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중성자 빔을 샘플에 조사하는 중성자 빔 조사부;조사된 상기 중성자 빔에 포함된 중성자 중 상기 샘플을 투과한 중성자의 수를 계수하는 중성자 계수기;계수된 상기 샘플을 투과한 중성자의 수를 조사된 상기 중성자 빔에 포함된 중성자의 수로 나눈 샘플의 투과율을 연산하는 투과율 연산부; 및연산된 상기 샘플의 투과율에 기초하여 상기 샘플의 위조 여부를 판별하는 판별부를 포함하고,상기 판별부는, 연산된 상기 샘플의 투과율이 기 설정된 기준 샘플의 투과율의 오차 범위 이내의 값을 가질 때 상기 샘플을 진품으로 판별하며, 연산된 상기 샘플의 투과율이 기 설정된 상기 기준 샘플의 투과율의 오차 범위를 초과할 때 상기 샘플을 위조품으로 판별하며, 상기 기준 샘플은, 순도 99
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제1항에 있어서,상기 판별부는,연산된 상기 샘플의 투과율이 기설정된 기준 샘플의 투과율과 상이한 경우 상기 샘플을 위조품으로 판별하는 중성자를 이용한 위조품 판별 장치
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제1항에 있어서,상기 투과율은,상기 샘플의 두께에 반비례하는 값을 가지는 중성자를 이용한 위조품 판별 장치
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삭제
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제1항에 있어서,상기 위조품 판별 장치는,조사된 상기 중성자에 의해 상기 샘플에 의해 방출되는 즉발 감마선의 에너지 스펙트럼을 측정하는 감마선 스펙트로미터를 더 포함하며,상기 판별부는, 측정된 상기 즉발 감마선의 에너지 스펙트럼에 기초하여 상기 샘플에 포함된 원소 및 상기 원소의 함량을 더 분석하는 포함하는 중성자를 이용한 샘플의 위조품 판별 장치
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제7항에 있어서,상기 중성자는,냉 중성자인 중성자를 이용한 샘플의 위조품 판별 장치
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제7항에 있어서,상기 판별부는, 상기 에너지 스펙트럼 중 방출되는 즉발 감마선이 발생되는 모든 에너지 대역이 기지의 원소의 에너지 대역과 동일한지에 따라 상기 샘플의 원소를 분석하며,상기 에너지 스펙트럼 중 방출되는 모든 즉발 감마선의 수의 합에 따라 상기 원소의 함량을 분석하는 중성자를 이용한 위조품 판별 장치
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제7항에 있어서,상기 판별부는,상기 에너지 스펙트럼 중 방출되는 즉발 감마선의 수가 가장 큰 즉발 감마선의 에너지 대역이 기지의 원소의 에너지 대역과 동일한지에 따라 상기 샘플의 원소를 분석하며,상기 에너지 스펙트럼 중 방출되는 즉발 감마선의 수가 가장 큰 즉발 감마선의 수에 따라 상기 원소의 함량을 분석하는 중성자를 이용한 위조품 판별 장치
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중성자 빔 조사부에서, 중성자 빔을 샘플에 조사하는 제1 단계;중성자 계수기에서, 조사된 상기 중성자 빔에 포함된 중성자 중 상기 샘플을 투과한 중성자의 수를 계수하는 제2 단계;투과율 연산부에서, 계수된 상기 샘플을 투과한 중성자의 수를 조사된 상기 중성자 빔에 포함된 중성자의 수로 나눈 샘플의 투과율을 연산하는 제3 단계; 및판별부에서, 연산된 상기 샘플의 투과율에 기초하여 상기 샘플의 위조 여부를 판별하는 제4 단계를 포함하며,상기 제4 단계는, 측정된 상기 샘플의 투과율이 기설정된 기준 샘플의 투과율과 상이한 경우 상기 샘플을 위조품으로 판별하는 단계를 포함하고,상기 기준 샘플은, 순도 99
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