맞춤기술찾기

이전대상기술

일체형 다중 발광다이오드 제조방법

  • 기술번호 : KST2019017069
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 일체형 다중 발광다이오드 제조방법에 관한 것으로, 일체형 다중 발광다이오드 제조방법은 a) 기판 상부에 제1N클래드층,제1활성층,제1P클래드층이 순차적으로 적층된 제1반도체 적층물; 상기 제1반도체 적층물에 적층된 분리층; 및 상기 분리층에 제2N클래드층,제2활성층,제2P클래드층이 순차적으로 적층된 제2반도체 적층물;을 순차적으로 적층하는 단계; b) 상기 분리층의 양측 상면이 노출되도록 상기 제2반도체 적층물의 양측 각각을 식각하는 단계; c) 상기 제2반도체 적층물의 제2P클래드층에 제2P전극을 형성하고, 노출된 상기 분리층의 양측 상면 중 하나의 영역에 제2N전극을 형성하는 단계; d) 노출된 상기 분리층의 양측 상면 중 다른 하나의 영역에 해당하고 상기 제2N전극이 형성되지 않은 상기 분리층 영역을 상기 제2반도체 적층물의 식각된 측벽을 따라 식각하여 상기 제1반도체 적층물의 제1P클래드층을 노출시키는 단계; e) 노출된 상기 제1반도체 적층물의 제1P클래드층에 제1P전극을 형성하는 단계; f) 상기 기판 하부 일부 영역을 제외하고 상기 기판 하부에 반사판을 형성하는 단계; 및 g) 상기 반사판이 형성되지 않은 상기 기판 하부 일부 영역에 제1N전극을 형성하는 단계;를 포함한다.
Int. CL H01L 33/08 (2010.01.01) H01L 27/15 (2006.01.01) H01L 33/00 (2010.01.01) H01L 33/36 (2010.01.01) H01L 33/60 (2010.01.01) H01L 33/62 (2010.01.01) H01L 33/48 (2010.01.01)
CPC H01L 33/08(2013.01) H01L 33/08(2013.01) H01L 33/08(2013.01) H01L 33/08(2013.01) H01L 33/08(2013.01) H01L 33/08(2013.01) H01L 33/08(2013.01) H01L 33/08(2013.01)
출원번호/일자 1020180055898 (2018.05.16)
출원인 한국광기술원
등록번호/일자 10-2016260-0000 (2019.08.23)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20190829) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.05.18)
심사청구항수 6

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 오화섭 광주광역시 광산구
2 이상헌 광주광역시 광산구
3 박승현 광주광역시 북구
4 이건화 전라북도 전주시 덕진구
5 정태훈 광주광역시 광산구
6 정성훈 광주광역시 북구
7 정탁 광주광역시 광산구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 우광제 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **-* (역삼동, 신도빌딩) *층(유리안국제특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 대한민국 광주광역시 북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.05.16 수리 (Accepted) 1-1-2018-0481193-10
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2018.05.18 수리 (Accepted) 1-1-2018-0490257-55
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.01.22 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 심사처리보류(연기)보고서
Report of Deferment (Postponement) of Processing of Examination
2019.03.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2019-0029791-83
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.04.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2019-0039751-46
