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광자 검출기

  • 기술번호 : KST2019009475
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 실시예에 따른 광자 검출기는 제1 방향으로 서로 이격된 입력 영역 및 검출 영역과, 상기 입력 영역 및 상기 검출 영역 사이의 변환 영역을 포함하는 광 도파로, 변환 영역의 광 도파로 상에 배치되는 나노 패턴 및 검출 영역의 광 도파로 상에 배치되는 나노 와이어를 포함하되, 나노 패턴은 제1 방향으로 연장된 제1 패턴 및 제2 패턴을 포함하고, 제1 패턴 및 제2 패턴은 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 서로 이격될 수 있다.
Int. CL H01L 31/08 (2006.01.01) H01L 31/0352 (2006.01.01) G02B 6/10 (2006.01.01)
CPC H01L 31/08(2013.01) H01L 31/08(2013.01) H01L 31/08(2013.01)
출원번호/일자 1020170167788 (2017.12.07)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0067646 (2019.06.17) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.12.10)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이욱재 서울특별시 서대문구
2 주정진 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 고려 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.12.07 수리 (Accepted) 1-1-2017-1222396-18
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2018.08.02 수리 (Accepted) 1-1-2018-0766285-74
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2018.09.18 수리 (Accepted) 1-1-2018-0931280-73
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2019.12.10 수리 (Accepted) 1-1-2019-1273039-98
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 방향으로 서로 이격된 입력 영역 및 검출 영역과, 상기 입력 영역 및 상기 검출 영역 사이의 변환 영역을 포함하는 광 도파로;상기 변환 영역의 상기 광 도파로 상에 배치되는 나노 패턴; 및상기 검출 영역의 상기 광 도파로 상에 배치되는 나노 와이어를 포함하되,상기 나노 패턴은 상기 제1 방향으로 연장된 제1 패턴 및 제2 패턴을 포함하고,상기 제1 패턴 및 상기 제2 패턴은 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 서로 이격된 광자 검출기
2 2
제 1 항에 있어서,상기 나노 패턴은 상기 검출 영역과 인접한 일측 및 상기 일측에 대향하는 타측을 갖고,상기 제1 패턴 및 상기 제2 패턴은 상기 일측으로부터 상기 타측까지 일정한 폭을 갖는 광자 검출기
3 3
제 1 항에 있어서,상기 제1 패턴 및 상기 제2 패턴은 서로 평행하게 배치되는 광자 검출기
4 4
제 1 항에 있어서,상기 제1 패턴 및 상기 제2 패턴 사이의 거리는 상기 제1 패턴 및 상기 제2 패턴의 폭 보다 작은 광자 검출기
5 5
제 1 항에 있어서,상기 나노 패턴은 금속을 포함하고,상기 나노 패턴은 상기 광 도파로와 광 결합되는 광자 검출기
6 6
제 5 항에 있어서,상기 변환 영역은 상기 광 도파로의 입력 영역으로 입력된 광을 표면 플라즈몬 폴라리톤(SPP: surface plasmon-polaritons)으로 변환시키도록 구성되는 광자 검출기
7 7
제 1 항에 있어서,상기 광 도파로 및 상기 나노 패턴 사이의 버퍼층을 더 포함하되,상기 버퍼층은 상기 광 도파로보다 굴절률이 낮은 물질을 포함하는 광자 검출기
8 8
제 7 항에 있어서,상기 버퍼층은 상기 광 도파로 및 상기 나노 패턴과 직접 접촉하는 광자 검출기
9 9
제 1 항에 있어서,상기 나노 와이어는 초전도 물질을 포함하는 광자 검출기
10 10
제 1 항에 있어서,상기 나노 와이어의 양 단부의 각각을 덮는 금속 패드들을 더 포함하는 광자 검출기
11 11
제 1 항에 있어서,상기 나노 와이어는 상기 제1 방향으로 연장되고, 서로 이격되는 제1 부분들 및 상기 제1 부분들을 연결하는 제2 부분을 포함하고,상기 제2 부분은 상기 나노 패턴의 일단과 인접하게 배치되는 광자 검출기
12 12
제 1 항에 있어서,상기 광 도파로는 상기 광 도파로의 일 측면으로부터 돌출된 제1 돌출부 및 상기 일 측면과 대향하는 타 측면으로부터 돌출된 제2 돌출부를 포함하고,상기 나노 와이어는 상기 제1 돌출부의 상면 상으로부터 상기 제2 돌출부의 상면 상으로 연장되는 광자 검출기
13 13
제 12 항에 있어서,상기 나노 와이어는 직선의 형태를 갖는 광자 검출기
14 14
제 12 항에 있어서, 상기 광 도파로는 연장 영역을 더 포함하되,상기 연장 영역은 상기 검출 영역으로부터 상기 변환 영역과 멀어지는 방향으로 연장되는 광자 검출기
15 15
제 1 항에 있어서, 상기 나노 와이어의 적어도 일부는 상기 광 도파로 및 상기 나노 패턴의 사이에 위치하는 광자 검출기
16 16
제 15 항에 있어서,상기 나노 와이어는 상기 제1 방향으로 연장되고, 서로 이격되는 제1 부분들 및 상기 제1 부분들을 연결하는 제2 부분을 포함하고,상기 제2 부분의 적어도 일부는 상기 제1 패턴 및 상기 제2 패턴의 사이에 위치하는 광자 검출기
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 한국전자통신연구원 ETRI연구개발지원사업 양자 광집적회로 원천기술 연구