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레이더 반사 면적(Radar Cross Section, RCS) 측정 장치에 있어서,레이더 반사 면적 측정 프로그램이 저장된 메모리; 및상기 메모리에 저장된 프로그램을 실행하는 프로세서를 포함하며,상기 프로세서는 상기 레이더 반사 면적 측정 프로그램의 실행에 따라, 기설정된 물리 광학(Physical Optics, PO) 근사법 및 물리 광학 회절 이론(Physical Theory of Diffraction, PTD) 근사법을 사용하여 입사 전자기파(incident electromagnetic wave)에 의해 산란체(scatterer)의 조명 영역 및 모서리 영역에 유도된 표면 전류를 각각 추정하고, 상기 PO 근사법을 통해 추정된 제 1 표면 전류에 의한 제 1 자계 값, 상기 PTD 근사법을 통해 추정된 제 2 표면 전류에 의한 제 2 자계 값, 및 상기 입사 전자기파에 의한 제 3 자계 값에 기초하여 상기 산란체의 음영 영역에 유도된 제 3 표면 전류를 추정하고, 상기 제 1 및 제 3 표면 전류의 합에 따른 표면 전류 초기 값을 기설정된 자기장 적분 방정식(Magnetic Field Integral Equation, MFIE)에 기반한 반복적 물리 광학(Iterative Physical Optics, IPO) 근사법을 통해 반복 연산 처리하여 제 1 산란파 전계를 산출하고, 상기 제 1 산란파 전계 및 상기 제 2 표면 전류에 기초한 제 2 산란파 전계를 합산하여 총 산란파 전계를 산출하되, 상기 IPO에 따른 반복 연산 처리 시 전류 크기가 발산하는 순간 반복 절차를 중지하고,상기 총 산란파 전계 및 상기 입사 전자기파의 전력의 진폭 비에 기초하여 상기 산란체의 레이더 반사 면적을 산출하고, 상기 메모리에 상기 산출된 레이더 반사 면적을 상기 입사 전자기파와 매칭하여 산란체 식별 기준 정보로서 저장하되,복수의 종류의 산란체 별로 기설정된 물리적 특성에 따른 변수를 적용하여 상기 레이더 반사 면적을 산출하여 저장하는, 레이더 반사 면적 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 프로세서는,상기 IPO 기법으로서 자코비(Jacobi) 반복법, 가우스 지델(Gauss-Seidel) 반복법, SOR(Successive Over Relaxation) 반복법 및 리처드슨(Richardson) 반복법 중 적어도 하나를 사용하여 상기 반복 연산을 처리하는, 레이더 반사 면적 측정 장치
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제 2 항에 있어서,상기 프로세서는,사전에 설정된 복수의 산란체 크기 범위 중 상기 산란체의 형상에 따른 크기 값이 해당하는 크기 범위를 검출하고,상기 검출된 크기 범위에 사전에 매칭된 IPO 근사법 중 적어도 하나를 선택하여 상기 반복 연산을 처리하는, 레이더 반사 면적 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 메모리에는,상기 복수의 종류의 산란체 별로 크기, 형상 및 매질 중 적어도 하나에 따른 물리적 특성에 대응하여 설정된 반사 계수 및 회절 계수가 저장되어 있으며,상기 프로세서는 상기 산란체 별로 해당하는 상기 반사 계수 및 회절 계수를 선택하여 상기 PO, IPO 및 PTD 근사법에 적용하는 것인, 레이더 반사 면적 측정 장치
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제 1 항에 있어서,임의의 방향을 향해 기설정된 전자기파를 송출하고, 상기 송출된 전자기파에 대응하는 산란파를 측정하는 송수신기를 더 포함하며,상기 프로세서는,상기 메모리에 저장된 산란체 식별 기준 정보 중 상기 송출된 전자기파 및 상기 측정된 산란파에 대응하는 상기 입사 전자기파 및 상기 레이더 반사 면적을 검출하여 대상체를 식별하는, 레이더 반사 면적 측정 장치
