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투과형 엑스선 회절 분석장치용 퍼니스 및 이를 이용한 투과형 엑스선 회절 분석장치

  • 기술번호 : KST2019010997
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 투과형 엑스선 회절 분석장치용 퍼니스 및 이를 이용한 투과형 엑스선 회절 분석장치가 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 투과형 엑스선 회절 분석장치용 퍼니스는 시료가 수용된 쿼츠 캐필러리(quartz capillary)에 인접하게 배치되어 시료를 가열하는 시료 가열부; 및 쿼츠 캐필러리와 시료 가열부를 감싸도록 배치되며, 가열된 시료가 열적 평형상태를 유지하도록 단열기능을 가지는 본체부를 포함한다.
Int. CL G01N 1/44 (2006.01.01) G01N 23/20 (2018.01.01) G01N 23/223 (2018.01.01) G01N 23/207 (2018.01.01)
CPC G01N 1/44(2013.01) G01N 1/44(2013.01) G01N 1/44(2013.01) G01N 1/44(2013.01)
출원번호/일자 1020160007916 (2016.01.22)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-1750745-0000 (2017.06.20)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20170627) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.01.22)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정경윤 대한민국 서울특별시 성북구
2 김동현 대한민국 서울특별시 성북구
3 디키 수산토 인도네시아 서울특별시 성북구
4 윤여조 대한민국 서울특별시 성북구
5 조병원 대한민국 서울특별시 성북구
6 오시형 대한민국 서울특별시 성북구
7 장원영 대한민국 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인충현 대한민국 서울특별시 서초구 동산로 **, *층(양재동, 베델회관)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2016.01.22 수리 (Accepted) 1-1-2016-0073198-65
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2016.09.20 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2016.11.10 수리 (Accepted) 9-1-2016-0047138-35
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2016.12.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0910365-96
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2017.01.17 수리 (Accepted) 1-1-2017-0054574-74
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2017.01.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0054587-67
7 등록결정서
Decision to grant		 2017.06.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0422495-99
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
시료가 수용된 쿼츠 캐필러리(quartz capillary)에 인접하고 상기 쿼츠 캐필러리를 감싸도록 배치되어 상기 시료를 가열하는 히팅코일과, 상기 히팅코일이 내면에 설치되며 상기 히팅코일에 의해 가열된 상기 시료의 열적 평형상태를 유지하도록 단열기능을 가지는 쿼츠 튜브(quartz tube)를 구비한 시료 가열부; 및상호 결합되는 면에 상기 쿼츠 튜브가 안착되어 장착되는 안착홈이 마련되고 상호 결합되는 경우에 상기 안착홈에 상기 쿼츠 튜브가 장착되어 가열된 상기 시료의 열적 평형상태를 유지하도록 단열기능을 가지는 한 쌍의 단위블록을 구비한 본체부를 포함하며,상기 본체부는,엑스선의 진행경로에 수직되게 상기 쿼츠 캐필러리가 삽입되어 상기 히팅코일의 내부에 배치되도록 상기 한 쌍의 단위블록의 일측에 형성되고 상기 쿼츠 튜브의 일단과 연통되는 캐필러리 삽입홀; 및엑스선의 진행경로에 수직되게 온도센서가 삽입되어 상기 쿼츠 튜브의 내부에 배치되도록 상기 캐필러리 삽입홀에 대향되는 상기 한 쌍의 단위블록의 타측에 형성되고 상기 쿼츠 튜브의 타단과 연통되는 센서 삽입홀을 더 포함하는 투과형 엑스선 회절 분석장치용 퍼니스
2 2
제1항에 있어서,상기 본체부는,엑스선이 입사되는 제1 관통홀; 및상기 쿼츠 캐필러리를 사이에 두고 상기 제1 관통홀에 대향되고 연통되게 마련되며 상기 시료를 투과하고 상기 시료에 의해 회절된 상기 엑스선이 방사되는 제2 관통홀을 포함하는 투과형 엑스선 회절 분석장치용 퍼니스
3 3
제2항에 있어서,상기 제2 관통홀은,상기 시료를 투과한 상기 엑스선이 간섭되지 않도록 상기 엑스선의 회절각에 대응하여 상기 엑스선이 입사되는 입구측에서 상기 엑스선이 회절되어 방사되는 출구측으로 갈수록 직경이 증가하도록 테이퍼지게 형성되는 투과형 엑스선 회절 분석장치용 퍼니스
4 4
제3항에 있어서,상기 쿼츠 튜브는,상기 제1 관통홀과 연통되고 상기 제1 관통홀을 통과한 상기 엑스선이 입사되며, 상기 제1 관통홀의 직경에 대응되는 크기의 직경을 갖는 제3 관통홀; 및상기 쿼츠 캐필러리를 사이에 두고 상기 제3 관통홀에 대향되고 연통되게 마련되며, 상기 시료를 투과하여 회절된 상기 엑스선이 상기 제2 관통홀로 방사되도록 상기 제2 관통홀과 연통되는 제4 관통홀을 포함하며,상기 제4 관통홀은,상기 시료를 투과한 상기 엑스선이 간섭되지 않도록 상기 엑스선의 회절각에 대응하여 상기 시료를 투과한 상기 엑스선이 입사되는 입구측에서 상기 엑스선이 회절되어 방사되는 출구측으로 갈수록 직경이 증가하도록 테이퍼지게 형성되는 투과형 엑스선 회절 분석장치용 퍼니스
5 5
제4항에 있어서,상기 제1 내지 제4 관통홀은 인라인되게 배치되며,상기 제4 관통홀의 경사각과 상기 제2 관통홀의 경사각이 상호 동일한 투과형 엑스선 회절 분석장치용 퍼니스
6 6
엑스선(x-ray)을 발생시키는 엑스선 발생유닛;상기 엑스선이 조사되는 시료가 수용된 쿼츠 캐필러리(quartz capillary)가 수용되며, 온도 상승 중에 일어나는 상기 시료의 상변화를 관찰하기 위해 상기 시료를 가열하고 가열된 상기 시료의 열적 평형상태를 유지하게 하는 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 따른 퍼니스(furnace); 및상기 퍼니스를 사이에 두고 상기 엑스선 발생유닛에 대향되게 배치되며, 상기 시료를 투과하고 상기 시료에 의해 회절된 상기 엑스선을 검출하는 엑스선 검출유닛을 포함하는 투과형 엑스선 회절 분석장치
7 7
삭제
8 8
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10 10
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11 11
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1 미래창조과학부 한국생산기술연구원 창의형 융합연구사업 소프트 고체전해질 전지 양극 복합화 기술개발