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OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치

  • 기술번호 : KST2019012716
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에서는 로드락 챔버를 이용하여 장시간 열안정성 평가 시 대기와의 접촉을 방지하고, 테스트를 연속적으로 진행하면서 원하는 시간마다 샘플링이 가능한 고온 보관 장치가 개시된다. 일 예로, 재료가 수용되는 보관 용기; 상기 보관 용기의 내부로부터 외부로 연장되는 액추에이터; 상기 보관 용기의 상부에 배치되며, 상기 보관 용기와 액추에이터를 고정하는 홀더; 상기 보관 용기의 일부를 감싸도록 배치되어 재료를 증발시키는 가열부; 및 상기 홀더와 연결되는 로드락 챔버를 포함하고, 상기 액추에이터는, 상기 액추에이터의 구동에 의해 상기 보관 용기의 내부를 왕복 이동하는 로드부를 포함하고, 상기 로드락 챔버는 이송 부재를 포함하여 증발된 재료가 증착될기판을 상기 홀더의 내로 로딩(loading) 또는 언로딩(un-loading)하는 고온 보관장치가 개시된다.
Int. CL G01N 25/02 (2006.01.01) G01N 1/02 (2006.01.01) H01L 51/56 (2006.01.01) H01L 21/48 (2006.01.01)
CPC G01N 25/02(2013.01) G01N 25/02(2013.01) G01N 25/02(2013.01) G01N 25/02(2013.01)
출원번호/일자 1020180068617 (2018.06.15)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1988394-0000 (2019.06.05)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20190612) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.06.15)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤주영 서울시 양천구
2 김진태 대전시 유성구
3 정낙관 대전광역시 유성구
4 심섭 서울특별시 양천구
5 안종기 대전광역시 대덕구
6 강고루 경기도 고양시 덕양구
7 송제범 대전광역시 유성구
8 김하영 충청북도 괴산군

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이준성 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길 **, ***호 준성특허법률사무소 (대치동, 대치빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.06.15 수리 (Accepted) 1-1-2018-0585032-95
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2018.10.16 수리 (Accepted) 1-1-2018-1019619-33
3 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search
2018.10.19 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2018.10.23 수리 (Accepted) 9-1-2018-0056412-21
5 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2018.10.24 수리 (Accepted) 9-1-2018-0056635-06
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.01.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0064288-15
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.03.27 수리 (Accepted) 1-1-2019-0312712-33
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.03.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0312711-98
12 등록결정서
Decision to grant
2019.05.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0373446-03
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
재료가 수용되는 보관 용기;상기 보관 용기의 내부로부터 외부로 연장되는 액추에이터;상기 보관 용기의 상부에 배치되며, 상기 보관 용기와 액추에이터를 고정하는 홀더; 상기 보관 용기의 일부를 감싸도록 배치되어 재료를 증발시키는 가열부; 및 상기 홀더와 연결되는 로드락 챔버를 포함하고,상기 액추에이터는, 상기 액추에이터의 구동에 의해 상기 보관 용기의 내부를 왕복 이동하는 로드부를 포함하고,상기 로드락 챔버는 이송 부재를 포함하여 증발된 재료가 증착될 기판을 상기 홀더의 내부로 로딩(loading) 또는 언로딩(un-loading)하고,상기 로드락 챔버는,상기 홀더로부터 연장되고, 상기 이송 부재의 왕복 이동이 이루어지는 제 1 챔버와, 상기 제 1 챔버의 일부 영역으로부터 돌출되는 제 2 챔버 및 상기 제 1 챔버 내에 배치되며, 상기 기판이 안착되는 기판 홀더를 포함하고,상기 홀더와 상기 로드락 챔버의 사이에 배치되는 게이트 