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시험기 본체(10) 상에 서로 대칭을 이루면서 상하 한 쌍으로 설치되는 상부 지그(11)와 하부 지그(12)를 포함하며, 상기 상부 지그(11)와 하부 지그(12)가 시편의 양쪽 끝 부분을 각각 한 쪽씩 프리 스트레스(Free stress) 상태로 지지하면서 상부 지그(11)의 반복적인 상하 슬라이드 운동을 통해 시편에 대한 접힘 특성을 시험할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 플렉서블 디바이스 접힘 시험용 지그에 있어서,상기 상부 지그(11)의 저면과 하부 지그(12)의 상면에 형성되어 있는 가이드 레일(14)을 따라 위치 이동 및 위치 고정이 가능한 지지편 고정 홀더(15) 상에 상기 시편의 양쪽 끝 부분을 각각 한 쪽씩 맞닿게 접촉 지지하는 지지편(13a,13b)이 설치되되, 상기 지지편(13a,13b)은 상기 지그(11, 12) 전후 길이 방향 및 좌우 폭 방향을 따라 일정간격을 두고 나란하게 배치되는 다수 개로 이루어져 시편의 길이 및 폭에 맞게 지지편(13a,13b)의 위치 및 개수를 조절할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 플렉서블 디바이스 접힘 시험용 지그
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청구항 1에 있어서, 상기 상부 지그(11)와 하부 지그(12)의 가이드 레일(14)에 설치되는 지지편 고정 홀더(15)는 가이드 레일(14)측과 요철(凹凸) 결합 구조로 설치되어 상부 이탈이 방지될 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 플렉서블 디바이스 접힘 시험용 지그
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청구항 1에 있어서, 상기 상부 지그(11)의 저면 및/또는 하부 지그(12)의 상면에는 시편과의 간섭을 배제하기 위해 리드선을 수용할 수 있는 리드선 수납홈(16)이 형성되는 것을 특징으로 하는 플렉서블 디바이스 접힘 시험용 지그
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청구항 1에 있어서, 상기 상부 지그(11)와 하부 지그(12)는 비전도성 소재로 이루어지는 것을 특징으로 하는 플렉서블 디바이스 접힘 시험용 지그
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청구항 1, 청구항 6, 청구항 7 또는 청구항 8에 있어서, 상기 상부 지그(11)와 하부 지그(12)는 강화 플라스틱 또는 비전도성 표면처리된 금속소재로 이루어지는 것을 특징으로 하는 플렉서블 디바이스 접힘 시험용 지그
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청구항 1에 있어서, 상기 상부 지그(11)의 저면과 하부 지그(12)의 상면은 시편의 움직임을 방지하기 위해 일정 정도의 표면 거칠기를 갖도록 표면처리가 되는 것을 특징으로 하는 플렉서블 디바이스 접힘 시험용 지그
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청구항 1에 있어서, 상기 상부 지그(11)와 하부 지그(12)에는 일반 인장 시험기에 호환 가능하게 설치될 수 있는 지지대(17)가 구비되는 것을 특징으로 하는 플렉서블 디바이스 접힘 시험용 지그
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청구항 1에 있어서, 상기 상부 지그(11)의 저면 또는 하부 지그(12)의 상면에는 시편 장착 시에 시편의 센터를 맞추기 위한 눈금(18)이 형성되는 것을 특징으로 하는 플렉서블 디바이스 접힘 시험용 지그
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청구항 1에 있어서, 상기 상부 지그(11)의 하부 지그(12)는 시편측에서 연장되는 리드선을 정렬할 수 있는 리드선 고정 홀더(19)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 플렉서블 디바이스 접힘 시험용 지그
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