기술이전플랫폼 Tech-Bridge-이전대상기술

맞춤기술찾기

홈으로 가기

맞춤기술찾기

이전대상기술

프린트하기

이전대상기술

고분해능 검사 장치용 광헤드 및 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치

기술번호 : KST2019004580
담당센터 : 경기기술혁신센터
전화번호 : 031-8006-1570

상담신청 PDF 받기

상세정보
공개전문
공고전문
등록사항
통합행정정보
기술정보
과제정보
관련기술
심판사항

서지정보
인명정보
행정처리
청구항
지정국
패밀리정보
국가R&D 연구정보

이전 슬라이드 보기 다음 슬라이드 보기

요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약	발명의 일실시예에 따른 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치는 테라헤르츠파를 생성하는 테라헤르츠파 생성부와, 링빔을 검사 대상 물체로 집광시키는 링빔 집광부; 및 상기 테라헤르츠파 생성부 및 상기 링빔 집광부 사이에 배치되고, 상기 테라헤르츠파 생성부로부터 입사되는 테라헤르츠파를 반사시켜 링(ring) 빔을 형성하는 제 1 엑시콘 미러 및, 상기 제 1 엑시콘 미러로부터 반사된 링빔을 상기 링빔 집광부로 반사시키는 제 2 엑시콘 미러로 구성되는 링빔 형성부를 포함할 수 있다.
Int. CL	G01N 21/3581 (2014.01.01) G02B 5/00 (2006.01.01)
CPC	G01N 21/3581(2013.01) G01N 21/3581(2013.01)
출원번호/일자	1020170142196 (2017.10.30)
출원인	한국식품연구원
등록번호/일자	10-2043880-0000 (2019.11.06)
공개번호/일자	10-2019-0047864 (2019.05.09) 문서열기
공고번호/일자	(20191202) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태	등록
심사진행상태	수리
심판사항
구분	신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자	Y (2017.10.30)
심사청구항수	21

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호	이름	국적	주소
1	한국식품연구원	대한민국	전라북도 완주군

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호	이름	주소
1	옥경식	경기도 오산시 여계산로 , *
2	신희준	서울특별시 송파구
3	최성욱	전라북도 완주군

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호	이름	국적	주소
1	특허법인태하	대한민국	경기도 수원시 영통구 봉영로 **, *호(영통동, 한솔프라자)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호	이름	국적	주소
1	한국식품연구원		전라북도 완주군

번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호	서류명	접수/발송일자	처리상태	접수/발송번호
1	[특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application	2017.10.30	수리 (Accepted)	1-1-2017-1070454-03
2	선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search	2018.09.07	수리 (Accepted)	9-1-9999-9999999-89
3	선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search	2018.12.04	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-6-2019-0006077-18
4	의견제출통지서 Notification of reason for refusal	2019.01.21	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-5-2019-0047533-64
5	[지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서 [Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)	2019.03.21	수리 (Accepted)	1-1-2019-0292050-57
6	[명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment	2019.04.16	보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment)	1-1-2019-0389363-84
7	[거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)	2019.04.16	수리 (Accepted)	1-1-2019-0389365-75
8	출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information	2019.07.08	수리 (Accepted)	4-1-2019-5135028-45
9	등록결정서 Decision to grant	2019.08.12	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-5-2019-0579346-11
10	출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information	2019.09.02	수리 (Accepted)	4-1-2019-5176835-79
11	[명세서등 보정]보정서(심사관 직권보정)	2019.11.21	보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment)	1-1-2019-5037508-35
12	출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information	2020.02.11	수리 (Accepted)	4-1-2020-5030341-61
13	출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information	2020.06.04	수리 (Accepted)	4-1-2020-5124131-17
14	출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information	2020.09.08	수리 (Accepted)	4-1-2020-5203003-57

