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광을 조사하는 광원부;광이 통과되는 광경로홀이 관통 형성되는 홀더블록 한 쌍이 서로 이격 배치되되, 한 쌍의 상기 홀더블록들 사이에 샘플이 개재되어 지지되도록 이루어지는 단위홀더를 적어도 하나 포함하는 홀더부;상기 홀더부에 의해 지지된 상기 샘플을 투과하거나 상기 샘플에서 반사된 광을 측정하는 적어도 하나의 측정부;일면에 상기 광원부, 상기 홀더부, 상기 측정부가 고정 지지되는 베이스;를 포함하여 이루어지며,상기 베이스의 일면이 수평으로 배치되며, 상기 샘플이 상기 단위홀더에 수직 방향으로 삽입되도록 이루어지거나,상기 베이스의 일면이 수직으로 배치되며, 상기 샘플이 상기 단위홀더에 수평 방향으로 삽입되도록 이루어지는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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제 1항에 있어서, 상기 단위홀더는,상기 홀더블록 일측에 큐벳형의 상기 샘플의 외형에 상응하는 형태로 형성되는 큐벳홈이 형성되며,한 쌍의 상기 홀더블록들은 상기 큐벳홈이 형성된 면이 서로 마주보도록 배치되는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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제 1항에 있어서, 상기 홀더부는,상기 단위홀더를 복수 개 포함하여 이루어지되,상기 단위홀더를 이루는 한 쌍의 상기 홀더블록들이 서로 이격 배치되는 방향을 이격 방향이라 할 때, 복수 개의 상기 단위홀더들이 이격 방향으로 배열되는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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제 3항에 있어서, 상기 홀더부는,복수 개의 상기 단위홀더들은 서로 이격 또는 밀착 배치되도록 이루어지는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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제 4항에 있어서, 상기 홀더부는,복수 개의 상기 단위홀더들이 서로 밀착 배치되되,어느 하나의 단위홀더를 이루는 일측 홀더블록과, 다른 하나의 단위홀더를 이루며 상기 일측 홀더블록에 밀착 배치된 타측 홀더블록이, 서로 일체형으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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제 1항에 있어서, 상기 스펙트럼 측정 장치는,상기 베이스의 일면이 수평으로 배치되며 상기 샘플이 평면형인 경우,상기 단위홀더를 이루는 한 쌍의 상기 홀더블록들 간 이격 거리는 상기 샘플의 두께에 상응하게 형성되는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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제 7항에 있어서, 상기 단위홀더는,상기 단위홀더를 이루는 한 쌍의 상기 홀더블록들 간 이격 거리가 조절 가능하게 이루어지는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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제 1항에 있어서, 상기 스펙트럼 측정 장치는,상기 홀더부가 적어도 두 개의 상기 단위홀더를 포함하여 이루어지며,적어도 하나의 상기 단위홀더에 개재되어 지지되며, 빔스플리터를 포함하여 이루어지는 광경로전환부;를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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제 9항에 있어서, 상기 스펙트럼 측정 장치는,상기 샘플이 반사형인 경우, 상기 광원부에서 조사된 광이 상기 샘플에서 반사된 후, 상기 광경로전환부에서 광경로가 전환되어 상기 측정부로 도달하도록 광경로가 형성되는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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제 9항에 있어서, 상기 광경로전환부는,큐벳형의 상기 샘플의 외형에 상응하는 형상의 프레임 내에 상기 빔스플리터가 구비되는 형태로 이루어지는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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제 1항에 있어서, 상기 측정부는,상기 광원부로부터 조사되어 상기 홀더부에 지지된 상기 샘플을 투과하여 진행하는 