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다면체 회전 거울과 텔레센트릭 f-세타 렌즈를 이용한 테라헤르츠 반사 영상 시스템

  • 기술번호 : KST2019004232
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 다면체 회전 거울과 텔레센트릭 f-세타 렌즈를 이용한 테라헤르츠 반사 영상 시스템이 개시된다. 테라헤르츠 반사 영상 시스템은 테라헤르츠 빔을 출력하는 광원; 다면체의 면들 각각에 거울이 결합되어 상기 광원으로부터 입사되는 테라헤르츠 빔을 시편이 위치한 방향으로 반사시키는 회전 다면경; 상기 회전 다면경에서 반사된 테라헤르츠 빔을 상기 시편에 입사시키며, 상기 회전 다면경에서 반사된 테라헤르츠 빔의 주광선이 렌즈의 광축에 대하여 평행해지도록 보정하는 텔레센트릭 세타 렌즈; 및 상기 시편에서 반사된 테라헤르츠 빔을 검출하는 검출기를 포함하고, 상기 회전 다면경은, 기 설정된 방향으로 회전하여 상기 테라헤르츠 빔의 반사 방향을 변경함으로써, 상기 시편에 입사되는 테라헤르츠 빔의 위치를 이동시킬 수 있다.
Int. CL G02B 26/08 (2006.01.01) G02B 27/30 (2006.01.01) G02B 19/00 (2006.01.01) G01N 21/3581 (2014.01.01) G01N 21/17 (2006.01.01)
CPC G02B 26/0816(2013.01) G02B 26/0816(2013.01) G02B 26/0816(2013.01) G02B 26/0816(2013.01) G02B 26/0816(2013.01)
출원번호/일자 1020170139296 (2017.10.25)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0046112 (2019.05.07) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.07.30)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 문기원 대전광역시 유성구
2 박경현 대전광역시 유성구
3 이의수 대전광역시 유성구
4 이일민 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.10.25 수리 (Accepted) 1-1-2017-1055143-12
2 [심사청구]심사청구서·우선심사신청서
2020.07.30 수리 (Accepted) 1-1-2020-0800716-08
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2020.08.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2020.09.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0167344-15
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번호 청구항
1 1
테라헤르츠 빔을 출력하는 광원;다면체의 면들 각각에 거울이 결합되어 상기 광원으로부터 입사되는 테라헤르츠 빔을 시편이 위치한 방향으로 반사시키는 회전 다면경; 상기 회전 다면경에서 반사된 테라헤르츠 빔을 상기 시편에 입사시키며, 상기 회전 다면경에서 반사된 테라헤르츠 빔의 주광선이 렌즈의 광축에 대하여 평행해지도록 보정하는 텔레센트릭 세타 렌즈; 및상기 시편에서 반사된 테라헤르츠 빔을 검출하는 검출기를 포함하고,상기 회전 다면경은,기 설정된 방향으로 회전하여 상기 테라헤르츠 빔의 반사 방향을 변경함으로써, 상기 시편에 입사되는 테라헤르츠 빔의 위치를 이동시키는 테라헤르츠 반사 영상 시스템
2 2
제1항에 있어서, 상기 회전 다면경은,상기 테라헤르츠 빔을 상기 시편이 위치한 방향으로 반사시키는 제1 면과 상기 시편에서 반사되어 상기 텔레센트릭 세타 렌즈를 통과한 테라헤르츠 빔을 상기 검출기가 위치한 방향으로 반사시키는 제2 면을 포함하고, 상기 텔레센트릭 세타 렌즈는,상기 시편에서 반사된 테라헤르츠 빔을 상기 제2 면에 입사시키는 테라헤르츠 반사 영상 시스템