번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호	청구항
1	1 테라헤르츠파를 생성하는 테라헤르츠파 생성부;내부에 제 2 홀을 포함하여 링 형상을 가지며, 링빔을 검사 대상 물체로 집광시키는 링빔 집광부; 및상기 테라헤르츠파 생성부 및 상기 링빔 집광부 사이에 배치되고, 상기 테라헤르츠파 생성부로부터 입사되는 테라헤르츠파를 2개의 외면에서 서로 다른 각도로 반사시켜 링 형태를 갖는 링(ring) 빔을 형성하는 제 1 엑시콘 미러 및, 상기 제 1 엑시콘 미러의 외면에 대응되는 경사진 반사면을 가지며 상기 제 1 엑시콘 미러로부터 반사된 링빔을 상기 링빔 집광부로 반사시키고, 상기 경사진 반사면에서 반사된 링빔은 상기 테라헤르츠파 생성부로부터 입사되는 테라헤르츠파와 평행한 제 2 엑시콘 미러로 구성되는 링빔 형성부를 포함하는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치
2	2 제 1 항에 있어서,상기 제 1 엑시콘 미러는,상기 테라헤르츠파 생성부로부터 입사되는 테라헤르츠파의 경로상에 배치되는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치
3	3 제 1 항에 있어서,상기 제 2 엑시콘 미러는,상기 테라헤르츠파 생성부 및 상기 제 1 엑시콘 미러 사이에 배치되고, 상기 테라헤르츠파 생성부로부터 입사되는 테라헤르츠파가 통과하여 상기 제 1 엑시콘 미러에 입사되도록 내부에 제 1 홀이 구비되는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치
4	4 삭제
5	5 제 1 항에 있어서,상기 제 2 엑시콘 미러는,상기 제 1 엑시콘 미러의 외면과 평행하게 형성된 반사면을 포함하는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치
6	6 제 1 항에 있어서,상기 검사 대상 물체로부터 생성된 산란광을 검출하는 산란광 검출부를 더 포함하는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치
7	7 제 6 항에 있어서,상기 산란광 검출부는,상기 링빔 집광부의 내부에 구비되고, 상기 검사 대상 물체로부터 반사되는 산란광을 검출하는 반사 산란광 검출부를 포함하는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치
8	8 제 7 항에 있어서,상기 링빔 집광부는 내부에 제 2 홀을 포함하는 렌즈이고,상기 반사 산란광 검출부는,상기 제 2 홀에 배치되어, 검사 대상 물체로부터 반사되는 산란광을 검출하는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치
9	9 제 8 항에 있어서,상기 제 2 홀 및 상기 제 1 엑시콘 미러 사이에 기계적으로 연결되고, 상기 제 1 엑시콘 미러를 이동시켜 포커싱 위치를 가변시키는 이동부를 더 포함하는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치
10	10 제 1 항에 있어서,상기 링빔 집광부는,상기 제 1 엑시콘 미러 및 검사대상물체의 사이에 배치되는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치
11	11 제 6 항에 있어서,상기 산란광 검출부는,상기 검사 대상 물체로부터 투과되는 산란광을 검출하는 투과 산란광 검출부를 포함하는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치
12	12 제 11 항에 있어서,상기 투과 산란광 검출부는,상기 검사 대상 물체를 투과한 링빔의 내부에 배치되는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치
13	13 제 1 항에 있어서,상기 검사 대상 물체를 투과한 링빔을 검출하는 링빔 검출부를 더 포함하는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치
14	14 제 1 항에 있어서,상기 테라헤르츠 생성부로부터 입사되는 테라헤르츠파의 각도를 작게 변경시켜 상기 제 1 엑시콘 미러로 입사시키는 각도 변경부를 더 포함하는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치
15	15 제 1 항에 있어서,제 2 엑시콘 미러의 크기는 제 1 엑시콘 미러의 크기보다 큰, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치
16	16 내부에 제 2 홀을 포함하여 링 형상을 가지며, 링빔을 검사 대상 물체로 집광시키는 링빔 집광부; 및테라헤르츠파 생성부 및 상기 링빔 집광부 사이에 배치되고, 테라헤르츠파 생성부로부터 입사되는 테라헤르츠파를 외면에서 반사시켜 링 형태를 갖는 링(ring) 빔을 형성하는 제 1 엑시콘 미러 및, 상기 제 1 엑시콘 미러의 외면에 대응되는 경사진 반사면을 가지며 상기 제 1 엑시콘 미러로부터 반사된 링빔을 상기 링빔 집광부로 반사시키고, 상기 경사진 반사면에서 반사된 링빔은 상기 테라헤르프파 생성부로부터 입사되는 테라헤르츠파와 평행한 제 2 엑시콘 미러로 구성되는 링빔 형성부를 포함하는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치용 광헤드
17	17 제 16 항에 있어서,상기 제 1 엑시콘 미러는,상기 테라헤르츠파 생성부로부터 입사되는 테라헤르츠파의 경로상에 배치되는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치용 광헤드
18	18 제 16 항에 있어서,상기 제 2 엑시콘 미러는,상기 테라헤르츠파 생성부 및 상기 제 1 엑시콘 미러 사이에 배치되고, 상기 테라헤르츠파 생성부로부터 입사되는 테라헤르츠파가 통과하여 상기 제 1 엑시콘 미러에 입사되도록 내부에 제 1 홀이 구비되는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치용 광헤드
19	19 삭제
20	20 제 16 항에 있어서,상기 제 2 엑시콘 미러는,상기 제 1 엑시콘 미러의 외면과 평행하게 형성된 반사면을 포함하는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치용 광헤드
21	21 제 16 항에 있어서,상기 검사 대상 물체로부터 생성된 산란광을 검출하는 산란광 검출부를 더 포함하는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치용 광헤드
22	22 제 21 항에 있어서,상기 산란광 검출부는,상기 링빔 집광부의 내부에 구비되고, 상기 검사 대상 물체로부터 반사되는 산란광을 검출하는 반사 산란광 검출부를 포함하는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치용 광헤드
23	23 제 16 항에 있어서,상기 링빔 집광부의 내부 및 상기 제 1 엑시콘 미러 사이에 기계적으로 연결되고, 상기 제 1 엑시콘 미러를 이동시켜 포커싱 위치를 가변시키는 이동부를 더 포함하는, 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치용 광헤드

