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결함 정보 저장 테이블을 이용한 저장 장치의 리페어 분석 방법에 있어서,상기 저장 장치의 설정에 기초하여 상기 저장 장치에 제공되는 스페어 셀과 교체되는 결함 셀을 리페어 하는데 사용될 해시 함수 목록을 생성하는 단계;상기 해시 함수 목록 내의 각각의 해시 함수를 이용하여 상기 결함 셀에 대해, 상기 저장 장치의 제조과정에서 리페어 동작을 수행하는 단계; 및상기 해시 함수 목록 내의 각각의 해시 함수 중 리페어 동작 수행 후 남은 예비 요소가 최대인 해시 함수를 상기 결함 정보 저장 테이블에 저장하는 단계를 포함하고,상기 결함 정보 저장 테이블은 상기 저장 장치의 물리 영역과 관련된 정보, 상기 저장 장치의 가상 영역과 관련된 정보, 및 상기 결함 셀의 위치 정보를 포함하는, 리페어 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 해시 함수 목록 내의 각각의 해시 함수를 이용하여 상기 저장 장치의 결함 셀에 대해, 상기 저장 장치의 제조과정에서 리페어 동작을 수행하는 단계는,상기 각각의 해시 함수에 따라 상기 저장 장치를 상기 물리 영역과 상기 가상 영역으로 구성하는 단계를 포함하는, 리페어 분석 방법
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제2항에 있어서,상기 해시 함수 목록은 상기 저장 장치의 로우 어드레스 비트 및 상기 가상 영역의 인덱스 비트에 기초하여 생성되는, 리페어 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 해시 함수 목록 내의 각각의 해시 함수를 이용하여 상기 저장 장치의 결함 셀에 대해, 상기 저장 장치의 제조과정에서 리페어 동작을 수행하는 단계는,상기 해시 함수 목록 내의 하나의 해시 함수를 선택하는 단계;상기 선택한 하나의 해시 함수를 이용하여 상기 저장 장치의 결함 셀에 대해 제1 리페어 동작을 수행하는 단계; 및상기 제1 리페어 동작이 성공했는지 여부의 판단에 기초하여, 상기 해시 함수 목록 내의 상기 선택한 하나의 해시 함수와 다른 하나의 해시 함수를 다시 선택하여 상기 저장 장치의 결함 셀에 대해 제2 리페어 동작을 수행하는 단계를 포함하는, 리페어 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 해시 함수 목록 내의 각각의 해시 함수를 이용하여 상기 저장 장치의 결함 셀에 대해, 상기 저장 장치의 제조과정에서 리페어 동작을 수행하는 단계는,상기 해시 함수 목록 내의 하나의 해시 함수를 선택하는 단계;상기 선택한 하나의 해시 함수를 이용하여 상기 저장 장치의 결함 셀에 대해 리페어 동작을 수행하는 단계; 및상기 선택한 하나의 해시 함수를 이용한 상기 리페어 동작이 성공했는지 여부의 판단에 기초하여, 상기 선택한 하나의 해시 함수를 이용한 상기 리페어 동작 후 남은 예비 요소를 기록하는 단계를 포함하는, 리페어 분석 방법
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제1항에 있어서, 상기 해시 함수 목록 상의 각각의 해시 함수 모두를 이용하여 상기 저장 장치의 결함 셀에 대해 리페어 동작을 수행했는지 여부를 판단하는 단계; 및상기 해시 함수 목록 상의 각각의 해시 함수 모두를 이용하여 상기 저장 장치의 결함 셀에 대해 리페어 동작을 수행하지 않았으면, 상기 해시 함수 목록 상의 각각의 해시 함수 중 리페어 동작에 사용하지 않은 다른 해시 함수를 선택하여 리페어 동작을 반복하는 단계를 더 포함하는, 리페어 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 해시 함수 목록 내의 각각의 해시 함수 중 리페어 동작 수행 후 남은 예비 요소가 최대인 해시 함수를 상기 결함 정보 저장 테이블에 저장하는 단계는,상기 남은 예비 요소가 최대인 해시 함수를 이용하여 리페어를 수행했을 때의 대체된 결함 셀의 위치 정보 및 상기 남은 예비 요소의 위치 정보를 상기 결함 정보 저장 테이블에 저장하는 단계를 포함하는, 리페어 분석 방법
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제1항에 있어서,타겟 리프레시 주기에서 테스트 패턴을 생성하여 상기 저장 장치의 결함 정보를 검출하는 단계; 및상기 결함 정보 저장 테이블에 미리 저장된, 상기 저장 장치의 제조 과정에서의 상기 리페어 동작 수행 후 남은 예비 요소가 최대인 해시 함수 정보를 이용하고, 상기 저장 장치의 결함 정보에 기초하여 상기 저장 장치의 결함에 대해 리페어 동작을 수행하는 단계를 더 포함하는, 리페어 분석 방법