3 3
제1항에 있어서, 상기 광원이 시준된(collimated) 테라헤르츠 빔을 출력하지 않는 경우, 상기 광원에서 출력된 테라헤르츠 빔을 시준시켜 상기 회전 다면경에 입사시키는 시준 렌즈; 및상기 시편에서 반사된 테라헤르츠 빔을 집속시켜 상기 검출기에 입사시키는 집광 렌즈를 더 포함하는 테라헤르츠 반사 영상 시스템
4 4
제1항에 있어서, 상기 광원에서 출력된 테라헤르츠 빔을 투과시키고, 상기 회전 다면경에서 반사된 테라헤르츠 빔을 상기 검출기가 위치한 방향으로 반사시키는 빔 가르개(beam splitter)를 더 포함하고,상기 텔레센트릭 세타 렌즈는,상기 시편에서 반사된 테라헤르츠 빔을 상기 회전 다면경에 입사시키며, 상기 화전 다면경은,상기 텔레센트릭 세타 렌즈로부터 입사된 테라헤르츠 빔을 상기 빔 가르개가 위치한 방향으로 반사시키는 테라헤르츠 반사 영상 시스템
5 5
테라헤르츠 빔을 출력하는 광원;일정 각도로 기울기를 가지는 거울을 이용하여 상기 광원으로부터 입사되는 테라헤르츠 빔을 시편이 위치한 방향으로 반사시키는 회전경; 상기 회전경에서 반사된 테라헤르츠 빔을 상기 시편에 입사시키며, 상기 상기 회전 다면경에서 반사된 테라헤르츠 빔의 주광선이 렌즈의 광축에 대하여 평행해지도록 보정하는 텔레센트릭 세타 렌즈; 및상기 시편에서 반사된 테라헤르츠 빔을 검출하는 검출기를 포함하고,상기 회전경은,회전축에 결합된 상기 거울을 기 설정된 방향으로 회전하여 상기 테라헤르츠 빔의 반사 방향을 변경함으로써, 상기 시편에 입사되는 테라헤르츠 빔의 위치를 이동시키는 테라헤르츠 반사 영상 시스템
6 6
제5항에 있어서, 상기 광원이 시준된(collimated) 테라헤르츠 빔을 출력하지 않는 경우, 상기 광원에서 출력된 테라헤르츠 빔을 시준시켜 상기 회전 다면경에 입사시키는 시준 렌즈; 및상기 시편에서 반사된 테라헤르츠 빔을 집속시켜 상기 검출기에 입사시키는 집광 렌즈를 더 포함하는 테라헤르츠 반사 영상 시스템
7 7
테라헤르츠 빔을 출력하는 광원;포물면 거울을 이용하여 상기 광원으로부터 입사되는 테라헤르츠 빔을 시편이 위치한 방향으로 반사시키는 포물면 회전경; 상기 포물면 회전경에서 반사된 테라헤르츠 빔을 상기 시편에 입사시키며, 상기 포물면 상기 회전 다면경에서 반사된 테라헤르츠 빔의 주광선이 렌즈의 광축에 대하여 평행해지도록 보정하는 텔레센트릭 세타 렌즈; 및상기 시편에서 반사된 테라헤르츠 빔을 검출하는 검출기를 포함하고,상기 포물면 거울은,상기 광원으로부터 입사되는 테라헤르츠 빔을 시준시켜 상기 텔레센트릭 세타 렌즈로 반사하며, 상기 포물면 회전경은,회전축에 결합된 포물면 거울을 기 설정된 방향으로 회전하여 테라헤르츠 빔의 반사 방향을 변경함으로써, 상기 시편에 입사되는 테라헤르츠 빔의 위치를 이동시키는 테라헤르츠 반사 영상 시스템
8 8
테라헤르츠 빔을 출력하는 광원;회전축에 결합된 포물면 거울을 이용하여 상기 광원으로부터 입사되는 테라헤르츠 빔을 실린더 형태의 시편이 위치한 방향으로 반사시키는 포물면 회전경; 및상기 실린더 형태의 시편에서 반사된 테라헤르츠 빔을 검출하는 검출기를 포함하고,상기 포물면 거울은,상기 광원으로부터 입사되는 테라헤르츠 빔이 상기 실린더 형태의 시편의 내측에 수직 입사되도록 반사하며, 상기 포물면 회전경은,회전축에 결합된 포물면 거울을 기 설정된 방향으로 회전하여 상기 실린더 형태의 시편에 입사되는 테라헤르츠 빔의 위치를 이동시키는 테라헤르츠 반사 영상 시스템
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1 US20190120756 US 미국 FAMILY

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1 US2019120756 US 미국 DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 (주)아이오시스템 ICT R&D 바우처사업 산업용 테라헤르츠 비파괴 측정 시스템을 위한 광학계 개발