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전자기 특성 분석 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2019013211
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 일 실시예에 따른 전자기 특성 분석 장치는 안테나부와, 전자기파를 생성하는 전자기파 생성부와, 상기 전자기파 생성부에 의해 생성된 전자기파가 상기 안테나부에 의해 곡률의 반사면을 갖는 시편을 향해 조사되고 상기 조사된 전자기파가 상기 반사면에서 반사되어서 상기 안테나부에 의해 획득되면, 상기 조사된 전자기파가 상기 반사면 상의 각 부분에 입사될 때의 입사각을 반영하도록 마련된 상기 시편의 등가 회로 및 상기 안테나부에 의해 획득된 전자기파를 기초로 상기 시편에 대한 전자기 특성을 분석하는 분석부를 포함한다.
Int. CL G01R 29/08 (2006.01.01)
CPC G01R 29/0892(2013.01) G01R 29/0892(2013.01) G01R 29/0892(2013.01) G01R 29/0892(2013.01)
출원번호/일자 1020180119257 (2018.10.05)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자 10-1994995-0000 (2019.06.25)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20190701) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.10.05)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 고정인 대전광역시 유성구
2 이원준 대전광역시 유성구
3 김윤재 대전광역시 유성구
4 김상용 대전광역시 유성구
5 백상민 대전광역시 유성구
6 권오범 대전광역시 유성구
7 이정률 대전광역시 유성구
8 손대성 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 제일특허법인(유) 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.10.05 수리 (Accepted) 1-1-2018-0986263-74
2 [공지예외적용 보완 증명서류]서류제출서
2018.10.10 수리 (Accepted) 1-1-2018-0998280-76
3 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2018.11.06 수리 (Accepted) 1-1-2018-1101386-47
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.12.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0877448-36
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.02.20 수리 (Accepted) 1-1-2019-0180500-53
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.02.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0180501-09
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2019.03.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0230275-27
8 [법정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
2019.05.02 수리 (Accepted) 1-1-2019-0453935-25
9 법정기간연장승인서
2019.05.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2019-0074424-65
10 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2019.05.29 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2019-0553904-33
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.05.29 수리 (Accepted) 1-1-2019-0553903-98
12 등록결정서
Decision to Grant Registration
2019.06.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0440679-84
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번호 청구항
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안테나부와,전자기파를 생성하는 전자기파 생성부와,곡률의 반사면을 갖는 시편에 대한 전자기 특성을 분석하는 분석부를 포함하고,상기 분석부는,상기 시편을 향해 조사되는 복수 개의 전자기파 각각이 상기 반사면에 입사되는 위치에 따라 상기 반사면에 대해 상이한 입사각을 가질 때, 상기 상이한 입사각을 반영하는 상기 시편의 등가 회로를 획득하고, 상기 획득된 등가 회로 및 상기 반사면에서 반사되어 상기 안테나부에 의해 획득된 전자기파를 기초로 상기 시편에 대한 전자기 특성을 분석하고, 상기 시편의 등가 회로는,상기 시편이 레이더 흡수 구조체를 포함하고 상기 레이더 흡수 구조체가 주파수 선택막을 포함하는 경우, 상기 주파수 선택막에 대한 등가 회로를 포함하며, 상기 주파수 선택막에 대한 등가 회로는,상기 주파수 선택막을 복수의 부분으로 나누고 상기 복수의 부분 각각에 대해 단위 셀 모델을 적용함에 기초하여 생성된 상기 복수의 부분 각각에 대한 등가 회로를 포함하며, 상기 복수의 부분 각각에 대한 등가 회로는, 상기 주파수 선택막의 상기 복수의 부분 각각이 서로 다른 형상 또는 서로 다른 곡률을 가짐에 기초하여 나뉘어짐으로써, 서로 다른 커패시턴스 또는 서로 다른 인덕턴스를 포함하는 전자기 특성 분석 장치
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전자기 특성 분석 장치에 의해 수행되는 전자기 특성 분석 방법으로서,복수 개의 전자기파를 생성하는 단계와,상기 생성된 복수 개의 전자기파 각각이 곡률의 반사면을 갖는 시편을 향해 조사되도록 하는 단계와,상기 조사된 복수 개의 전자기파가 상기 반사면에 입사되었다가 반사된 것을 획득하는 단계와,상기 조사된 복수 개의 전자기파 각각이 상기 반사면에 입사되는 위치에 따라 상기 반사면에 대해 상이한 입사각을 가질 때, 상기 입사각을 반영하는 상기 시편의 등가 회로를 획득하는 단계와,상기 획득된 전자기파 및 상기 시편의 등가 회로를 기초로 상기 시편에 대한 전자기 특성을 분석하는 단계를 포함하고, 상기 시편의 등가 회로는,상기 시편이 레이더 흡수 구조체를 포함하고 상기 레이더 흡수 구조체가 주파수 선택막을 포함하는 경우, 상기 주파수 선택막에 대한 등가 회로를 포함하며, 상기 주파수 선택막에 대한 등가 회로는,상기 주파수 선택막을 복수의 부분으로 나누고 상기 복수의 부분 각각에 대해 단위 셀 모델을 적용함에 기초하여 생성된 상기 복수의 부분 각각에 대한 등가 회로를 포함하며, 상기 복수의 부분 각각에 대한 등가 회로는, 상기 주파수 선택막의 상기 복수의 부분 각각이 서로 다른 형상 또는 서로 다른 곡률을 가짐에 기초하여 나뉘어짐으로써, 서로 다른 커패시턴스 또는 서로 다른 인덕턴스를 포함하는 전자기 특성 분석 방법
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