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스캐닝 마이크로 미러

  • 기술번호 : KST2019015111
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 일 실시예에 따른 스캐닝 마이크로 미러는 적어도 하나 이상의 회전축을 구비하는 미러가 회전 가능하게 설치된 기판; 및 상기 기판의 외곽에 설치되는 단일의 압전 소자를 포함하고, 상기 압전 소자는 설정 길이의 플레이트 형상을 구비하고, 상기 압전 소자에 설정 신호가 인가되면 상기 압전 소자가 기계적으로 진동하도록 상기 압전 소자는 길이 방향으로 수축 또는 팽창하고, 상기 압전 소자의 기계적인 진동이 상기 기판의 외곽의 표면에 전달됨에 따라 상기 미러가 상기 적어도 하나 이상의 회전축에 대하여 회전할 수 있다.
Int. CL G02B 26/08 (2006.01.01) G02B 26/10 (2006.01.01)
CPC G02B 26/0858(2013.01) G02B 26/0858(2013.01) G02B 26/0858(2013.01)
출원번호/일자 1020180009840 (2018.01.26)
출원인 이화여자대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0090977 (2019.08.05) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.01.26)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 이화여자대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 지창현 서울특별시 서초구
2 황정연 서울특별시 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 이화여자대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.01.26 수리 (Accepted) 1-1-2018-0092555-21
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.06.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.08.30 수리 (Accepted) 9-1-2018-0043583-15
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.02.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0097654-96
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.04.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0358430-29
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.04.08 수리 (Accepted) 1-1-2019-0358431-75
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2019.08.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0627599-15
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.09.26 수리 (Accepted) 1-1-2019-0984952-12
9 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2019.09.26 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2019-0984951-66
10 등록결정서
Decision to Grant Registration
2019.10.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0718517-94
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
적어도 하나 이상의 회전축을 구비하는 미러가 회전 가능하게 설치된 기판;상기 기판의 외곽에 설치되는 압전 소자; 및상기 기판을 고정하며 상기 기판을 이루는 외부 테두리들을 둘러싸도록 구성된 내부 테두리들을 구비하는 하우징;을 포함하고,상기 하우징의 내부 테두리들 중 인접하는 내부 테두리들이 만나는 부분에 복수 개의 홈들이 형성되고, 상기 기판의 외부 테두리들 중 인접하는 테두리들이 만나는 부분들의 각각은 상기 복수 개의 홈들의 각각에 위치하고,상기 압전 소자는 설정 길이의 플레이트 형상을 구비하고, 상기 압전 소자에 설정 신호가 인가되면 상기 압전 소자가 기계적으로 진동하도록 상기 압전 소자는 길이 방향으로 수축 또는 팽창하고, 상기 압전 소자가 길이 방향으로 수축하면 상기 기판의 외곽의 표면에는 압축력이 작용하고, 상기 압전 소자가 길이 방향으로 팽창하면 상기 기판의 외곽의 표면에는 인장력이 작용하고, 상기 압전 소자의 기계적인 진동이 상기 기판의 외곽의 표면에 전달됨에 따라 상기 미러가 상기 적어도 하나 이상의 회전축에 대하여 회전하는 스캐닝 마이크로 미러
