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저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템 및 이를 포함하는 측정장치

  • 기술번호 : KST2019018252
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 관점에 따르면, 시료가 장착되는 시료 장착부를 포함하는 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템이 제공된다. 상기 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템에 있어서, 상기 시료 장착부는, 시료 장착 공간을 포함하는 제 1 프레임 및 개구된 일 단부가 상기 제 1 프레임과 결합되면서 상기 시료 장착 공간을 내부에 수용하는 제 2 프레임을 포함한다. 상기 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템에 있어서, 상기 제 1 프레임은, 외부와의 통전을 위한 전기 단자가 형성되는 시료 지지부; 상기 시료 지지부의 일면 상에 상기 일 면으로부터 멀어지는 방향으로 연장되며, 단열재로 이루어지고 지지선이 결합될 수 있는 복수의 제 1 지지봉; 상기 시료 지지부의 일면 상에 상기 일 면으로부터 멀어지는 방향으로 연장되며, 고 열전도체로 이루어지고 시료를 거치할 수 있는 복수의 제 2 지지봉; 상기 제 1 지지봉 사이에 지지선에 의해 현수되는 온도계 및 히터; 및 상기 전기 단자로부터 상기 온도계 및 히터에 각각 연결되는 전기공급선을 포함한다.
Int. CL G01K 1/16 (2006.01.01) G01K 13/02 (2006.01.01) G01K 13/00 (2006.01.01) G01K 1/14 (2006.01.01)
CPC G01K 1/16(2013.01) G01K 1/16(2013.01) G01K 1/16(2013.01) G01K 1/16(2013.01) G01K 1/16(2013.01)
출원번호/일자 1020190049063 (2019.04.26)
출원인 서울대학교산학협력단, 기초과학연구원
등록번호/일자 10-1992478-0000 (2019.06.18)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20190624) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.04.26)
심사청구항수 19

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구
2 기초과학연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박제근 서울특별시 관악구
2 김하림 서울특별시 관악구
3 매트 존 콕 영국, 씨브이 에이엘, 웨스트 미들랜즈, 코

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김남식 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)
2 이인행 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)
3 김한 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 서울특별시 관악구
2 기초과학연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2019.04.26 수리 (Accepted) 1-1-2019-0435129-20
2 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.04.26 수리 (Accepted) 1-1-2019-0432970-87
3 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search
2019.05.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2019.05.09 수리 (Accepted) 9-1-2019-0021243-37
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
6 등록결정서
Decision to grant
2019.05.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0358114-53
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
시료가 장착되는 시료 장착부를 포함하는 프로브 시스템으로서, 상기 시료 장착부는, 시료 장착 공간을 포함하는 제 1 프레임 및 개구된 일 단부가 상기 제 1 프레임과 결합되면서 상기 시료 장착 공간을 내부에 수용하는 제 2 프레임을 포함하고,상기 제 1 프레임은, 외부와의 통전을 위한 전기 단자가 형성되는 시료 지지부;상기 시료 지지부의 일면 상에 상기 일 면으로부터 멀어지는 방향으로 연장되며, 단열재로 이루어지고 지지선이 결합될 수 있는 복수의 제 1 지지봉;상기 시료 지지부의 일면 상에 상기 일 면으로부터 멀어지는 방향으로 연장되며, 고 열전도체로 이루어지고 시료를 거치할 수 있는 복수의 제 2 지지봉; 상기 제 1 지지봉 사이에 지지선에 의해 현수되는 온도계 및 히터; 및 상기 전기 단자로부터 상기 온도계 및 히터에 각각 연결되는 전기공급선을 포함하는, 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
2 2
제 1 항에 있어서,상기 시료와 상기 온도계 및 히터를 연결할 수 있도록 상기 온도계 및 히터와 결합되어 제공되는 와이어 단자를 더 포함하는,저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 제 2 지지봉의 일 단부에 결합되며, 시료를 거치할 수 있는 시료 거치대를 더 포함하는, 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 제 2 프레임의 타 단부와 결합되는 퍽(puck)을 더 포함하고, '상기 퍽은 상기 저온 초정밀 측정장치의 냉각 조절 부분과 접촉되는 것인, 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
5 5
제 1 항에 있어서,상기 복수의 제 2 지지봉 중 상기 시료가 거치되는 것 이외의 것 중 하나 이상은 상기 제 2 프레임과 직접 접촉되는, 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 전기공급 선은 상기 제 1 지지봉의 외주면의 일부 영역에 접착되어 상기 제 1 지지봉의 연장방향으로 연장되는 전기선 연결부;상기 전기선 연결부와 상기 전기 단자를 연결하는 제 1 전도성 와이어; 및상기 전기선 연결부와 일단부가 결합되고, 타단부가 상기 히터 또는 온도계 각각에 연결되는 제 2 전도성 와이어;를 포함하는,저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 온도계는 SrTiO3 정전용량 온도계를 포함하는, 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 제 1 지지봉은 세라믹, 글래스 파이버 및 수지 중 어느 하나를 포함하는, 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
9 9
제 1 항에 있어서, 상기 지지선은 고분자 재질을 포함하는, 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
10 10
제 1 항에 있어서, 상기 제 2 지지봉은 금속소재를 포함하는,저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
11 11
제 6 항에 있어서, 제 1 전도성 와이어 및 제 2 전도성 와이어 중 어느 하나 이상은 Pt/Ir 합금을 포함하는, 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
12 12
제 3 항에 있어서, 상기 시료 거치대는 사파이어를 포함하는, 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
13 13
제 1 항에 있어서, 상기 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템은,프로브 헤드부;상기 프로브 헤드부의 일 단부와 연결되는 프로브 연결부; 및 일 단부가 상기 프로브 연결부의 타 단부와 연결되는 히트 싱크부를 포함하고,상기 히트 싱크부의 타 단부에 상기 시료 장착부가 연결되는 것인, 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
14 14
제 13 항에 있어서, 상기 프로브 연결부는, 코어 프레임과 상기 코어 프레임의 외면을 감싸면서 연장되는 동축 케이블을 포함하는 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
15 15
제 13 항에 있어서, 상기 시료 장착부는 상기 히트 싱크부에 탈착 가능하게 연결되는 것인, 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
16 16
제 13 항에 있어서, 상기 히트 싱크부의 일단부는 접점 스프링(contact finger) 혹은 콜드 핑거 (cold finger)을 이용하여 저온 초정밀 측정장치의 챔버 내벽과 접촉된 것인,저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
17 17
제 13 항에 있어서, 상기 히트 싱크부는, 금속소재의 몸통부; 및 몸통부의 외주면을 감싸면서 연장되는 동축 케이블;을 포함하는,저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
18 18
제 17 항에 있어서, 상기 동축 케이블의 쉴드(shield)를 상기 제 2 프레임과 전기적으로 연결시킨, 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템
19 19
제 1 항 내지 제 18 항 중 어느 하나의 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템을 포함하되,상기 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템은 복수 개의 SrTiO3 정전용량 온도계를 포함하고, 상기 복수 개의 SrTiO3 정전용량 온도계 각각은 동축 릴레이를 통해 동일한 정전용량 측정용 브릿지에 연결되는, 저온 초정밀 열수송 측정장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 기초과학연구원 기초과학연구단사업 강상관계 물질 연구 (8/8)