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제8항에 있어서,타겟 리프레시 주기에서 테스트 패턴을 생성하여 상기 저장 장치의 결함 정보를 검출하는 단계는,타겟 리프레시 주기에서 동작하지 못하는 약한 셀 및 상기 저장 장치의 제조 과정에서의 리페어 동작 수행 후 남아있는 결함 셀을 검출하는 단계를 포함하는, 리페어 분석 방법
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제8항에 있어서,상기 저장 장치의 결함에 대해 리페어 동작이 성공한 경우, 상기 타겟 리프레시 주기를 상기 저장 장치의 리프레시 주기로 설정하는 단계를 더 포함하는, 리페어 분석 방법
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제8항에 있어서,상기 저장 장치의 결함에 대해 리페어 동작이 실패한 경우, 상기 타겟 리프레시를 소정의 주기만큼 감소시키는 단계;상기 감소된 타겟 리프레시 주기에서의 상기 저장 장치의 결함을 검출하는 단계;상기 결함 정보 저장 테이블에 미리 저장된, 상기 저장 장치의 제조 과정에서의 상기 리페어 동작 수행 후 남은 예비 요소가 최대인 해시 함수 정보를 이용하고, 상기 감소된 타겟 리프레시 주기에서의 상기 저장 장치의 결함에 대해 리페어 동작을 수행하는 단계; 및상기 감소된 타겟 리프레시 주기에서의 상기 저장 장치의 결함에 대해 상기 리페어 동작이 성공하였다면, 상기 감소된 타겟 리프레시 주기를 상기 저장 장치의 리프레시 주기로 설정하는 단계를 더 포함하는, 리페어 분석 방법
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제8항에 있어서,상기 저장 장치의 결함에 대해 리페어 동작을 수행하는 단계는,상기 결함 정보 저장 테이블에 미리 저장된, 상기 저장 장치의 제조 과정에서의 상기 리페어 동작시 이미 사용한 예비 요소와 관련된 정보를 이용하는 단계를 포함하는, 리페어 분석 방법
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제11항에 있어서,상기 타겟 리프레시를 소정의 주기만큼 감소시키는 단계는,상기 타겟 리프레시에서 리페어 되지 못한 상기 저장 장치의 결함의 양에 기초하여 상기 소정의 주기를 결정하는 단계를 포함하는, 리페어 분석 방법
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저장 장치; 및상기 저장 장치에 대한 리페어 동작을 수행하는 분석 장치를 포함하며,상기 분석 장치는, 상기 저장 장치의 설정에 기초하여 상기 저장 장치에 제공되는 스페어 셀과 교체되는 결함 셀을 리페어 하는데 사용될 해시 함수 목록을 생성하고, 상기 해시 함수 목록 내의 각각의 해시 함수를 이용하여 상기 저장 장치의 결함 셀에 대해 상기 저장 장치의 제조과정에서 리페어 동작을 수행하고, 상기 해시 함수 목록 내의 각각의 해시 함수 중 리페어 수행 후 남은 예비 요소가 최대인 해시 함수를 결함 정보 저장 테이블에 저장하고,상기 결함 정보 저장 테이블은 상기 저장 장치의 물리 영역과 관련된 정보, 상기 저장 장치의 가상 영역과 관련된 정보, 및 상기 결함 셀의 위치 정보를 포함하는, 리페어 분석 시스템
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타겟 리프레시 주기에서 테스트 패턴을 생성하여 저장 장치의 결함 정보를 검출하는 BIST(Built In Self Test) 모듈; 결함 정보 저장 테이블에 미리 저장된, 상기 저장 장치에 제공되는 스페어 셀과 교체되는 결함 셀을 리페어 하는데 사용될 해시 함수 목록 중 상기 저장 장치의 제조 과정에서의 리페어 동작 수행 후 남은 예비 요소가 최대인 해시 함수 정보를 이용하고, 상기 저장 장치의 결함 정보에 기초하여 상기 저장 장치의 결함에 대해 리페어 동작을 수행하는 BISR(Built In Self Repair) 모듈을 포함하고,상기 결함 정보 저장 테이블은 상기 저장 장치의 물리 영역과 관련된 정보, 상기 저장 장치의 가상 영역과 관련된 정보, 및 상기 결함 셀의 위치 정보를 포함하는, 리페어 분석 시스템
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