순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번	연구부처	주관기관	연구사업	연구과제
1	과학기술정보통신부	한국식품연구원	한국식품연구원 주요사업	식품이물 검출용 테라헤르츠 고분해능 영상기술 개발

본 등록정보는 참고용으로 법적증빙자료로 사용할 수 없습니다.
데이터 이관에 따른 소요기간(1일)으로 인하여 등록원부와 일부 차이가 발생할 수 있으며, 일부 정보(부기, 상세 주소 등)를 제공하지 않고 있습니다.
법적증빙자료로 활용하시거나 더 자세한 정보를 보시려면 등록원부를 발급받아 사용하시기 바랍니다.

이전대상기술 뷰 페이지 등록사항 > 특허 등록번호 표입니다.
특허 등록번호	10-2043880-0000

권리란

표시번호, 사항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 등록사항 > 권리란 표입니다.
표시번호	사항
1	출원 연월일 : 20171030 출원 번호 : 1020170142196 공고 연월일 : 20191202 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20190812 청구범위의 항수 : 21 유별 : G01N 21/3581 발명의 명칭 : 고분해능 검사 장치용 광헤드 및 링빔을 이용한 고분해능 검사 장치 존속기간(예정)만료일 :

특허권자란

순위번호, 사항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 등록사항 > 특허권자란 표입니다.
순위번호	사항
1	(권리자) 한국식품연구원 전라북도 완주군...

등록료란

순위번호, 사항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 등록사항 > 등록료란 표입니다.
제 1 - 3 년분	금 액	432,000 원	2019년 11월 07일	납입

본 '원본보기 서비스'는 참고용이므로, 일부 오류 및 누락이 발생할 수 있습니다.
정확한 서류를 확인하시려면 해당 웹사이트에서 조회하시기 바랍니다. (특허로 바로가기: http://www.patent.go.kr)
해당 서비스는 점검으로 인해 매주 일요일 00:00 ~ 02:00까지 이용이 중단됩니다.

