맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

자동화 디지털 분석 시스템 및 방법

  • 기술번호 : KST2019006368
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시 예는 자동화 디지털 분석 시스템 및 방법에 관한 것으로, 시료 측정을 통해 획득된 복수의 디지털 데이터를 입력받는 데이터 입력부, 상기 입력된 복수의 디지털 데이터와 기설정된 임계값과의 비교를 통해 온오프 비율을 계산하고, 상기 계산 결과를 이용하여 정량곡선을 생성하는 정량곡선 생성부, 상기 임계값을 조절하여 적어도 하나 이상의 정량구간을 가지는 정량곡선을 획득하고, 각 정량곡선에서 임의의 설정된 온오프 비율 값을 나타내는 임계값을 이용하여 정량함수를 생성하는 정량함수 생성부, 및 미지시료 측정을 통해 획득된 복수의 미지시료 데이터에 대해 임계값을 조절하여 상기 설정된 온오프 비율 값을 나타내는 임계값과 상기 생성된 정량함수를 이용하여 상기 미지시료의 농도를 결정하는 농도 결정부를 포함한다.
Int. CL G16C 10/00 (2019.01.01) G01N 21/17 (2006.01.01) G01N 35/00 (2006.01.01)
CPC G16C 20/70(2013.01) G16C 20/70(2013.01) G16C 20/70(2013.01) G16C 20/70(2013.01) G16C 20/70(2013.01) G16C 20/70(2013.01)
출원번호/일자 1020170159677 (2017.11.27)
출원인 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0061369 (2019.06.05) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 1

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 윤완수 경기도 성남시 분당구
2 장정원 경기도 수원시 권선구
3 김다솔 서울특별시 성북구
4 박종관 충청남도 당진시

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 인비전 특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길**, *층(대치동, 동산빌딩)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2017.11.27 수리 (Accepted) 1-1-2017-5024881-77
2 수수료 반환 안내서
Notification of Return of Official Fee		 2017.12.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2017-0187282-15
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
시료 측정을 통해 획득된 복수의 디지털 데이터를 입력받는 데이터 입력부;상기 입력된 복수의 디지털 데이터와 기설정된 임계값과의 비교를 통해 온오프 비율을 계산하고, 상기 계산된 온오프 비율을 이용하여 정량곡선을 생성하는 정량곡선 생성부;상기 임계값을 조절하여 적어도 하나 이상의 정량구간을 가지는 정량곡선을 획득하고, 각 정량곡선에서 임의의 설정된 온오프 비율 값을 나타내는 임계값을 이용하여 정량함수를 생성하는 정량함수 생성부; 및미지시료 측정을 통해 획득된 복수의 미지시료 데이터에 대해 임계값을 조절하여 상기 설정된 온오프 비율 값을 나타내는 임계값과 상기 생성된 정량함수를 이용하여 상기 미지시료의 농도를 결정하는 농도 결정부를 포함하는 자동화 디지털 분석 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 한국표준과학연구원 산업기술혁신사업(나노융합산업핵심기술개발사업) 2차년도 나노기술 기반 생체 저분자물질 정량 표면 질량분석 기술 개발
2 과학기술정보통신부 성균관대학교(자연과학캠퍼스) 나노소재원천기술개발사업 1단계 1/3 전기 나노바이오센서 모듈 개발
3 과학기술정보통신부 성균관대학교(자연과학캠퍼스) 글로벌프론티어연구개발사업(바이오나노헬스가드연구) 3/3 나노임프린트 패턴의 물리?화학적 형성/변조 및 소자적용 기술개발