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레이더 반사 면적(Radar Cross Section, RCS) 측정 장치를 통한 레이더 반사 면적 측정 방법에 있어서,기설정된 물리 광학(Physical Optics, PO) 근사법 및 물리 광학 회절 이론(Physical Theory of Diffraction, PTD) 근사법을 사용하여 입사 전자기파(incident electromagnetic wave)에 의해 산란체(scatterer)의 조명 영역 및 모서리 영역에 유도된 제 1 및 제 2 표면 전류를 각각 추정하는 단계;상기 PO 근사법을 통해 추정된 제 1 표면 전류에 의한 제 1 자계 값, 상기 PTD 근사법을 통해 추정된 제 2 표면 전류에 의한 제 2 자계 값, 및 상기 입사 전자기파에 의한 제 3 자계 값에 기초하여 상기 산란체의 음영 영역에 유도된 제 3 표면 전류를 추정하는 단계;상기 제 1 및 제 3 표면 전류의 합에 따른 표면 전류 초기 값을 기설정된 자기장 적분 방정식(Magnetic Field Integral Equation, MFIE)에 기반한 반복적 물리 광학(Iterative Physical Optics, IPO) 근사법을 통해 반복 연산 처리하여 제 1 산란파 전계를 산출하고, 상기 IPO에 따른 반복 연산 처리 시 전류 크기가 발산하는 순간 반복 절차를 중지하는 단계; 상기 제 1 산란파 전계 및 상기 제 2 표면 전류에 기초한 제 2 산란파 전계를 합산하여 총 산란파 전계를 산출하는 단계; 상기 총 산란파 전계 및 상기 입사 전자기파의 전력의 진폭 비에 기초하여 상기 산란체의 레이더 반사 면적을 산출하는 단계; 및상기 산출된 레이더 반사 면적을 상기 입사 전자기파와 매칭하여 산란체 식별 기준 정보로서 저장하는 단계를 포함하며,복수의 종류의 산란체 별로 기설정된 물리적 특성에 따른 변수를 적용하여 상기 레이더 반사 면적을 산출하여 저장하는 것인, 레이더 반사 면적 측정 방법
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제 7 항에 있어서,상기 IPO 기법으로서 자코비(Jacobi) 반복법, 가우스 지델(Gauss-Seidel) 반복법, SOR(Successive Over Relaxation) 반복법 및 리처드슨(Richardson) 반복법 중 적어도 하나를 사용하여 상기 반복 연산을 처리하는, 레이더 반사 면적 측정 방법
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제 8 항에 있어서,상기 IPO 근사법을 통해 반복 연산 처리하여 반사파 전계를 산출하는 단계는,사전에 설정된 복수의 산란체 크기 범위 중 상기 산란체의 형상에 따른 크기 값이 해당하는 크기 범위를 검출하는 단계; 및상기 검출된 크기 범위에 사전에 매칭된 IPO 근사법 중 적어도 하나를 선택하여 상기 반복 연산을 처리하는 단계를 포함하는, 레이더 반사 면적 측정 방법
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제 7 항에 있어서,상기 조명 영역 및 모서리 영역에 유도된 제 1 및 제 2 표면 전류를 각각 추정하는 단계 이전에,상기 복수의 종류의 산란체 별로 크기, 형상 및 매질 중 적어도 하나에 따른 물리적 특성에 대응하여 설정된 반사 계수 및 회절 계수를 저장하는 단계를 더 포함하며,상기 산란체 별로 해당하는 상기 반사 계수 및 회절 계수를 선택하여 상기 PO, IPO 및 PTD 근사법에 적용하는 것인, 레이더 반사 면적 측정 방법
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제 7 항에 있어서,상기 산출된 레이더 반사 면적을 상기 입사 전자기파와 매칭하여 산란체 식별 기준 정보로서 저장하는 단계 이후에,임의의 방향을 향해 기설정된 전자기파를 송출하고, 상기 송출된 전자기파에 대응하는 산란파를 측정하는 단계; 및상기 저장된 산란체 식별 기준 정보 중 상기 송출된 전자기파 및 상기 측정된 산란파에 대응하는 상기 입사 전자기파 및 상기 레이더 반사 면적을 검출하여 대상체를 식별하는 단계를 더 포함하는, 레이더 반사 면적 측정 방법
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