밸브를 포함하고,상기 제 2 챔버는 상기 제 1 챔버와 일측 끝단에서 연결되고, 타측 끝단에서 개폐부와 연결되며,상기 개폐부는 상기 제 2 챔버를 통해 상기 로드락 챔버 내부 또는 외부로 상기 기판을 이송하는 경우에만 열리고,상기 게이트 밸브는 상기 기판이 상기 홀더의 내부로 로딩 또는 언로딩되는 경우에만 열리며,상기 홀더와 상기 보관 용기 사이에 배치되며, 증발된 재료의 분출률(effusion rate)을 측정하는 오리피스 모듈(orifice module)을 포함하고,상기 오리피스 모듈은,상기 보관 용기 상부에 배치되는 보관부와, 상기 보관부 내에 배치되고, 분출률 측정시에는 상기 보관 용기 내의 재료의 증발 영역으로 이송되어 개폐되는 오리피스 게이트 밸브 및 상기 보관부의 일부를 감싸도록 배치된 히터부가 배치되는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 증발된 재료가 증착된 기판은,수정진동자저울(Quartz Crystal Microbalance, QCM)이 형성되어, 증발된 재료의 분출률(effusion rate)을 측정하는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 로드부의 일측 끝단에는 상기 보관 용기의 내면에 접촉되거나, 상기 보관 용기의 내면을 향하여 돌출되는 스트리퍼가 배치되는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
5 5
제 4 항에 있어서,상기 스트리퍼가 상기 보관 용기의 내면을 향하여 돌출되게 형성된 경우에는, 상기 스트리퍼의 외면과 상기 보관 용기의 내면은 서로 이격되는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
6 6
제 4 항에 있어서, 상기 스트리퍼는 상기 홀더의 상부측에서부터 상기 보관 용기의 내부를 왕복 이동하는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
7 7
제 1 항에 있어서,상기 가열부 하부측에 배치되어, 상기 보관 용기 내부에 수용된 재료의 온도를 측정하는 온도 측정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
8 8
제 1 항에 있어서,상기 홀더는 관통공을 포함하여 상기 보관 용기의 내부와 연결되는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
9 9
제 1 항에 있어서,상기 홀더는 상기 로드락 챔버와 연결되는 연결 포트를 포함하고,상기 연결 포트 및 로드락 챔버의 사이에는, 상기 연결 포트와 로드락 챔버를 연결 및 차단하기 위하여 개폐되는 게이트 밸브가 배치되는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
10 10
제 1 항에 있어서,상기 홀더는 상기 보관 용기 및 홀더 내부의 공기를 배출하기 위한 석션 포트를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
11 11
제 1 항에 있어서,상기 홀더의 외벽의 내부에는 냉각수 유로가 배치되는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
12 12
삭제
13 13
제 1 항에 있어서, 상기 제 2 챔버는,일측부에 윈도우가 형성되어, 인시츄 박막 물성 평가 측정이 가능하도록 형성된 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
14 14
제 1 항에 있어서,상기 기판 홀더는 상기 제 2 챔버와 대응되는 영역에 배치되어, 상기 제 2 챔버를 통해 상기 기판 홀더로 상기 기판이 로딩 또는 언로딩되는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
15 15
제 1 항에 있어서, 상기 기판 홀더의 내부에는,냉각수 유로가 배치되는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
16 16
제 1 항에 있어서,상기 이송 부재는,상기 제 1 챔버의 내부를 따라 왕복 이동하며 상기 홀더로 기판을 로딩 또는 언로딩하는 로드; 및상기 로드의 일측 끝단에 배치되어 상기 기판을 그립(grip)하는 그립부를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
17 17
제 1 항에 있어서,상기 로드락 챔버는 내부의 공기를 배출하기 위한 진공 펌프와 연결되는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
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제 1 항에 있어서,상기 액추에이터, 홀더, 가열부, 로드락 챔버 및 오리피스 모듈과 연결되어 각각의 구동을 제어하는 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치
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DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 WO2019240482 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 한국표준과학연구원 창의형 융합연구사업 (CAP) 미래 나노급 반도체 및 대면적 OLED를 위한 증착소재개발의 한계돌파를 위한 복합물성 측정 장비개발
2 과학기술정보통신부 한국표준과학연구원 기관목적사업 (주요사업) 수소융복합스테이션 신뢰성 측정표준 기술개발