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.04.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0276974-90
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.06.17 수리 (Accepted) 1-1-2019-0616303-14
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.06.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0616323-27
9 등록결정서
Decision to grant
2019.08.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0604875-28
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.03 수리 (Accepted) 4-1-2020-5148105-81
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.09 수리 (Accepted) 4-1-2020-5153634-39
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
삭제
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
a) 기판 상부에 제1N클래드층,제1활성층,제1P클래드층이 순차적으로 적층된 제1반도체 적층물; 상기 제1반도체 적층물 상에 제1 반도체 적층물 및 제2반도체 적층물과 다른 절연성을 갖는 이종 반도체 물질이 적층된 분리층; 및 상기 분리층에 제2N클래드층,제2활성층,제2P클래드층이 순차적으로 적층된 제2반도체 적층물;을 순차적으로 적층하는 단계;b) 상기 분리층의 양측 상면이 노출되도록 상기 제2반도체 적층물의 양측 각각을 식각하는 단계;c) 상기 제2반도체 적층물의 제2P클래드층에 제2P전극을 형성하고, 노출된 상기 분리층의 양측 상면 중 하나의 영역에 제2N전극을 형성하는 단계;d) 노출된 상기 분리층의 양측 상면 중 다른 하나의 영역에 해당하고 상기 제2N전극이 형성되지 않은 상기 분리층 영역을 상기 제2반도체 적층물의 식각된 측벽을 따라 식각하여 상기 제1반도체 적층물의 제1P클래드층을 노출시키는 단계;e) 노출된 상기 제1반도체 적층물의 제1P클래드층에 제1P전극을 형성하는 단계;f) 상기 기판 하부 일부 영역을 제외하고 상기 기판 하부에 반사판을 형성하는 단계; g) 상기 반사판이 형성되지 않은 상기 기판 하부 일부 영역에 제1N전극을 형성하여 다중 발광 다이오드를 제조하는 단계; 및h) 상기 g)단계에서 제조된 다중 발광다이오드를 서브마운트에 실장하고, 상기 서브마운트의 제1전극단자에 제1P전극과 제2P전극을 와이어 본딩하며, 상기 다중 발광다이오드를 서브마운트에 실장할 때 제1N전극을 서브마운트의 제2전극단자에 본딩하고, 제2N전극을 제2전극단자에 와이어 본딩하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 일체형 다중 발광다이오드 제조방법
5 5
삭제
6 6
a) 기판 상부에 제1N클래드층,제1활성층,제1P클래드층이 순차적으로 적층된 제1반도체 적층물; 상기 제1반도체 적층물 상에 제1 반도체 적층물 및 제2반도체 적층물과 다른 절연성을 갖는 이종 반도체 물질이 적층된 분리층; 및 상기 분리층에 제2N클래드층,제2활성층,제2P클래드층이 순차적으로 적층된 제2반도체 적층물;을 순차적으로 적층하는 단계;b) 상기 분리층의 양측 상면이 노출되도록 상기 제2반도체 적층물의 양측 각각을 식각하는 단계;c) 상기 제2반도체 적층물의 제2P클래드층에 제2P전극을 형성하고, 노출된 상기 분리층의 양측 상면 중 하나의 영역에 제2N전극을 형성하는 단계;d) 노출된 상기 분리층의 양측 상면 중 다른 하나의 영역에 해당하고 상기 제2N전극이 형성되지 않은 상기 분리층 영역을 상기 제2반도체 적층물의 식각된 측벽을 따라 식각하여 상기 제1반도체 적층물의 제1P클래드층을 노출시키는 단계;e) 노출된 상기 제1반도체 적층물의 제1P클래드층에 제1P전극을 형성하는 단계;f) 상기 기판 하부 일부 영역을 제외하고 상기 기판 하부에 반사판을 형성하는 단계; g) 상기 반사판이 형성되지 않은 상기 기판 하부 일부 영역에 제1N전극을 형성하여 다중 발광 다이오드를 제조하는 단계; 및h) 상기 g)단계에서 제조된 다중 발광다이오드를 서브마운트에 실장하고, 서브마운트의 제1전극단자에 제2P전극을 와이어 본딩하며, 제1P전극과 제2N전극을 와이어 본딩하고, 상기 다중 발광다이오드를 서브마운트에 실장할 때 제1N전극을 서브마운트의 제2전극단자에 본딩하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 일체형 다중 발광다이오드 제조방법