번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송번호의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 통합행정정보 > 등록료란 표입니다.
번호	서류명	접수/발송일자	처리상태	접수/발송번호
1	[특허출원]특허출원서	2017.10.30	수리 (Accepted)	1-1-2017-1070454-03
2	선행기술조사의뢰서	2018.09.07	수리 (Accepted)	9-1-9999-9999999-89
3	선행기술조사보고서	2018.12.04	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-6-2019-0006077-18
4	의견제출통지서	2019.01.21	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-5-2019-0047533-64
5	[지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서	2019.03.21	수리 (Accepted)	1-1-2019-0292050-57
6	[명세서등 보정]보정서	2019.04.16	보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment)	1-1-2019-0389363-84
7	[거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서	2019.04.16	수리 (Accepted)	1-1-2019-0389365-75
8	출원인정보변경(경정)신고서	2019.07.08	수리 (Accepted)	4-1-2019-5135028-45
9	등록결정서	2019.08.12	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-5-2019-0579346-11
10	출원인정보변경(경정)신고서	2019.09.02	수리 (Accepted)	4-1-2019-5176835-79
11	[명세서등 보정]보정서(심사관 직권보정)	2019.11.21	보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment)	1-1-2019-5037508-35
12	출원인정보변경(경정)신고서	2020.02.11	수리 (Accepted)	4-1-2020-5030341-61
13	출원인정보변경(경정)신고서	2020.06.04	수리 (Accepted)	4-1-2020-5124131-17
14	출원인정보변경(경정)신고서	2020.09.08	수리 (Accepted)	4-1-2020-5203003-57

중요키워드

이전대상기술 뷰 페이지 관련기술 표
[KST2020014973][한국식품연구원]	고속 스캐닝 단층 촬영 장치	새창보기
[KST2017008314][한국식품연구원]	전자기파 검출 모듈 및 전자기파를 이용한 투과 검출 장치(MODULE FOR DETECTING ELECTROMAGNETIC WAVE AND, APPARATUS FOR DETECTING TRANSMISSION OF ELECTROMAGNETIC WAVE INCLUDING ADJACENT DETECTOR)	새창보기
[KST2018005557][한국식품연구원]	산란광 검출모듈 및 테라헤르츠파 베셀빔을 이용한 고분해능 검사 장치(SCATTEED LIGHT DETECTING MODULE AND HIGH RESOLUTION DETECTING APPARATUS USING TERAHERTZ BESSEL BEAM)	새창보기
[KST2020000760][한국식품연구원]	고효율 투과영상 물체검사모듈 및 물체검사장치	새창보기
[KST2019025903][한국식품연구원]	고분해능 테라헤르츠파 집광모듈, 산란광 검출모듈 및 테라헤르츠파 베셀빔을 이용한 고분해능 검사 장치	새창보기
[KST2019025908][한국식품연구원]	테라헤르츠파 베셀빔을 이용한 고분해능 테라헤르츠파 집광모듈	새창보기
[KST2020001607][한국식품연구원]	농축산물 성분 검사용 모듈 및 휴대형 검사장치	새창보기
[KST2019025897][한국식품연구원]	테라헤르츠파 베셀빔을 이용한 고분해능 검사 장치	새창보기
[KST2019004579][한국식품연구원]	대면적 고속 물체 검사 장치	새창보기
[KST2021005825][한국식품연구원]	농축산물 검사 자동화 장치 및 검사 자동화 모듈	새창보기

의뢰할 수요기술을 선택합니다

담당자명, 주소, 이메일, 연락처, 내용, 파일선택의 정보를 제공하는 도입희망기술 뷰 페이지 의뢰하기 입력표입니다.
담당자명		활동구분※필수입력항목
이메일		연락처	- -
내용
파일선택	파일선택

기술이전 상담신청 드립니다.
기업명
신청자 성명		직책
연락처	- -
이메일	@
상담희망전담센터	※ 사업장(본점) 소재지가 속한 지역의 기술혁신센터를 지정해주세요.