하고, 상기 변조된 구조광 패턴에 의해 도출된 다중광을 시편에 조사하는 단계;이미지 센서부에 의해, 상기 다중광이 조사된 시편의 다중 위치로부터 반사되는 각각의 광을 획득하는 단계; 및제어부에 의해, 상기 이미지 센서부로부터 획득한 영상을 통해 상기 시편의 각 위치에서 발생하는 하나 이상의 변화요인을 측정하는 단계;를 포함하되,상기 광조사부는상기 다중광을 통과시켜 스펙클 패턴을 발생시키는 산란매체를 포함하는 것인, 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템의 동작 방법
13 13
제 12 항에 있어서,상기 변화요인은 시편의 변위, 인장 및 압축 중 적어도 하나를 포함하는 것이고,상기 변화요인을 측정하는 단계는,상기 구조광 패턴을 이용하여 주변광을 제거하여 스펙클 영상을 복원하고, 상기 복원된 스펙클 영상에 기초하여 상기 변화요인의 변화량을 측정하는 단계;를 포함하되,상기 구조광 패턴은 일정한 위상각의 간격을 갖도록 형상화된 것이고,상기 복원된 스펙클 영상은 상기 광조사부에 의해 발생된 스펙클 패턴을 갖는 다중광이 조사된 시편의 다중 위치로부터 반사되는 각각의 광을 획득한 영상인 것인, 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템의 동작 방법
14 14
제 13 항에 있어서,상기 변화량을 측정하는 단계는상기 변위의 변화량을 측정하는 경우,상기 시편의 변화 전의 복원된 스펙클 영상 및 상기 변화 후의 복원된 스펙클 영상의 이차원 상호 상관 분석을 수행하는 단계; 및상기 분석 결과를 통해 상기 변위의 변화량을 산출하는 단계;를 포함하는 것인, 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템의 동작 방법
15 15
제 13 항에 있어서,상기 변화량을 측정하는 단계는상기 압축 및 인장의 변화량을 측정하는 경우,상기 시편의 변화 전의 복원된 스펙클 영상 및 변화 후의 복원된 스펙클 영상을 복수의 구간으로 분할하는 단계;상기 각 구간별로 상기 변화 전/후의 복원된 스펙클 영상의 이차원 상호 상관 분석을 수행하는 단계; 및X 및 Y 축 방향으로의 상기 분석 결과의 차이를 연산하여 상기 압축 및 인장의 변화량을 측정하는 단계;를 포함하는 것인, 다중 위치에서의 다중 요인 측정 시스템의 동작 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.