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산란점 추정 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2019021546
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예에 따른 산란점 추정 방법은, 소정 고각 각도 및 소정 방위각 각도 간격으로, 대상체에 의해 전자파가 산란됨에 기초하여 생성되는 복수의 산란점에 대한 위치를 나타내는 정보가 저장되어 있는 데이터베이스를 이용하여, 제1 고각 및 제1 방위각에서의 제1 산란점 세트, 상기 제1 고각 및 제2 방위각에서의 제2 산란점 세트, 제2 고각 및 상기 제1 방위각에서의 제3 산란점 세트를 결정하는 단계와, 상기 제1 산란점 세트와 상기 제2 산란점 세트를 연계시키고 상기 제1 산란점 세트와 상기 제3 산란점 세트를 연계시킴에 기초하여, 상기 복수의 산란점에 대한 2차원 행렬을 생성하는 단계와, 상기 생성된 행렬을 내삽하여, 상기 제1 고각과 상기 제2 고각 사이의 특정 고각과 상기 제1 방위각과 상기 제2 방위각 사이의 특정 방위각에서 상기 복수의 산란점에 대한 위치를 나타내는 제4 산란점 세트를 추정하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL G01S 7/41 (2006.01.01)
CPC G01S 7/41(2013.01)
출원번호/일자 1020190071048 (2019.06.14)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자 10-2014389-0000 (2019.08.20)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20190826) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.06.14)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박지훈 대전광역시 유성구
2 김시호 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 제일특허법인(유) 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.06.14 수리 (Accepted) 1-1-2019-0612064-14
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2019.06.25 수리 (Accepted) 1-1-2019-0650721-83
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.07.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.08.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2019-0088859-16
5 등록결정서
Decision to grant
2019.08.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0585181-60
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번호 청구항
1 1
소정 고각 각도 및 소정 방위각 각도 간격으로, 대상체에 의해 전자파가 산란됨에 기초하여 생성되는 복수의 산란점에 대한 위치를 나타내는 정보가 저장되어 있는 데이터베이스를 이용하여, 제1 고각 및 제1 방위각에서의 제1 산란점 세트, 상기 제1 고각 및 제2 방위각에서의 제2 산란점 세트, 제2 고각 및 상기 제1 방위각에서의 제3 산란점 세트를 결정하는 단계와, 상기 제1 산란점 세트와 상기 제2 산란점 세트를 연계시키고 상기 제1 산란점 세트와 상기 제3 산란점 세트를 연계시킴에 기초하여, 상기 복수의 산란점에 대한 2차원 행렬을 생성하는 단계와, 상기 생성된 행렬을 내삽하여, 상기 제1 고각과 상기 제2 고각 사이의 특정 고각과 상기 제1 방위각과 상기 제2 방위각 사이의 특정 방위각에서 상기 복수의 산란점에 대한 위치를 나타내는 제4 산란점 세트를 추정하는 단계를 포함하는 산란점 추정 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 제4 산란점 세트에 포함되는 복수의 산란점에 대한 정보는, 상기 데이터베이스에 미리 저장되지 않는산란점 추정 방법
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제1항에 있어서,상기 제1 산란점 세트는, 상기 제1 고각 및 상기 제1 방위각에서 상기 복수의 산란점에 대한 위치 및 크기를 나타내는 정보를 포함하고, 상기 제2 산란점 세트는, 상기 제1 고각 및 상기 제2 방위각에서 상기 복수의 산란점에 대한 위치 및 크기를 나타내는 정보를 포함하고, 상기 제3 산란점 세트는, 상기 제2 고각 및 상기 제1 방위각에서 상기 복수의 산란점에 대한 위치 및 크기를 나타내는 정보를 포함하는 산란점 추정 방법
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제1항에 있어서,상기 제1 고각과 상기 제2 고각은 상기 소정 고각 각도의 차이를 가지고,상기 제1 방위각과 상기 제2 방위각은 상기 소정 방위각 각도의 차이를 가지는 산란점 추정 방법
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제1항에 있어서,상기 제1 산란점 세트와 상기 제2 산란점 세트의 연계는, 상기 제1 산란점 세트로부터 복원된 전기장 신호, 상기 제2 산란점 세트로부터 복원된 전기장 신호의 차이를 이용하여 상기 제1 산란점 세트에 대해 최적화를 수행하고, 상기 최적화가 수행된 제1 산란점 세트에 대해 기지정된 회전 행렬과 상기 제1 산란점 세트와 연관된 이동 벡터를 이용하여 이동 변환을 수행함에 기초하여 이루어지는산란점 추정 방법
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소정 고각 각도 및 소정 방위각 각도 간격으로, 대상체에 의해 전자파가 산란됨에 기초하여 생성되는 복수의 산란점에 대한 위치를 나타내는 정보가 저장되어 있는 데이터베이스를 이용하여, 제1 고각 및 제1 방위각에서의 제1 산란점 세트, 상기 제1 고각 및 제2 방위각에서의 제2 산란점 세트, 제2 고각 및 상기 제1 방위각에서의 제3 산란점 세트를 결정하는 산란점 세트 결정부와, 상기 제1 산란점 세트와 상기 제2 산란점 세트를 연계시키고 상기 제1 산란점 세트와 상기 제3 산란점 세트를 연계시킴에 기초하여, 상기 복수의 산란점에 대한 2차원 행렬을 생성하는 행렬 생성부와, 상기 생성된 행렬을 내삽하여, 상기 제1 고각과 상기 제2 고각 사이의 특정 고각과 상기 제1 방위각과 상기 제2 방위각 사이의 특정 방위각에서 상기 복수의 산란점에 대한 위치를 나타내는 제4 산란점 세트를 추정하는 산란점 세트 추정부를 포함하는 산란점 추정 장치
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제6항에 있어서,상기 제4 산란점 세트에 포함되는 복수의 산란점에 대한 정보는, 상기 데이터베이스에 미리 저장되지 않는산란점 추정 장치
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제6항에 있어서,상기 제1 산란점 세트는, 상기 제1 고각 및 상기 제1 방위각에서 상기 복수의 산란점에 대한 위치 및 크기를 나타내는 정보를 포함하고, 상기 제2 산란점 세트는, 상기 제1 고각 및 상기 제2 방위각에서 상기 복수의 산란점에 대한 위치 및 크기를 나타내는 정보를 포함하고, 상기 제3 산란점 세트는, 상기 제2 고각 및 상기 제1 방위각에서 상기 복수의 산란점에 대한 위치 및 크기를 나타내는 정보를 포함하는 산란점 추정 장치
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제6항에 있어서,상기 제1 고각과 상기 제2 고각은 상기 소정 고각 각도의 차이를 가지고,상기 제1 방위각과 상기 제2 방위각은 상기 소정 방위각 각도의 차이를 가지는 산란점 추정 장치
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제6항에 있어서,상기 행렬 생성부는, 상기 제1 산란점 세트로부터 복원된 전기장 신호, 상기 제2 산란점 세트로부터 복원된 전기장 신호의 차이를 이용하여 상기 제1 산란점 세트에 대해 최적화를 수행하고, 상기 최적화가 수행된 제1 산란점 세트에 대해 기지정된 회전 행렬과 상기 제1 산란점 세트와 연관된 이동 벡터를 이용하여 이동변환을 수행함에 기초하여 상기 제1 산란점 세트와 상기 제2 산란점 세트를 연계시키는산란점 추정 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.