7 7
삭제
8 8
삭제
9 9
삭제
10 10
a) 기판 상부에 제1N클래드층,제1활성층,제1P클래드층이 순차적으로 적층된 제1반도체 적층물; 상기 제1반도체 적층물 상에 절연성을 갖고, 제1반도체 적층물의 반도체 물질과 제2반도체 적층물의 반도체 물질과 다른 이종 반도체 물질이 적층된 제1분리층; 상기 제1분리층에 제2N클래드층,제2활성층,제2P클래드층이 순차적으로 적층된 제2반도체 적층물; 상기 제2반도체 적층물 상에 절연성을 갖고, 제1반도체 적층물의 반도체 물질과 제2반도체 적층물의 반도체 물질과 다른 이종 반도체 물질이 적층된 제2분리층; 및 상기 제2분리층에 제3N클래드층,제3활성층,제3P클래드층이 순차적으로 적층된 제3반도체 적층물;을 순차적으로 적층하는 단계; b) 상기 제1분리층의 양측 상면이 노출되도록 상기 제2반도체 적층물의 양측 각각을 식각하고, 노출된 상기 제1분리층의 양측 상면 중 일측의 상면의 제1분리층 영역을 상기 제2반도체 적층물의 식각된 측벽을 따라 식각하여 상기 제1반도체 적층물의 제1P클래드층을 노출시키고, 상기 제2분리층의 양측 상면이 노출되도록 상기 제3반도체 적층물의 양측 각각을 식각하고, 노출된 상기 제2분리층의 양측 상면 중 일측의 상면의 제2분리층 영역을 상기 제3반도체 적층물의 식각된 측벽을 따라 식각하여 상기 제2반도체 적층물의 제2P클래드층을 노출시키는 단계;c) 노출된 상기 제1반도체 적층물의 제1P클래드층에 제1P전극을 형성하고, 노출된 상기 제1분리층에 제2N전극을 형성하고, 노출된 상기 제2반도체 적층물의 제2P클래드층에 제2P전극을 형성하고, 노출된 상기 제2분리층에 제3N전극을 형성하고, 상기 제3반도체 적층물의 제3P클래드층에 제3P전극을 형성하는 단계; d) 상기 기판 하부 일부 영역을 제외하고 상기 기판 하부에 반사판을 형성하는 단계; e) 상기 반사판이 형성되지 않은 상기 기판 하부 일부 영역에 제1N전극을 형성하여 다중 발광 다이오드를 제조하는 단계; 및f) 상기 e)단계에서 제조된 다중 발광다이오드를 서브마운트에 실장하고, 서브마운트의 제1전극단자에 제1P전극, 제2N전극, 제3P전극을 와이어 본딩하고, 상기 다중 발광다이오드를 서브마운트에 실장할 때 제1N전극을 서브마운트의 제2전극단자에 본딩하고 제2P전극과 제3N전극을 와이어 본딩하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 일체형 다중 발광다이오드 제조방법
11 11
a) 기판 상부에 제1N클래드층,제1활성층,제1P클래드층이 순차적으로 적층된 제1반도체 적층물; 상기 제1반도체 적층물 상에 절연성을 갖고, 제1반도체 적층물의 반도체 물질과 제2반도체 적층물의 반도체 물질과 다른 이종 반도체 물질이 적층된 제1분리층; 상기 제1분리층에 제2N클래드층,제2활성층,제2P클래드층이 순차적으로 적층된 제2반도체 적층물; 상기 제2반도체 적층물 상에 절연성을 갖고, 제1반도체 적층물의 반도체 물질과 제2반도체 적층물의 반도체 물질과 다른 이종 반도체 물질이 적층된 제2분리층; 및 상기 제2분리층에 제3N클래드층,제3활성층,제3P클래드층이 순차적으로 적층된 제3반도체 적층물;을 순차적으로 적층하는 단계; b) 상기 제1분리층의 양측 상면이 노출되도록 상기 제2반도체 적층물의 양측 각각을 식각하고, 노출된 상기 제1분리층의 양측 상면 중 일측의 상면의 제1분리층 영역을 상기 제2반도체 적층물의 식각된 측벽을 따라 식각하여 상기 제1반도체 적층물의 제1P클래드층을 노출시키고, 상기 제2분리층의 양측 상면이 노출되도록 상기 제3반도체 적층물의 양측 각각을 식각하고, 노출된 상기 제2분리층의 양측 상면 중 일측의 상면의 제2분리층 영역을 상기 제3반도체 적층물의 식각된 측벽을 따라 식각하여 상기 제2반도체 적층물의 