2 2
제1항에 있어서,상기 압전 소자는 단일의 압전 소자이고,설정 공진 주파수를 가지는 단일의 신호가 상기 단일의 압전 소자에 인가되면 상기 미러는 1개의 축에 대하여 회전하고, 서로 다른 설정 공진 주파수들을 가지는 서로 다른 신호들이 상기 단일의 압전 소자에 인가되면 상기 미러는 2개의 축에 대하여 회전하는 스캐닝 마이크로 미러
3 3
제1항에 있어서,상기 압전 소자는 상기 기판에 대하여 수평 방향, 수직 방향 또는 사선 방향으로 상기 기판의 외곽에 설치되는 스캐닝 마이크로 미러
4 4
스캐닝 마이크로 미러에 있어서,적어도 하나 이상의 회전축을 구비하는 미러가 회전 가능하게 설치된 기판; 및상기 기판의 외곽에 설치되는 압전 소자;를 포함하고,상기 압전 소자는 설정 길이의 플레이트 형상을 구비하고, 상기 압전 소자에 설정 신호가 인가되면 상기 압전 소자가 기계적으로 진동하도록 상기 압전 소자는 길이 방향으로 수축 또는 팽창하고, 상기 압전 소자의 기계적인 진동이 상기 기판의 외곽의 표면에 전달됨에 따라 상기 미러가 상기 적어도 하나 이상의 회전축에 대하여 회전하고,상기 스캐닝 마이크로 미러는 상기 기판을 고정하며 상기 기판을 이루는 외부 테두리들을 둘러싸도록 구성된 내부 테두리들을 구비하는 하우징을 더 포함하고,상기 하우징의 내부 테두리들 중 인접하는 내부 테두리들이 만나는 부분에 복수 개의 홈들이 형성되고, 상기 기판의 외부 테두리들 중 인접하는 테두리들이 만나는 부분들의 각각은 상기 복수 개의 홈들의 각각에 위치하는 스캐닝 마이크로 미러
5 5
제4항에 있어서,상기 하우징의 내부 테두리들의 각각은 상기 기판의 외부 테두리들의 각각의 일부와 오버랩되도록 구성되는 스캐닝 마이크로 미러
6 6
제5항에 있어서,상기 기판의 외부 테두리들의 각각은,상기 하우징의 내부 테두리들의 각각의 일부와 오버랩되는 오버랩 부분; 및상기 하우징의 내부 테두리들의 각각의 나머지와 오버랩되지 않는 비-오버랩 부분;을 포함하는 스캐닝 마이크로 미러
7 7
제1항에 있어서,상기 압전 소자와 상기 기판에 각각 접촉하고 상기 압전 소자와 상기 기판 사이를 매개하는 매개층을 더 포함하고,상기 매개층은 접착 물질을 포함하는 스캐닝 마이크로 미러
8 8
제1항에 있어서,상기 미러는 금속을 포함하는 절연층, 산화 금속을 포함하는 절연층 또는 금속과 산화 금속이 상기 미러의 표면에 반복적으로 증착된 복수 개의 절연층들을 포함하는 스캐닝 마이크로 미러
9 9
1개의 회전축 또는 2개의 회전축들을 구비하는 미러;상기 미러가 회전 가능하게 연결된 적어도 하나 이상의 김블;상기 미러와 상기 김블이 회전 가능하게 설치된 기판;상기 기판에 설치되는 플레이트 형상의 단일의 압전 소자; 및상기 기판을 고정하며 상기 기판을 이루는 외부 테두리들을 둘러싸도록 구성된 내부 테두리들을 구비하는 하우징;을 포함하고,상기 하우징의 내부 테두리들 중 인접하는 내부 테두리들이 만나는 부분에 복수 개의 홈들이 형성되고, 상기 기판의 외부 테두리들 중 인접하는 테두리들이 만나는 부분들의 각각은 상기 복수 개의 홈들의 각각에 위치하고,상기 압전 소자에 설정 신호가 인가되면, 상기 압전 소자가 일 방향으로 기계적으로 진동함에 따라 상기 압전 소자가 길이 방향으로 수축 또는 팽창하고, 상기 압전 소자가 길이 방향으로 수축하면 상기 기판의 외곽의 표면에는 압축력이 작용하고, 상기 압전 소자가 길이 방향으로 팽창하면 상기 기판의 외곽의 표면에는 인장력이 작용하고, 상기 미러가 상기 미러의 1개의 회전축에 대하여 회전하거나 상기 미러의 2개의 회전축들에 대하여 각각 회전하는 스캐닝 마이크로 미러
10 10
제9항에 있어서,상기 압전 소자는 상기 기판의 내부의 표면에 설치되는 스캐닝 마이크로 미러
11 11
제9항에 있어서,상기 압전 소자는 상기 기판의 외곽의 표면에 박막 형태로 설치되는 스캐닝 마이크로 미러
12 12
제9항에 있어서,상기 압전 소자는 상기 기판의 일 측으로부터 타 측으로 가로질러 상기 기판의 외곽에 설치되는 스캐닝 마이크로 미러
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 이화여자대학교 산학협력단 기초연구사업(학술진흥)-중견연구자지원사업 차세대 레이저 스캐너 원천 기술 개발
2 과학기술정보통신부 이화여자대학교 산학협력단 EU연구개발협력사업 압타머 기반 아열대성 감염병 감별진단 현장현시진단키트 개발