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멀티 프로브 시스템

  • 기술번호 : KST2019005524
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 여러 개의 기판을 동시에 검사할 수 있는 멀티 프로브 시스템에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시 예에 따르면, 상기 기판, 상기 기판을 지지하는 척 및 상기 기판과 접촉하여 상기 기판을 검사할 수 있는 프로브 카드를 공급하는 공급 유닛과 상기 공급 유닛에서 공급받은 상기 기판, 상기 척 그리고 상기 프로브 카드를 하나의 검사 카트리지로 결합시키는 얼라이너 유닛과 그리고 상기 얼라이너 유닛에서 합쳐진 상기 검사 카트리지가 놓이는 검사 챔버와 상기 검사 챔버에 놓인 상기 검사 카트리지와 전기적으로 연결되어 상기 검사 카트리지의 상기 기판을 검사하는 테스트부를 포함하는 검사 유닛을 포함하되 상기 검사 챔버는 복수개가 제공되며, 하나의 검사 챔버에는 하나의 상기 검사 카트리지가 놓이는 멀티 프로브 시스템을 포함한다.
Int. CL G01R 31/28 (2006.01.01) G01R 1/073 (2006.01.01) G01R 1/04 (2006.01.01)
CPC G01R 31/2868(2013.01) G01R 31/2868(2013.01) G01R 31/2868(2013.01) G01R 31/2868(2013.01) G01R 31/2868(2013.01) G01R 31/2868(2013.01) G01R 31/2868(2013.01)
출원번호/일자 1020170153155 (2017.11.16)
출원인 한국생산기술연구원, 한국전기연구원, 한국기계연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0056091 (2019.05.24) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.06.18)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 대한민국 충청남도 천안시 서북구
2 한국전기연구원 대한민국 경상남도 창원시 성산구
3 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 남경태 인천광역시 연수구
2 이상무 경기도 용인시 기흥구
3 이승준 경기도 군포시 군포로 ***, *
4 이광희 경기도 수원시 권선구
5 추성원 경기도 수원시 권선구
6 정순종 서울특별시 종로구
7 전재호 경상남도 창원시 성산구
8 김인성 경상남도 창원시 성산구
9 김민수 부산광역시 북구
10 구보근 부산광역시 사상구
11 차현애 경상남도 창원시 의창구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이룸리온 대한민국 서울특별시 서초구 사평대로 ***, *층 (반포동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 충청남도 천안시 서북구
2 한국전기연구원 경상남도 창원시 성산구
3 한국기계연구원 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.11.16 수리 (Accepted) 1-1-2017-1140658-85
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.11.28 수리 (Accepted) 4-1-2017-5193093-72
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2018.06.18 수리 (Accepted) 1-1-2018-0593485-96
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.07.02 수리 (Accepted) 4-1-2018-5123030-77
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.01.21 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.02.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2019-0019722-64
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.03.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0204888-40
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.05.16 수리 (Accepted) 1-1-2019-0501642-13
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.05.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0501643-69
10 등록결정서
Decision to grant
2019.09.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0665088-76
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 처리 공정이 끝난 다수개의 기판을 동시에 검사할 수 있는 멀티 프로브 시스템에 있어서, 상기 기판, 상기 기판을 지지하는 척 및 상기 기판과 접촉하여 상기 기판을 검사할 수 있는 프로브 카드를 공급하는 공급 유닛과;상기 공급 유닛에서 공급받은 상기 기판, 상기 척 그리고 상기 프로브 카드를 하나의 검사 카트리지로 결합시키는 얼라이너 유닛과;상기 검사 카트리지가 검사 유닛으로 들어가기 전에 상기 검사 카트리지가 머무르는 대기 공간으로서, 상기 얼라이너 유닛에 인접하게 위치하는 대기 유닛 및 상기 얼라이너 유닛에서 합쳐진 상기 검사 카트리지가 놓이는 검사 챔버와 상기 검사 챔버에 놓인 상기 검사 카트리지와 전기적으로 연결되어 상기 검사 카트리지의 상기 기판을 검사하는 테스트부를 포함하는 검사 유닛을 포함하되,상기 검사 챔버는 복수개가 제공되며, 하나의 검사 챔버에는 하나의 상기 검사 카트리지가 놓이는 멀티 프로브 시스템
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 테스트부는 복수개의 상기 검사 챔버와 각각 결합되어, 상기 복수개의 검사 카트리지를 동시에 검사하는 멀티 프로브 시스템
4 4
삭제
5 5
제1항에 있어서,상기 공급 유닛은,복수개의 상기 기판을 가지는 기판 공급부와;복수개의 상기 척을 가지는 척 공급부와; 그리고복수개의 상기 프로브 카드를 가지는 프로브 카드 공급부를; 포함하며,상기 척 공급 부 및 상기 프로브 카드 공급부는 서로 적층되어 위치하는 멀티 프로브 시스템
6 6
제5항에 있어서,상기 멀티 프로브 시스템은 상기 기판, 상기 척, 상기 프로브 카드 그리고 상기 얼라이너 유닛에서 생성되는 검사 전 상기 검사 카트리지 또는 상기 검사 유닛에서 검사 공정이 끝난 상기 검사 카트리지를 이송 시킬 수 있는 이송 로봇을 가지는 이송 유닛을 더 포함하는 멀티 프로브 시스템
7 7
제1항에 있어서, 상기 얼라이너 유닛은 내부에 수용 공간을 가지는 얼라이너 챔버와;상기 얼라이너 챔버 내에 배치되며, 상기 기판, 상기 척 그리고 상기 프로브 카드를 결합시키는 얼라이너기를 포함하는 멀티 프로브 시스템
8 8
제1항에 있어서,상기 척의 내부에는 상기 척을 가열할 수 있는 척 가열부를 구비하는 멀티 프로브 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국생산기술연구원 국가과학기술연구회연구운영비지원 고속 멀티 프로빙 웨이퍼 검사 시스템 개발