광경로 상의 측정점을 제1측정점이라 하고,상기 광원부로부터 조사되어 상기 홀더부에 지지된 상기 샘플에서 반사된 후 광경로가 전환되어 적어도 하나의 상기 단위홀더를 이루는 한 쌍의 상기 홀더블록 사이로 진행하는 광경로 상의 측정점을 제2측정점이라 할 때,상기 제1측정점 및 상기 제2측정점 각각에 고정 배치되는 제1측정부 및 제2측정부를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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제 1항에 있어서, 상기 측정부는,상기 광원부로부터 조사되어 상기 홀더부에 지지된 상기 샘플을 투과하여 진행하는 광경로 상의 측정점을 제1측정점이라 하고,상기 광원부로부터 조사되어 상기 홀더부에 지지된 상기 샘플에서 반사된 후 광경로가 전환되어 적어도 하나의 상기 단위홀더를 이루는 한 쌍의 상기 홀더블록 사이로 진행하는 광경로 상의 측정점을 제2측정점이라 할 때,상기 베이스의 일면에는 상기 제1측정점 및 상기 제2측정점을 연결하는 이동부가 형성되며,상기 측정부는 상기 이동부를 따라 이동 가능하게 이루어지는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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제 1항에 있어서, 상기 광원부는,단색 파장의 광을 조사하는 단위광원을 복수 개 포함하여 이루어지며,복수 개의 상기 단위광원들 각각이 조사하는 광의 파장이 서로 다르게 형성되는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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제 14항에 있어서,상기 단위광원은, 단색광원, 상기 단색광원에서 조사된 광을 평행광으로 변환하는 렌즈, 상기 렌즈를 통과해 나온 광을 반사시켜 광경로를 전환하는 빔스플리터를 포함하여 이루어지며,상기 광원부는, 복수 개의 상기 단위광원들에서 조사되는 광들의 광경로가 일치하도록, 상기 단위광원들이 일렬로 배열되어 이루어지는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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제 14항에 있어서,상기 단위광원은, 단색광원, 상기 단색광원에서 조사된 광을 평행광으로 변환하는 렌즈를 포함하여 이루어지며,상기 광원부는, 회전부를 포함하여 이루어지되, 복수 개의 상기 단위광원들이 상기 회전부 상에 방사상으로 배치되어 이루어지는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 장치
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단색 파장의 광을 조사하는 단위광원을 복수 개 포함하여 이루어지며, 복수 개의 상기 단위광원들 각각이 조사하는 광의 파장이 서로 다르게 형성되는 광원부; 광이 통과되는 광경로홀이 관통 형성되는 홀더블록 한 쌍이 서로 이격 배치되되, 한 쌍의 상기 홀더블록들 사이에 샘플이 개재되어 지지되도록 이루어지는 단위홀더를 적어도 하나 포함하는 홀더부; 광경로 상에 배치되어 상기 샘플로부터 반사되어 온 광의 광경로를 전환하는 빔스플리터; 상기 홀더부에 의해 지지된 상기 샘플을 투과한 광을 측정하는 제1측정부; 상기 홀더부에 의해 지지된 상기 샘플에서 반사된 광을 측정하는 제2측정부; 를 포함하여 이루어지는 스펙트럼 측정 장치를 이용한 스펙트럼 측정 방법에 있어서,상기 광원부를 이루는 복수 개의 상기 단위광원들 중 하나가 선택되는 광원선택단계;선택된 상기 단위광원이 ON되어 광이 조사되는 광원ON단계;투과광을 측정하는 투과모드 및 반사광을 측정하는 반사모드 중 어느 하나가 선택되는 모드선택단계;상기 제1측정부에 의하여 상기 샘플을 투과한 광이 측정되거나, 상기 제2측정부에 의하여 상기 샘플에서 반사된 광이 측정되는 광측정단계;상기 단위광원이 OFF되는 광OFF단계;복수 개의 상기 단위광원들 중 선택된 다른 하나가 선택되는 단계;를 포함하여 이루어지며,상기 광원선택단계 - 상기 광원ON단계 - 상기 모드선택단계 - 상기 광측정단계 - 상기 광OFF단계가 순차 반복적으로 수행되는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 방법
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제 17항에 있어서, 상기 스펙트럼 측정 방법은,상기 광측정단계 및 상기 광원OFF단계 사이에,미리 결정된 보정계수에 의하여 측정값이 보정되는 광보정단계;를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 측정 방법
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