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미세 입자 측정 장치

  • 기술번호 : KST2019018535
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 전기장 내 전기 이동도 차이를 이용하여 하전된 미세 입자 중 특정 크기의 미세 입자만을 골라 추출하고 그 개수를 측정하는 미세 입자 측정 장치가 개시된다. 본 발명에 따른 미세 입자 측정 장치는, 유입되는 미세 입자를 하전시키는 하전 유닛, 전기장 내 전기 이동도 차이를 이용하여 하전된 미세 입자 중 특정 크기의 미세 입자를 분류하여 추출하는 분류 유닛, 분류 유닛으로부터 추출된 특정 크기의 미세 입자 개수를 측정하는 계수 유닛, 분류 유닛과 계수 유닛을 둘러싸도록 구비되는 도전성 금속 재질의 차폐 유닛 및 차폐 유닛을 에워싸는 절연성 수지 재질의 외부 하우징을 포함하는 것을 요지로 한다.
Int. CL G01N 15/14 (2006.01.01)
CPC G01N 15/1404(2013.01) G01N 15/1404(2013.01) G01N 15/1404(2013.01) G01N 15/1404(2013.01)
출원번호/일자 1020190003034 (2019.01.10)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-2023642-0000 (2019.09.16)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20190920) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.01.10)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 송순호 서울특별시 양천구
2 송현우 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 윤병국 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***길, **, *층 (대치동, 삼호빌딩)(지성국제특허법률사무소)
2 이영규 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***길, **, *층 (대치동, 삼호빌딩)(지성국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2019.01.10 수리 (Accepted) 1-1-2019-0030500-24
2 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.01.10 수리 (Accepted) 1-1-2019-0030189-16
3 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search
2019.01.17 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2019.01.18 수리 (Accepted) 9-1-2019-0004040-22
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.02.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0089507-50
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.04.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0359605-91
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.04.08 수리 (Accepted) 1-1-2019-0359600-63
8 등록결정서
Decision to grant
2019.06.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0420380-70
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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유입되는 미세 입자를 하전시키는 하전 유닛;전기장 내 전기 이동도 차이를 이용하여 하전된 미세 입자 중 특정 크기의 미세 입자만을 분류하여 추출하는 분류 유닛; 및상기 분류 유닛으로부터 추출된 특정 크기의 미세 입자 개수를 측정하는 계수 유닛;을 각각 모듈화시킨 구성을 포함하며, 상기 하전 유닛은,절연성 수지 재질의 유닛 하우징;상기 유닛 하우징의 중앙에 수평 방향으로 배치되는 단면이 원형 또는 각형인 막대 형상의 제1 전극;상기 제1 전극과 간격을 두고 제1 전극의 좌우 측방에 평행하게 이격 배치되는 평판 형상의 제2 전극;을 포함하며,상기 유닛 하우징의 상단의 도입관을 통해 유닛 하우징 내에서 서로 마주하는 상기 제2 전극 사이로 미세 입자가 도입되고, 반대편 하단의 주입관을 통해 하전된 미세 입자를 분류 유닛에 주입시키고,상기 분류 유닛은,하전된 미세 입자가 일측에서 수평 방향으로 유입되는 층류형 공기를 따라 유동될 수 있도록 내부공간이 형성된 절연성 수지 재질의 전방 커버와,상기 전방 커버의 후단에 소정 길이로 설치되며, 상기 층류형 공기의 층류 유동(Laminar flow)에 따라 타측으로 이동되는 미세 입자에 전기장을 가해 수직 방향에 대하여 가속시키는 평행한 한 쌍의 도전성 금속 전극과,상기 한 쌍의 금속 전극 각각에 연결되어 두 금속 전극 사이에 전위차를 발생시키기 위한 전기 에너지를 공급하는 전극 볼트와,상기 전방 커버의 후단에 연결되어 상기 도전성 금속 전극을 에워싸 보호하며, 내부에는 층류형 공기의 유동에 따라 하전된 미세 입자가 유동되는 유로가 형성된 절연성 수지 재질의 후방 커버와,상기 전방 커버의 상면 일측에 하전된 미세 입자가 유입되는 하전 입자 유입구가 형성되고, 하전 입자 유입구로부터 사선 방향으로 소정 거리 이격된 상기 후방 커버의 하면에 하전 입자 배출구가 형성되되,상기 하전 입자 유입구는 하전 입자가 균일한 분포로 전방 커버 내부로 유입될 수 있도록 상기 전방 커버의 폭 방향에 대해 가늘고 긴 슬릿 형태로 형성되는 미세 입자 측정 장치