제2P클래드층을 노출시키는 단계;c) 노출된 상기 제1반도체 적층물의 제1P클래드층에 제1P전극을 형성하고, 노출된 상기 제1분리층에 제2N전극을 형성하고, 노출된 상기 제2반도체 적층물의 제2P클래드층에 제2P전극을 형성하고, 노출된 상기 제2분리층에 제3N전극을 형성하고, 상기 제3반도체 적층물의 제3P클래드층에 제3P전극을 형성하는 단계; d) 상기 기판 하부 일부 영역을 제외하고 상기 기판 하부에 반사판을 형성하는 단계; e) 상기 반사판이 형성되지 않은 상기 기판 하부 일부 영역에 제1N전극을 형성하여 다중 발광 다이오드를 제조하는 단계; 및상기 e)단계에서 제조된 다중 발광다이오드를 서브마운트에 실장하고, 상기 서브마운트의 제1전극단자에 제1P전극, 제2P전극과 제3P전극을 와이어 본딩하며, 상기 다중 발광다이오드를 서브마운트에 실장할 때 제1N전극을 상기 서브마운트의 제2전극단자에 본딩하고 제2N전극 및 제3N전극을 제2전극단자에 와이어 본딩하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 일체형 다중 발광다이오드 제조방법
12 12
a) 기판 상부에 제1N클래드층,제1활성층,제1P클래드층이 순차적으로 적층된 제1반도체 적층물; 상기 제1반도체 적층물 상에 절연성을 갖고, 제1반도체 적층물의 반도체 물질과 제2반도체 적층물의 반도체 물질과 다른 이종 반도체 물질이 적층된 제1분리층; 상기 제1분리층에 제2N클래드층,제2활성층,제2P클래드층이 순차적으로 적층된 제2반도체 적층물; 상기 제2반도체 적층물 상에 절연성을 갖고, 제1반도체 적층물의 반도체 물질과 제2반도체 적층물의 반도체 물질과 다른 이종 반도체 물질이 적층된 제2분리층; 및 상기 제2분리층에 제3N클래드층,제3활성층,제3P클래드층이 순차적으로 적층된 제3반도체 적층물;을 순차적으로 적층하는 단계; b) 상기 제1분리층의 양측 상면이 노출되도록 상기 제2반도체 적층물의 양측 각각을 식각하고, 노출된 상기 제1분리층의 양측 상면 중 일측의 상면의 제1분리층 영역을 상기 제2반도체 적층물의 식각된 측벽을 따라 식각하여 상기 제1반도체 적층물의 제1P클래드층을 노출시키고, 상기 제2분리층의 양측 상면이 노출되도록 상기 제3반도체 적층물의 양측 각각을 식각하고, 노출된 상기 제2분리층의 양측 상면 중 일측의 상면의 제2분리층 영역을 상기 제3반도체 적층물의 식각된 측벽을 따라 식각하여 상기 제2반도체 적층물의 제2P클래드층을 노출시키는 단계;c) 노출된 상기 제1반도체 적층물의 제1P클래드층에 제1P전극을 형성하고, 노출된 상기 제1분리층에 제2N전극을 형성하고, 노출된 상기 제2반도체 적층물의 제2P클래드층에 제2P전극을 형성하고, 노출된 상기 제2분리층에 제3N전극을 형성하고, 상기 제3반도체 적층물의 제3P클래드층에 제3P전극을 형성하는 단계; d) 상기 기판 하부 일부 영역을 제외하고 상기 기판 하부에 반사판을 형성하는 단계; 및e) 상기 반사판이 형성되지 않은 상기 기판 하부 일부 영역에 제1N전극을 형성하여 다중 발광 다이오드를 제조하는 단계; 및f) 상기 e)단계에서 제조된 다중 발광다이오드를 서브마운트에 실장하고, 상기 서브마운트의 제1전극단자에 제3P전극을 와이어 본딩하며, 제1P전극과 제2N전극을 와이어 본딩하고, 제2P전극과 제3N전극을 와이어 본딩하며, 상기 다중 발광다이오드를 서브마운트에 실장할 때 제1N전극을 상기 서브마운트의 제2전극단자에 본딩하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 일체형 다중 발광다이오드 제조방법
13 13
제4항, 제6항, 제10항 내지 제12항중 어느 한 항에 있어서, 상기 분리층은 Fe가 도핑된 절연성 이종 반도체층에 N타입 이종 반도체층이 적층된 구조, 언도프된(undoped) 절연성 이종 반도체층에 N타입 이종 반도체층이 적층된 구조, N타입 이종 반도체층, P타입 이종 반도체층에 N타입 이종 반도체층이 적층된 구조, N타입 이종 반도체층에 P타입 이종 반도체층이 적층된 구조, N타입 이종 반도체층에 P타입 이종 반도체층 및 N타입 이종 반도체층이 순차적으로 적층된 구조, P타입 이종 반도체층에 N타입 이종 반도체층 및 P타입 이종 반도체층이 순차적으로 적층된 구조 중 하나인 것을 특징으로 하는 일체형 다중 발광다이오드 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.