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플라나 게이트 플래나 게이트 필드 스탑 IGBT

  • 기술번호 : KST2019018154
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전력 반도체에 관한 것이다. 본 발명의 일측면에 따르면, 필드 스탑을 위한 버퍼층이 형성된 전력 반도체가 제공된다. 전력 반도체는, 제1 도전형 불순물로 도핑된 제1 도전형 드리프트층, 상기 제1 도전형 드리프트층의 상면으로부터 상기 제1 도전형 드리프트층의 내부로 연장되도록 형성되며, 제2 도전형 불순물로 도핑된 제2 도전형 베이스, 상기 제2 도전형 베이스의 상면으로부터 상기 제2 도전형 베이스의 내부로 연장되도록 형성되며, 상기 제1 도전형 불순물로 도핑된 제1 도전형 에미터 영역, 상기 제2 도전형 베이스의 상면으로부터 상기 제2 도전형 베이스의 내부로 연장되도록 형성되며, 상기 제2 도전형 불순물로 도핑된 제2 도전형 에미터 영역, 상기 제2 도전형 베이스에 인접하게 형성된 게이트, 상기 제1 도전형 드리프트층의 하부에 형성되며, 상기 제1 도전형 불순물로 도핑된 제1 도전형 버퍼층, 및 상기 제1 도전형 버퍼층 하부에 형성되며, 상기 제2 도전형 불순물로 도핑된 제2 도전형 컬렉터층을 포함하되, 상기 제1 도전형 드리프트층의 비저항은 40 Ωcm이며, 상기 제1 도전형 버퍼층의 제1 도전형 불순물의 도스는 8.0x1013 cm-2 내지 2.0x1014 cm-2일 수 있다.
Int. CL H01L 29/739 (2006.01.01) H01L 29/66 (2006.01.01)
CPC H01L 29/7393(2013.01) H01L 29/7393(2013.01)
출원번호/일자 1020180027424 (2018.03.08)
출원인 극동대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0107236 (2019.09.19) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 극동대학교 산학협력단 대한민국 충북 음성군

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강이구 충청북도 음성군

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 홍승훈 대한민국 서울특별시 성동구 성수일로 **, ****호(성수동*가)(에이앤에이특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.03.08 수리 (Accepted) 1-1-2018-0234638-10
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154911-36
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번호 청구항
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제1 도전형 불순물로 도핑된 제1 도전형 드리프트층;상기 제1 도전형 드리프트층의 상면으로부터 상기 제1 도전형 드리프트층의 내부로 연장되도록 형성되며, 제2 도전형 불순물로 도핑된 제2 도전형 베이스;상기 제2 도전형 베이스의 상면으로부터 상기 제2 도전형 베이스의 내부로 연장되도록 형성되며, 상기 제1 도전형 불순물로 도핑된 제1 도전형 에미터 영역;상기 제2 도전형 베이스의 상면으로부터 상기 제2 도전형 베이스의 내부로 연장되도록 형성되며, 상기 제2 도전형 불순물로 도핑된 제2 도전형 에미터 영역;상기 제2 도전형 베이스에 인접하게 형성된 게이트;상기 제1 도전형 드리프트층의 하부에 형성되며, 상기 제1 도전형 불순물로 도핑된 제1 도전형 버퍼층; 및 상기 제1 도전형 버퍼층 하부에 형성되며, 상기 제2 도전형 불순물로 도핑된 제2 도전형 컬렉터층을 포함하되,상기 제1 도전형 드리프트층의 비저항은 40 Ωcm이며,상기 제1 도전형 버퍼층의 제1 도전형 불순물의 도스는 8
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청구항 1에 있어서, 셀 깊이는 50 um인 전력 반도체
3 3
청구항 2에 있어서, 상기 제1 도전형 에미터의 제1 도전형 불순물 도스는 5
4 4
청구항 3에 있어서, 상기 제1 도전형 버퍼층의 제1 도전형 불순물의 도스는 1
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.