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변수 구간별 불량 발생 지수를 도출하여 공정 불량 원인을 파악하고 시각화하는 방법

  • 기술번호 : KST2019006226
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 변수 구간별 불량 발생 지수를 도출하여 공정 불량 원인을 파악하고 시각화하는 방법이 개시된다. 이러한 공정 불량 원인 분석 방법은, 복수의 공정들에 각각 설치되는 적어도 하나 이상의 센서에서 측정된 품질 검사 결과 데이터를 포함하는 제1 데이터와 공정 데이터를 포함하는 제2 데이터를 획득하는 단계와, 제1 데이터 및 제2 데이터 각각의 개별 데이터를 전처리하는 단계와, 전처리된 개별 데이터를 통합하여 분석대상 데이터를 생성하는 단계와, 최종 품질에 영향을 미치는 정보를 수치로 표현하는 단변량 분석에 기초하여 불량 원인을 개별 변수별로 분석하는 단계와, 단변량 분석에 기초한 분석 결과에 따라 불량 원인 지수를 도출하는 단계를 포함한다.
Int. CL G06Q 10/06 (2012.01.01) G06Q 50/04 (2012.01.01) G05B 19/418 (2006.01.01)
CPC G06Q 10/06395(2013.01) G06Q 10/06395(2013.01) G06Q 10/06395(2013.01)
출원번호/일자 1020170158863 (2017.11.24)
출원인 한국생산기술연구원
등록번호/일자 10-1998972-0000 (2019.07.04)
공개번호/일자 10-2019-0060548 (2019.06.03) 문서열기
공고번호/일자 (20190710) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.11.24)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 대한민국 충청남도 천안시 서북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김동일 서울시 마포구
2 김보현 경기도 수원시 영통구
3 구정인 경기도 화성
4 이상형 서울시 도봉구
5 이제희 서울시 동작구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김인한 대한민국 서울특별시 서초구 사임당로 **, **층 (서초동, 신영빌딩)(특허법인세원)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 대한민국 충청남도 천안시 서북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.11.24 수리 (Accepted) 1-1-2017-1176067-99
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.05.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.07.02 수리 (Accepted) 4-1-2018-5123030-77
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.07.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2018-0092902-97
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.07.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0493491-94
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2018.09.20 수리 (Accepted) 1-1-2018-0943208-21
7 보정요구서
Request for Amendment
2018.10.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2018-0154281-42
8 [출원서등 보정]보정서(납부자번호)
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment(Payer number)
2018.10.05 수리 (Accepted) 1-1-2018-0980022-48
9 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2018.10.22 수리 (Accepted) 1-1-2018-1041311-48
10 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2018.11.20 수리 (Accepted) 1-1-2018-1158524-76
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.12.20 수리 (Accepted) 1-1-2018-1286663-27
12 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.12.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-1286662-82
13 보정요구서
Request for Amendment
2018.12.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2018-0201319-81
14 보정요구서
Request for Amendment
2018.12.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2018-0201388-10
15 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2018.12.24 수리 (Accepted) 1-1-2018-1295382-14
16 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2018.12.24 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2018-1295520-18
17 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2018.12.24 수리 (Accepted) 1-1-2018-1295464-59
18 서류반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document
2019.01.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2019-0000707-13
19 서류반려통지서
Notice for Return of Document
2019.02.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2019-0022561-59
20 등록결정서
Decision to grant
2019.06.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0451402-13
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
소프트웨어 모듈을 저장하는 저장부와 상기 저장부에 연결되어 상기 소프트웨어 모듈을 수행하는 제어부를 구비하는 컴퓨팅 장치에 의해 변수 구간별 불량 발생 지수를 도출하여 공정 불량 원인을 파악하고 시각화하는 공정 불량 원인 분석 방법으로서,복수의 공정들에 각각 설치되는 적어도 하나 이상의 센서에서 측정된 품질 검사 결과 데이터를 포함하는 제1 데이터와 공정 데이터를 포함하는 제2 데이터를 획득하는 단계;상기 제1 데이터 및 상기 제2 데이터 각각의 개별 데이터를 전처리하는 단계;상기 전처리된 개별 데이터를 통합하여 분석대상 데이터를 생성하는 단계;상기 공정 불량 원인을 개별 변수별로 최종 품질에 영향을 미치는 정보를 수치로 표현하는 단변량 분석에 기초하여 분석하는 단계; 및상기 단변량 분석에 기초한 분석 결과에 따라 불량 원인 지수를 도출하는 단계를 포함하며,상기 분석대상 데이터를 생성하는 단계에서 상기 개별 데이터를 통합하는 과정은, 불량 데이터 셋에서는 전체 데이터를 추출하고, 양품의 데이터 셋에서는 일부의 데이터만을 추출하여 통합 데이터 셋의 상기 분석대상 데이터를 생성하는, 공정 불량 원인 분석 방법
2 2
청구항 1에 있어서,상기 개별 데이터를 전처리하는 단계는, 변수 생성 과정, 숫자형 변수 변환 과정, 의미 있는 변수 생성 과정, 또는 이들의 조합을 포함하는, 공정 불량 원인 분석 방법
3 3
청구항 2에 있어서,상기 변수 생성 과정은 행렬 형태의 데이터를 개별 제품 기준으로 열 데이터로 변환하는 것을 포함하는, 공정 불량 원인 분석 방법
4 4
청구항 2에 있어서,상기 숫자형 변수 변환 과정은 명목형 변수를 포함하는 개별 데이터에서 명목형 변수를 신규 항목으로 설정하고 상기 명목형 변수의 해당 제품에 대한 신규 항목의 값을 바이너리로 처리하는, 공정 불량 원인 분석 방법
5 5
청구항 2에 있어서,상기 의미있는 변수 생성 과정은,선택되는 공정에서의 센싱값에 대한 평균, 최대값 또는 최소값에 기반하여 각 공정에서의 불량의 발생율을 얻고,상기 불량의 발생률이 높은 영역 또는 공정을 중심으로 분석데이터로서 사용하기 위해 선택하는 관심 데이터량을 상기 선택되는 공정에 대한 전체 분석데이터의 50% 이상이 되도록 하는, 공정 불량 원인 분석 방법
6 6
청구항 1에 있어서,상기 분석대상 데이터를 생성하는 단계는, 복수의 공정들을 통해 제조되는 제품에 대하여 상기 복수의 공정들 중 어느 하나의 개별 공정에서의 개별 변수를 복수 구간들로 구분하고, 상기 복수 구간들의 각 구간에서의 불량과 양품 또는 불량과 비불량의 개수에 기반한 인덱스를 생성하는, 공정 불량 원인 분석 방법
7 7
청구항 1에 있어서,상기 도출하는 단계 후에 상기 불량 원인 지수에 기초하여 품질 불량 원인을 시각화하기 위한 정보를 출력하는 단계를 더 포함하는, 공정 불량 원인 분석 방법
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 (주)유라 산업기술혁신사업 출하 후 품질문제 대응을 위한 제조정보 추적관리 및 가시화 서비스 시스템