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피검체에 근적외선을 조사하는 광원부;상기 광원부로부터 조사된 근적외선이 상기 피검체로부터 반사되는 빛을 직접 수광하는 디텍터부; 및상기 피검체가 안착되며 상기 피검체의 무게에 따라 하부 형태가 변하는 안착유닛;을 포함하고,상기 광원부는 상기 안착유닛의 하측에 위치되며, 상기 디텍터부의 양측에 대칭으로 위치되며,상기 안착유닛은,상부로 갈수록 직경이 커지는 원통 형태이고, 상기 피검체의 측면과 접촉하는 측면부; 및상기 측면부와 일체로 형성되고, 상기 측면부 내주면의 하단에서 상측으로 반구 형태로 연장되며 중앙에 원형홀을 포함하며, 상기 피검체의 하부와 접촉하는 탄성부;를 포함하며,상기 탄성부는 상기 피검체와 접촉되어 상기 피검체의 크기나 무게에 따라 반구 형태로 상측으로 볼록한 부분이 하측으로 변형되고,상기 측면부는 2 개의 측면홀을 포함하며,상기 측면홀에는 상기 피검체에 전류를 흘려 보내 상기 피검체에 흐르는 전기량을 측정하여 상기 피검체의 시듦을 측정하는 전극패드가 결합되는 근적외선 분광법을 이용한 비파괴 품질측정장치
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청구항 1에 있어서,상기 안착유닛은, 빛을 차단하고 탄성이 있는 실리콘 재질로 형성되며,상기 측면부와 일체로 형성되고, 상기 탄성부와 상기 측면부의 결합 위치에 대응하는 상기 측면부의 외주면으로부터 연장되어 원형의 테두리를 형성하는 테두리부; 및상기 측면부와 일체로 형성되고, 상기 측면부의 하단으로부터 하측으로 연장되는 원통 형태의 안착하부;를 더 포함하는 근적외선 분광법을 이용한 비파괴 품질측정장치
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청구항 1에 있어서,상기 안착유닛을 지지하는 지지유닛을 더 포함하며,상기 지지유닛은,상기 안착유닛과 결합되며 복수 개의 홀을 포함하는 링 형태의 받침부; 및상기 받침부를 지지하는 복수 개의 기둥부;를 포함하는 근적외선 분광법을 이용한 비파괴 품질측정장치
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청구항 1에 있어서,상기 광원부와 상기 디텍터부를 수용하는 하우징부; 및상부가 상기 안착유닛 하부와 결합되며 하부가 상기 하우징부와 접촉되어 상기 하우징부 내부를 비추는 외부의 빛을 차단하는 차단부;를 더 포함하는 근적외선 분광법을 이용한 비파괴 품질측정장치
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청구항 7에 있어서,상기 차단부는,상부가 상기 안착유닛의 하부와 결합되며 중공을 갖는 원판 형태의 원판부; 및상기 원판부와 일체로 형성되며, 상부가 상기 원판부의 내주면과 결합되고 하부가 상기 하우징부와 접촉되며 상하부가 개방된 원통 형태의 원통부;를 포함하는 근적외선 분광법을 이용한 비파괴 품질측정장치
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청구항 1에 있어서,상기 광원부 및 상기 디텍터부 하측에 위치되며 상기 피검체의 무게를 측정하는 로드셀을 더 포함하는 근적외선 분광법을 이용한 비파괴 품질측정장치
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청구항 1에 있어서,상기 광원부 및 상기 디텍터부를 제어하고, 상기 디텍터부에서 송신되는 신호를 수신하여 이를 분석하고 수치화하는 제어부; 및터치로 조작 가능한 터치스크린을 포함하며, 상기 제어부로부터 데이터를 수신받아 시각화하는 디스플레이부;를 더 포함하는 근적외선 분광법을 이용한 비파괴 품질측정장치
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청구항 1에 있어서,몸체부; 및상기 광원부, 상기 디텍터부, 상기 안착유닛, 및 상기 피검체를 수용하여 외부의 빛을 차단하며 상기 광원부에서 조사된 빛을 흡수하는 커버부;를 더 포함하며,상기 커버부는,일측이 상기 몸체부와 힌지결합되는 제1 커버부; 및상기 제1 커버부와 결합되어 상기 광원부, 상기 디텍터부, 상기 안착유닛, 및 상기 피검체를 차폐하며, 상기 제1 커버부와 다른 방향으로 개폐되도록 타측이 상기 몸체부와 힌지결합되는 제2 커버부;를 포함하고,상기 제1 커버부는 ㄷ자 형태로 절곡된 판형태로 절곡된 일측이 상기 몸체부와 힌지결합을 하고 절곡된 타측에 제1 커버부를 개폐하는 손잡이를 포함하며,상기 제2 커버부는 두 면이 개방된 직육면체 형태로 형성된 근적외선 분광법을 이용한 비파괴 품질측정장치
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