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레이더 측정 시스템이 사물의 변위를 측정하는 방법으로서,상기 사물을 향해서 방사되는, 복수의 주파수를 갖는 송신 신호가 상기 사물에 의해 반사된 이후 수신되는 신호를, 위상에 따라서 I 신호 및 Q 신호로 구분하는 단계,상기 복수의 주파수에 대응하는, 상기 I 신호 및 상기 Q 신호의 N-튜플(N-tuple)로부터 직류(direct current, DC) 성분을 추정하는 단계,상기 N-튜플로부터 추정된 DC 성분을 제거하여 상기 I 신호 및 상기 Q 신호를 보정하는 단계, 그리고보정된 I 신호 및 Q 신호를 바탕으로 상기 사물의 변위를 측정하는 단계를 포함하는 변위 측정 방법
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제1항에서,상기 DC 성분을 추정하는 단계는,상기 N-튜플에 대응하는 N개의 성상점 중에서 3개의 성상점을 선택하는 단계, 그리고선택된 3개의 성상점에 의해 형성되는 삼각형의 외심의 좌표를 상기 DC 성분의 좌표로 결정하는 단계를 포함하는, 변위 측정 방법
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제2항에서, 상기 3개의 성상점을 선택하는 단계는,상기 삼각형의 면적이 미리 결정된 임계치의 크기를 비교하는 단계, 그리고상기 삼각형의 면적이 상기 미리 결정된 임계치보다 크면 선택된 3개의 성상점이 유효한 것으로 판단하는 단계를 포함하는, 변위 측정 방법
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제3항에서,상기 3개의 성상점을 선택하는 단계는,상기 삼각형의 면적이 상기 미리 결정된 임계치보다 작으면 상기 N개의 성상점 중에서 상기 3개의 성상점과 다른 3개의 성상점을 다시 선택하는 단계를 더 포함하는, 변위 측정 방법
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제1항에서,상기 송신 신호는, 상기 복수의 주파수 중 각 주파수에 대응하는 송신 신호가 상기 사물을 향해 순차적으로 방사되는 신호인, 변위 측정 방법
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제1항에서,상기 송신 신호는, 서로 다른 주파수를 갖는 복수의 신호가 다중화된 신호인, 변위 측정 방법
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사물의 변위를 측정하는 장치로서,프로세서 및 메모리를 포함하고,상기 프로세서는 상기 메모리에 저장된 프로그램을 실행하여,상기 사물을 향해서 방사되는, 복수의 주파수를 갖는 송신 신호가 상기 사물에 의해 반사된 이후 수신되는 신호를, 위상에 따라서 I 신호 및 Q 신호로 구분하는 단계,상기 복수의 주파수에 대응하는, 상기 I 신호 및 상기 Q 신호의 N-튜플(N-tuple)로부터 직류(direct current, DC) 성분을 추정하는 단계,상기 N-튜플로부터 추정된 DC 성분을 제거하여 상기 I 신호 및 상기 Q 신호를 보정하는 단계, 그리고보정된 I 신호 및 Q 신호를 바탕으로 상기 사물의 변위를 측정하는 단계를 수행하는 변위 측정 장치
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제7항에서,상기 프로세서는 상기 DC 성분을 추정하는 단계를 수행할 때,상기 N-튜플에 대응하는 N개의 성상점 중에서 3개의 성상점을 선택하는 단계, 그리고선택된 3개의 성상점에 의해 형성되는 삼각형의 외심의 좌표를 상기 DC 성분의 좌표로 결정하는 단계를 수행하는, 변위 측정 장치
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제8항에서, 상기 프로세서는 상기 3개의 성상점을 선택하는 단계를 수행할 때,상기 삼각형의 면적이 미리 결정된 임계치의 크기를 비교하는 단계, 그리고상기 삼각형의 면적이 상기 미리 결정된 임계치보다 크면 선택된 3개의 성상점이 유효한 것으로 판단하는 단계를 수행하는, 변위 측정 장치
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제9항에서,상기 프로세서는 상기 3개의 성상점을 선택하는 단계를 수행할 때,상기 삼각형의 면적이 상기 미리 결정된 임계치보다 작으면 상기 N개의 성상점 중에서 상기 3개의 성상점과 다른 3개의 성상점을 다시 선택하는 단계를 더 수행하는, 변위 측정 장치
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제7항에서,상기 송신 신호는, 상기 복수의 주파수 중 각 주파수에 대응하는 송신 신호가 상기 사물을 향해 순차적으로 방사되는 신호인, 변위 측정 장치
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제7항에서,상기 송신 신호는, 서로 다른 주파수를 갖는 복수의 신호가 다중화된 신호인, 변위 측정 장치
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사물의 변위를 측정하는 레이더 시스템으로서,복수의 주파수를 갖는 송신 신호를 상기 사물을 향해서 방사하는 송신부, 그리고상기 사물에 의해 반사된 신호를 수신하여 상기 사물의 변위를 측정하는 수신부를 포함하고,상기 수신부의 프로세서는 상기 수신부의 메모리에 저장된 프로그램을 실행하여,상기 사물을 향해서 방사되는, 복수의 주파수를 갖는 송신 신호가 상기 사물에 의해 반사된 이후 수신되는 신호를, 위상에 따라서 I 신호 및 Q 신호로 구분하는 단계,상기 복수의 주파수에 대응하는, 상기 I 신호 및 상기 Q 신호의 N-튜플(N-tuple)로부터 직류(direct current, DC) 성분을 추정하는 단계,상기 N-튜플로부터 추정된 DC 성분을 제거하여 상기 I 신호 및 상기 Q 신호를 보정하는 단계, 그리고보정된 I 신호 및 Q 신호를 바탕으로 상기 사물의 변위를 측정하는 단계를 수행하는, 레이더 시스템
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제13항에서,상기 프로세서는 상기 DC 성분을 추정하는 단계를 수행할 때,상기 N-튜플에 대응하는 N개의 성상점 중에서 3개의 성상점을 선택하는 단계, 그리고선택된 3개의 성상점에 의해 형성되는 삼각형의 외심의 좌표를 상기 DC 성분의 좌표로 결정하는 단계를 수행하는, 레이더 시스템
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제14항에서, 상기 프로세서는 상기 3개의 성상점을 선택하는 단계를 수행할 때,상기 삼각형의 면적이 미리 결정된 임계치의 크기를 비교하는 단계, 그리고상기 삼각형의 면적이 상기 미리 결정된 임계치보다 크면 선택된 3개의 성상점이 유효한 것으로 판단하는 단계를 수행하는, 레이더 시스템
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제15항에서,상기 프로세서는 상기 3개의 성상점을 선택하는 단계를 수행할 때,상기 삼각형의 면적이 상기 미리 결정된 임계치보다 작으면 상기 N개의 성상점 중에서 상기 3개의 성상점과 다른 3개의 성상점을 다시 선택하는 단계를 더 수행하는, 레이더 시스템
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제13항에서,상기 송신부는, 상기 복수의 주파수 중 각 주파수에 대응하는 송신 신호를 상기 사물을 향해 순차적으로 방사하는, 레이더 시스템
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제13항에서,상기 송신부는, 서로 다른 주파수를 갖는 복수의 신호를 다중화하여 상기 사물을 향해 방사하는, 레이더 시스템
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