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중적외선을 이용한 반도체 칩간 광통신 기술

  • 기술번호 : KST2019019506
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 실시예에 따른 반도체 칩간 광통신 기술은, 전기 신호를 광 신호로 변환하는 단계; 제1 기판상에 구비된 광 발신기를 이용하여 상기 제1 기판의 위 또는 아래에 위치한 제2 기판으로 광 신호를 송신하는 단계; 상기 제2 기판상에 구비된 광 검출기를 이용하여 상기 광 신호를 수신하는 단계; 및 상기 수신된 광 신호를 전기 신호로 변환하는 단계를 포함한다. 이에 따르면, 실리콘, 차세대 고이동도 재료와 같은 반도체 재료에 대하여 투명한 중적외선 파장대의 빛을 이용함으로써, 금속 배선을 이용하지 않고도 적층된 반도체 칩간 통신이 가능하다. 광통신을 이용하면 대역폭과 소비 전력을 획기적으로 줄일 수 있으며, 종래의 TSV(Through Silicon Via) 기술의 한계(예를 들어, 적층 수의 한계, 고비용, 저수율 등)를 극복할 수 있다. 또한, 종래의 TSV 기술과 달리 기판을 뚫고 정렬하는 공정을 필요로 하지 않으므로 공정 난이도를 낮추고 비용을 줄일 수 있을 뿐만 아니라, 종래의 실리콘 포토닉스(Si Photonics)에서 확립된 포토닉스 기술 및 플랫폼을 확장하여 이용할 수 있으므로 설계에 소요되는 비용을 줄일 수 있다.
Int. CL H04B 10/80 (2013.01.01) H01S 5/323 (2006.01.01) H01S 5/02 (2006.01.01) H01S 5/183 (2015.01.01)
CPC H04B 10/803(2013.01) H04B 10/803(2013.01) H04B 10/803(2013.01) H04B 10/803(2013.01)
출원번호/일자 1020180039807 (2018.04.05)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0116787 (2019.10.15) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.04.05)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 한재훈 서울특별시 성북구
2 김상현 서울특별시 성북구
3 주현수 서울특별시 성북구
4 송진동 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영철 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)
2 김 순 영 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.04.05 수리 (Accepted) 1-1-2018-0340490-58
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.09.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.11.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2019-0019913-88
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.03.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0158061-96
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2019.05.03 수리 (Accepted) 1-1-2019-0455793-85
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2019.06.03 수리 (Accepted) 1-1-2019-0566779-15
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2019.07.04 수리 (Accepted) 1-1-2019-0685069-20
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.08.05 수리 (Accepted) 1-1-2019-0797991-40
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.08.05 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0797993-31
10 등록결정서
Decision to grant
2019.09.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0684169-66
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
반도체 칩간 광통신 방법으로서,전기 신호를 광 신호로 변환하는 단계;제1 기판상에 구비된 광 발신기를 이용하여 상기 제1 기판의 위 또는 아래에 위치한 제2 기판으로 광 신호를 송신하는 단계;상기 제2 기판상에 구비된 광 검출기를 이용하여 상기 광 신호를 수신하는 단계; 및상기 수신된 광 신호를 전기 신호로 변환하는 단계를 포함하되,상기 제1 기판 및 제2 기판은 실리콘(Si), 저마늄(Ge) 및 실리콘 저마늄(SiGe) 중 적어도 하나를 포함하는 화합물 반도체로 구성되며,상기 광 신호는 상기 화합물 반도체를 투과할 수 있는 1
2 2
제1항에 있어서,상기 레이저 및 광 검출소자는, 안티몬(Sb) 기반의 화합물 반도체로 구성되는 것을 특징으로 하는, 반도체 칩간 광통신 방법
3 3
제1항에 있어서,상기 광 신호는 중적외선 파장 대역의 광으로서, 상기 제1 기판 및 제2 기판에 대하여 임계치 이상의 투과율을 갖는 것을 특징으로 하는, 반도체 칩간 광통신 방법
4 4
삭제
5 5
제1항에 있어서,상기 제1 기판 및 제2 기판 사이에는 상기 광 신호에 대해 투명한 적어도 하나의 기판이 더 적층되는 것을 특징으로 하는, 반도체 칩간 광통신 방법
6 6
삭제
7 7
제1항에 있어서,상기 레이저 및 광 검출 소자는, 각각 갈륨안티몬(GaSb), 인듐인(InP), 갈륨비소(GaAs), 인듐비소(InAs), 질화인듐(InN), HgCdTe, 황화납/셀레늄화납 (PbS/PbSe), 2차원탄소물질, 2차원 질화보론 중 적어도 하나의 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는, 반도체 칩간 광통신 방법
8 8
제1항에 있어서,상기 제1 기판은, 상기 광 발신기로부터 송신된 광 신호를 위 또는 아래 방향으로 송신하기 위해, 다수의 요철로 구성된 그레이팅(grating) 구조를 포함하는 것을 특징으로 하는, 반도체 칩간 광통신 방법
9 9
제1항에 있어서,상기 광 발신기는, 광 신호를 위 방향으로 송신하기 위한 경사를 갖는 미러를 포함하거나,신호를 아래 방향으로 송신하기 위한 경사를 갖는 미러를 포함하는 것을 특징으로 하는, 반도체 칩간 광통신 방법
10 10
제1항에 있어서,상기 광 발신기는, 광 신호를 위 방향 또는 수직 방향으로 송신하기 위한 VCSEL(vertical-cavity surface-emitting laser) 기기를 포함하는 것을 특징으로 하는, 반도체 칩간 광통신 방법
11 11
제1항 내지 제3항, 제5항, 제7항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,상기 광 발신기 및 광 검출기는 에피택셜 리프트-오프(Epitaxial Lift-Off) 공정에 의해 상기 제1 기판 및 제2 기판상에 집적되는 것을 특징으로 하는, 반도체 칩간 광통신 방법
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US10686534 US 미국 FAMILY
2 US20190312654 US 미국 FAMILY

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US10686534 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US2019312654 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.