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저항변화 메모리 소자의 전류성분 측정을 위한 등가회로

  • 기술번호 : KST2019010284
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 저항변화 메모리 소자의 전류성분 측정을 위한 등가회로에 관한 것으로, 반도체 소자의 측정환경을 고려하여, 저항변화 메모리 소자의 전류성분을 분석할 수 있는 등가회로를 제공함으로써, 스위칭 동작 과정에서 순간적으로 발생하는 과도전류를 파악할 수 있게 되어, 이를 억제하기 위한 다양한 시도가 가능하게 된 효과가 있다.
Int. CL G11C 13/00 (2006.01.01) H01L 45/00 (2006.01.01)
CPC G11C 13/004(2013.01) G11C 13/004(2013.01) G11C 13/004(2013.01) G11C 13/004(2013.01)
출원번호/일자 1020170175170 (2017.12.19)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0073920 (2019.06.27) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.12.19)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박병국 대한민국 서울특별시 서초구
2 김민휘 서울특별시 관악구
3 김성준 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 권오준 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 성지하이츠*차 ****호 (역삼동)(소중한특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.12.19 수리 (Accepted) 1-1-2017-1265345-42
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.02.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.03.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2019-0031235-12
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.04.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0262377-70
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.06.11 수리 (Accepted) 1-1-2019-0592598-13
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.10.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0774508-85
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.12.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-1319728-05
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.12.20 수리 (Accepted) 1-1-2019-1319737-16
12 등록결정서
Decision to grant
2020.04.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0247078-40
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
삭제
2 2
상부전극과 하부전극 사이에 저항 변화층을 포함하는 저항변화 메모리 소자의 전류성분 측정을 위한 수단으로서,상기 상부전극과 소정의 측정장비 사이에 연결되는 제 1 케이블은 제 1 저항, 제 1 인덕터 및 제 1 커패시터의 연결로,상기 하부전극과 접지 사이에 연결되는 제 2 케이블은 제 2 저항, 제 2 인덕터 및 제 2 커패시터의 연결로,상기 제 1 케이블과 상기 상부전극의 전기적 접촉은 제 1 접촉저항으로,상기 제 2 케이블과 상기 하부전극의 전기적 접촉은 제 2 접촉저항으로,상기 저항변화 메모리 소자는 소자저항과 소자커패시터의 병렬연결로 구성되되,상기 제 1 저항, 상기 제 1 인덕터 및 상기 제 1 접촉저항은 상기 측정장비로부터 상기 상부전극을 향하여 직렬로 연결되고, 상기 제 1 커패시터는 상기 제 1 인덕터 및 상기 제 1 접촉저항의 사이의 제 1 접점과 접지 사이에 연결되고,상기 제 2 저항, 상기 제 2 인덕터 및 상기 제 2 접촉저항은 접지로부터 상기 하부전극을 향하여 직렬로 연결되고, 상기 제 2 커패시터는 상기 제 2 인덕터 및 상기 제 2 접촉저항의 사이의 제 2 접점과 접지 사이에 연결된 것을 특징으로 하는 저항변화 메모리 소자의 전류성분 측정을 위한 등가회로
3 3
제 2 항에 있어서,상기 제 1 저항과 상기 제 2 저항, 상기 제 1 인덕터와 상기 제 2 인덕터, 상기 제 1 커패시터와 상기 제 2 커패시터 및 상기 제 1 접촉저항과 상기 제 2 접촉저항은 각각 서로 같은 크기를 갖는 것을 특징으로 하는 저항변화 메모리 소자의 전류성분 측정을 위한 등가회로
4 4
제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,상기 저항변화 메모리 소자에 흐르는 전류성분은 상기 소자저항과 상기 소자커패시터에 각각 흐르는 전류로부터 구하는 것을 특징으로 하는 저항변화 메모리 소자의 전류성분 측정을 위한 등가회로
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 서울대학교 개인기초연구(미래부) 신경모방 시스템 구현을 위한 새로운 나노 구조의 저항변화 메모리