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입자상 물질의 입도 측정장치

  • 기술번호 : KST2019006961
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 2개 이상의 광원으로부터 입사빔을 교차하여 입사시켜서 2개 이상의 입사빔이 교차되면서 생성되는 측정영역을 발생시킴으로써 입사빔간의 교차 단면적의 명확성과 CCD 카메라의 렌즈의 심도로 입자 형태를 정확하게 파악할 수가 있으며, 광원의 입사각을 조정 가능한 구조로 구성시킴으로써 입자의 형태를 정확하게 파악할 수가 있는, 입자상 물질의 입도 측정장치에 관한 것으로서,시료셀의 외부에 설치되어 2개 이상의 입사빔을 교차하여 시료셀내로 입사시켜 측정영역을 발생시키면서 프라운호퍼 회절 신호를 제거하기 위하여 입사각을 조정할 수 있는 2개 이상의 광원과, 시료셀의 외부에 설치되어 상기한 2개 이상의 광원에 의해서 조사되는 시료셀내의 입자를 중심으로 입체각에 따른 산란광의 세기를 검출하기 위한 CCD 카메라를 포함하여 이루어진다. 입자상 물질, 입도, 프라운호퍼 회절, 산란, 굴절, 입사각, 시료셀
Int. CL G01N 15/02 (2006.01.01) G01N 15/14 (2006.01.01) G01N 21/59 (2006.01.01) G01N 21/64 (2006.01.01)
CPC G01N 15/0211(2013.01) G01N 15/0211(2013.01) G01N 15/0211(2013.01) G01N 15/0211(2013.01)
출원번호/일자 1020040030764 (2004.04.30)
출원인 한국전력공사
등록번호/일자 10-0613560-0000 (2006.08.09)
공개번호/일자 10-2005-0105040 (2005.11.03) 문서열기
공고번호/일자 (20060816) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2004.04.30)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전력공사 대한민국 전라남도 나주시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 엄희문 대한민국 대전광역시유성구
2 문전수 대한민국 대전광역시유성구
3 심재구 대한민국 대전광역시유성구
4 연규철 대한민국 경기도성남시분당구
5 이정우 대한민국 경기도용인시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 서만규 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *** *층 (역삼동, 현죽빌딩)(특허법인성암)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 대한민국(산업통상자원부장관) 세종특별자치시 한누리대
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2004.04.30 수리 (Accepted) 1-1-2004-0185148-16
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.09.23 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.10.19 수리 (Accepted) 9-1-2005-0065281-98
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2005.12.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0642001-48
5 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2006.02.15 수리 (Accepted) 1-1-2006-0110584-43
6 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2006.03.15 수리 (Accepted) 1-1-2006-0181980-63
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.04.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0260908-72
8 의견서
Written Opinion
2006.04.14 수리 (Accepted) 1-1-2006-0260910-64
9 등록결정서
Decision to grant
2006.07.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0420206-95
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.10.16 수리 (Accepted) 4-1-2007-5156605-02
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.16 수리 (Accepted) 4-1-2014-5153448-46
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.09 수리 (Accepted) 4-1-2019-5136129-26
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5136893-80
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.03.27 수리 (Accepted) 4-1-2020-5072225-46
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번호 청구항
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시료셀의 외부에 설치되어 2개 이상의 입사빔을 교차하여 시료셀내로 입사시켜 측정영역을 발생시키면서 프라운호퍼 회절 신호를 제거하기 위하여 입사각을 조정할 수 있는 2개 이상의 광원과, 시료셀의 외부에 설치되어 상기한 2개 이상의 광원에 의해서 조사되는 시료셀내의 입자를 중심으로 입체각에 따른 산란광의 세기를 검출하기 위한 CCD 카메라를 포함하여 이루어지며,상기한 시료셀내의 입자는, 입자의 직경을 D, 입사광의 파장을 λ라 할 경우 10λ<D<100λ의 입자에 대하여 적용을 하며,상기한 입사빔의 교차각은 10-170도 범위내에서 존재하는 것을 특징으로 하는 입자상 물질의 입도 측정장치
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시료셀의 외부에 설치되어 2개 이상의 입사빔을 교차하여 시료셀내로 입사시켜 측정영역을 발생시키면서 프라운호퍼 회절 신호를 제거하기 위하여 입사각을 조정할 수 있는 2개 이상의 광원과, 시료셀의 외부에 설치되어 상기한 2개 이상의 광원에 의해서 조사되는 시료셀내의 입자를 중심으로 입체각에 따른 산란광의 세기를 검출하기 위한 CCD 카메라를 포함하여 이루어지며,상기한 시료셀내의 입자는, 입자의 직경을 D, 입사광의 파장을 λ라 할 경우 10λ<D<100λ의 입자에 대하여 적용을 하며,상기한 입사빔의 교차각은 10-170도 범위내에서 존재하는 것을 특징으로 하는 입자상 물질의 입도 측정장치
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패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.