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유입되는 미세 입자를 하전시키는 하전 유닛;전기장 내 전기 이동도 차이를 이용하여 하전된 미세 입자 중 특정 크기의 미세 입자를 분류하여 추출하는 분류 유닛;상기 분류 유닛으로부터 추출된 특정 크기의 미세 입자 개수를 측정하는 계수 유닛;상기 분류 유닛과 계수 유닛을 둘러싸도록 구비되는 도전성 금속 재질의 차폐 유닛; 및상기 차폐 유닛을 에워싸는 절연성 수지 재질의 외부 하우징;을 각각 모듈화시킨 구성을 포함하며, 상기 하전 유닛은,절연성 수지 재질의 유닛 하우징;상기 유닛 하우징의 중앙에 수평 방향으로 배치되는 단면이 원형 또는 각형인 막대 형상의 제1 전극;상기 제1 전극과 간격을 두고 제1 전극의 좌우 측방에 평행하게 이격 배치되는 평판 형상의 제2 전극;을 포함하며,상기 유닛 하우징의 상단의 도입관을 통해 유닛 하우징 내에서 서로 마주하는 상기 제2 전극 사이로 미세 입자가 도입되고, 반대편 하단의 주입관을 통해 하전된 미세 입자를 분류 유닛에 주입시키고,상기 분류 유닛은,하전된 미세 입자가 일측에서 수평 방향으로 유입되는 층류형 공기를 따라 유동될 수 있도록 내부공간이 형성된 절연성 수지 재질의 전방 커버와,상기 전방 커버의 후단에 소정 길이로 설치되며, 상기 층류형 공기의 층류 유동(Laminar flow)에 따라 타측으로 이동되는 미세 입자에 전기장을 가해 수직 방향에 대하여 가속시키는 평행한 한 쌍의 도전성 금속 전극과,상기 한 쌍의 금속 전극 각각에 연결되어 두 금속 전극 사이에 전위차를 발생시키기 위한 전기 에너지를 공급하는 전극 볼트와,상기 전방 커버의 후단에 연결되어 상기 도전성 금속 전극을 에워싸 보호하며, 내부에는 층류형 공기의 유동에 따라 하전된 미세 입자가 유동되는 유로가 형성된 절연성 수지 재질의 후방 커버와,상기 전방 커버의 상면 일측에 하전된 미세 입자가 유입되는 하전 입자 유입구가 형성되고, 하전 입자 유입구로부터 사선 방향으로 소정 거리 이격된 상기 후방 커버의 하면에 하전 입자 배출구가 형성되되,상기 하전 입자 유입구는 하전 입자가 균일한 분포로 전방 커버 내부로 유입될 수 있도록 상기 전방 커버의 폭 방향에 대해 가늘고 긴 슬릿 형태로 형성되는 미세 입자 측정 장치
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제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 하전 유닛은 코로나 방전(Corona discharge)을 형성시켜 상기 미세 입자의 표면에 양(+)의 전하를 하전시키는 미세 입자 측정 장치
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삭제
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삭제
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제 1 항에 있어서,상기 전방 커버에 유입되는 공기로부터 와류를 제거하고 층류화하는 층류화 스크린;을 더 포함하는 미세 입자 측정 장치
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제 6 항에 있어서,상기 층류화 스크린이 전방 커버에 유입되는 공기의 유동을 기준으로 상기 하전 입자 유입구 전방의 전방 커버 내에 설치되는 미세 입자 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 한 쌍의 금속 전극 중 하부 금속 전극의 말단 모서리와 상기 하전 입자 배출구의 일면이 동일 선상에 정렬되는 미세 입자 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 한 쌍의 금속 전극은 수평 방향에 대하여 상하로 평행하게 대향 배치되는 평판 전극인 미세 입자 측정 장치
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제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 계수 유닛은,상기 분류 유닛으로부터 추출된 미세 입자의 개수를 측정하는 입자 계수 전극을 포함하며, 상기 입자 계수 전극을 사이에 두고 상부와 하부에서 절연성 수지 재질의 상부 케이스와 하부 케이스가 결합되어 상기 입자 계수 전극의 계수부를 보호하도록 구성되는 미세 입자 측정 장치
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제 10 항에 있어서,상기 상부 케이스의 상단 중앙에 계수 유닛 입구가 형성되고, 반대편 하부 케이스 하단 중앙에 계수 처리된 미세 입자가 빠져나가는 계수 유닛 출구가 형성되며,상기 입구와 계수부, 그리고 출구를 직선으로 연결하는 하나의 유로가 구획되도록 상부 케이스와 하부 케이스의 내부에 통로가 형성되는 미세 입자 측정 장치
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제 10 항에 있어서,상기 입자 계수 전극은,링 모양의 입력단 내측에 금속 메시 필터가 설치된 구성의 상기 계수부; 및상기 입력단의 외면 일측에 전기적으로 연결되고 케이스 밖으로 연장되는 막대 형상의 출력단;를 포함하는 미세 입자 측정 장치
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제 12 항에 있어서,상기 입자 계수 전극은 금속 메시 필터를 이용하여 입자를 포집하고 입자가 가진 전하로부터 미소 전류를 출력하는 미세 입자 측정 장치
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제 2 항에 있어서,상기 차폐 유닛과 외부 하우징 사이에 전기적인 절연을 위한 절연 공간이 형성되는 미세 입자 측정 장치
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제 14 항에 있어서,상기 절연 공간에 절연 분말이 채워지는 미세 입자 측정 장치
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제 1 항 또는 제 2 항의 미세 입자 측정 장치를 포함하는 공기 중 오염 물질 모니터링 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 한국생산기술연구원 에너지기술개발사업 화력발전소 발생 미세먼지/전구물질의 거동 및 확산 패턴 분석을 위한 통합관제 시스템 개발