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특허 수명 예측을 위해 기 정의된 다수의 특허수명지표 각각의 지표 값을 등록 특허로부터 추출하는 추출부; 및상기 다수의 특허수명지표와 관련하여 특허권이 만료된 만료 특허 군으로부터 추출되는 지표 값과 그에 따른 각 만료 특허의 실제 수명을 학습한 특허수명예측모델을 기초로 상기 등록 특허의 지표 값으로부터 예측되는 기대 수명을 상기 등록 특허에 대한 특허 수명으로 확인하는 확인부를 포함하며,상기 특허수명예측모델은,상기 다수의 특허수명지표 각각의 지표 값을 새로운 차원으로 전사 (Projection)한 주성분 분석 결과, 분산이 가장 큰 차원의 순서로 적어도 하나의 주성분을 결정하며, 각 특허수명지표 별로 각 주성분과의 상관계수를 확인하여, 상관계수의 절대 값이 가장 큰 주성분 값으로 지표 값을 변환하여 학습하는 것을 특징으로 하는 특허수명예측장치
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제 1 항에 있어서,기 정의된 다수의 특허수명지표는,특허의 등록 시점에서의 각 국제특허분류코드(IPC) 영역에 해당하는지 여부를 나타내는 국제특허분류코드 존재 여부를 포함하며,상기 특허수명예측모델은,상기 국제특허분류코드 존재 여부를 상기 주성분 분석과는 별도의 명목(Nominal) 변수로서 학습하는 것을 특징으로 하는 특허수명예측장치
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제 1 항에 있어서,상기 특허수명예측모델은,상기 만료 특허 군 내 적어도 일부 만료 특허로부터 추출되는 지표 값과 그에 따른 각 만료 특허의 실제 수명을 특허 수명 예측을 위한 학습데이터로서 학습하며, 상기 만료 특허 군 내 나머지 만료 특허로부터 추출되는 지표 값과 그에 따른 각 만료 특허의 실제 수명을 예측 성능 검증을 위한 검증데이터로 이용하는 것을 특징으로 하는 특허수명예측장치
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제 4 항에 있어서,상기 특허수명예측모델은,상기 검증데이터 내 지표 값으로부터 도출되는 기대 수명과, 상기 검증데이터 내 실제 수명 간의 차이가 최소화될 수 있도록 상기 학습데이터를 학습하는 것을 특징으로 하는 특허수명예측장치
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제 4 항에 있어서,상기 특허수명예측모델은,상기 검증데이터 내 지표 값으로부터 예측되는 기대 수명이 최대수명인 만료 특허 중 상기 검증데이터 내 실제 수명이 상기 최대수명인 만료 특허의 비율인 정밀도(Precision), 및 상기 검증데이터 내 실제 수명이 최대수명인 만료 특허 중 상기 검증데이터 내 지표 값으로부터 예측되는 기대 수명이 최대수명인 만료 특허의 비율인 재현율(Recall) 중 적어도 하나를 기초로 예측 성능이 검증되는 것을 특징으로 하는 특허수명예측장치
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제 6 항에 있어서,상기 특허수명예측모델은,상기 정밀도 및 상기 재현율 각각에 대해 부여되는 가중치에 따라서 예측 성능이 검증되며,상기 재현율에 대해 부여되는 가중치는,상기 정밀도에 대해 부여되는 가중치보다 높게 책정되는 것을 특징으로 하는 특허수명예측장치
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특허수명예측장치의 동작 방법에 있어서,특허 수명 예측을 위해 기 정의된 다수의 특허수명지표 각각에 대한 지표 값을 등록 특허로부터 추출하는 추출단계; 및상기 다수의 특허수명지표와 관련하여 특허권이 만료된 만료 특허 군으로부터 추출되는 지표 값과 그에 따른 각 만료 특허의 실제 수명을 학습한 특허수명예측모델을 기초로 상기 등록 특허의 지표 값으로부터 예측되는 기대 수명을 상기 등록 특허에 대한 특허 수명으로 확인하는 확인단계를 포함하며,상기 특허수명예측모델은,상기 다수의 특허수명지표 각각의 지표 값을 새로운 차원으로 전사 (Projection)한 주성분 분석 결과, 분산이 가장 큰 차원의 순서로 적어도 하나의 주성분을 결정하며, 각 특허수명지표 별로 각 주성분과의 상관계수를 확인하여, 상관계수의 절대 값이 가장 큰 주성분 값으로 지표 값을 변환하여 학습하는 것을 특징으로 하는 특허수명예측장치의 동작 방법
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제 8 항에 있어서,기 정의된 다수의 특허수명지표는,특허의 등록 시점에서의 각 국제특허분류코드(IPC) 영역에 해당하는지 여부를 나타내는 국제특허분류코드 존재 여부를 포함하며,상기 특허수명예측모델은,상기 국제특허분류코드 존재 여부를 상기 주성분 분석과는 별도의 명목(Nominal) 변수로서 학습하는 것을 특징으로 하는 특허수명예측장치의 동작 방법
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제 8 항에 있어서,상기 특허수명예측모델은,상기 만료 특허 군 내 적어도 일부 만료 특허로부터 추출되는 지표 값과 그에 따른 각 만료 특허의 실제 수명을 특허 수명 예측을 위한 학습데이터로서 학습하며, 상기 만료 특허 군 내 나머지 만료 특허로부터 추출되는 지표 값과 그에 따른 각 만료 특허의 실제 수명을 예측 성능 검증을 위한 검증데이터로 이용하는 것을 특징으로 하는 특허수명예측장치의 동작 방법
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제 11 항에 있어서,상기 특허수명예측모델은,상기 검증데이터 내 지표 값으로부터 도출되는 기대 수명과, 상기 검증데이터 내 실제 수명 간의 차이가 최소화될 수 있도록 상기 학습데이터를 학습하는 것을 특징으로 하는 특허수명예측장치의 동작 방법
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제 11 항에 있어서,상기 특허수명예측모델은,상기 검증데이터 내 지표 값으로부터 예측되는 기대 수명이 최대수명인 만료 특허 중 상기 검증데이터 내 실제 수명이 상기 최대수명인 만료 특허의 비율인 정밀도(Precision), 및 상기 검증데이터 내 실제 수명이 최대수명인 만료 특허 중 상기 검증데이터 내 지표 값으로부터 예측되는 기대 수명이 최대수명인 만료 특허의 비율인 재현율(Recall) 중 적어도 하나를 기초로 예측 성능이 검증되는 것을 특징으로 하는 특허수명예측장치의 동작 방법
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제 13 항에 있어서,상기 특허수명예측모델은,상기 정밀도 및 상기 재현율 각각에 대해 부여되는 가중치에 따라서 예측 성능이 검증되며,상기 재현율에 대해 부여되는 가중치는,상기 정밀도에 대해 부여되는 가중치보다 높게 책정되는 것을 특징으로 하는 특허수명예측장치의 동작 방법
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