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하기 화학식 1로 표시되는 피렌 부가된 나프탈이미드-디피콜릴아민(pyrene appended naphthalimide-dipicolylamine) 유도체 또는 이의 약학적으로 허용가능한 염
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하기 화학식 1로 표시되는 피렌 부가된 나프탈이미드-디피콜릴아민 또는 이의 약학적으로 허용가능한 염을 유효성분으로 포함하는 아연 검출용 조성물
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제2항에 있어서, 상기 아연 검출은 비율계량(ratiometric) 형광 변화를 확인하기 위해 385 nm 및 530 nm에서 형광 세기 비율(I530 nm/I385 nm)을 측정하여 검출하는 것을 특징으로 하는 아연 검출용 조성물
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4 |
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제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 아연은 Zn2+ 이온인 것을 특징으로 하는 아연 검출용 조성물
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하기 화학식 1로 표시되는 피렌 부가된 나프탈이미드-디피콜릴아민 유도체 또는 이의 약학적으로 허용가능한 염을 유효성분으로 포함하는 아연 검출용 형광 화학 센서
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6 |
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제5항에 있어서, 상기 아연 검출은 비율계량(ratiometric) 형광 변화를 확인하기 위해 385 nm 및 530 nm에서 형광 세기 비율(I530 nm/I385 nm)을 측정하여 검출하는 것을 특징으로 하는 아연 검출용 형광 화학 센서
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제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 아연은 Zn2+ 이온인 것을 특징으로 하는 아연 검출용 형광 화학 센서
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하기 화학식 1로 표시되는 피렌 부가된 나프탈이미드-디피콜릴아민 유도체 또는 이의 약학적으로 허용가능한 염을 유효성분으로 포함하는 아연 검출용 키트
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제1항에 따른 화학식 1로 표시되는 피렌 부가된 나프탈이미드-디피콜릴아민 유도체 또는 이의 약학적으로 허용가능한 염에 아연이 포함된 시료를 첨가하여 반응시키는 단계; 및상기 반응시킨 반응물의 형광 파장, 형광 세기 및 광학적 변화로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상의 지표를 측정하는 단계를 포함하는 아연 검출방법
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10
제9항에 있어서, 상기 지표 측정은 비율계량(ratiometric) 형광 변화를 확인하기 위해 385 nm 및 530 nm에서 형광 세기 비율(I530 nm/I385 nm)을 측정하는 것을 특징으로 하는 아연 검출방법
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제9항 또는 제10항에 있어서, 상기 아연은 Zn2+ 이온인 것을 특징으로 하는 아연 검출방법
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