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동작 전압이, 양단 간을 흐르는 전류의 값의 로그 스케일(log scale)에 비례하는 특성을 갖는 스위칭 소자부;입력 신호의 전력을 시간에 대해 평균한 값에 비례하는 크기를 갖는 직류 전류를, 상기 스위칭 소자부에 제공하는 정류부; 및상기 정류부에 의해 상기 직류 전류가 상기 스위칭 소자부의 양단 간에 흐를 때의 상기 스위칭 소자부의 동작 전압의 값에 기초하여, 상기 입력 신호의 전력의 값을 로그 스케일로 출력하는 출력부를 포함하는입력 신호 세기 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 스위칭 소자부는, 상기 스위칭 소자부의 양단 중 일단에 소스(source)가, 타단에 드레인(drain)이 각각 연결되고, 상기 동작 전압을 게이트(gate)와 상기 소스 간의 전압으로 인가받으며, 상기 소스와 상기 드레인 사이의 채널(channel)을 통해 상기 직류 전류가 흐르는 제 1 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)를 포함하는입력 신호 세기 측정 장치
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제 2 항에 있어서,상기 전계 효과 트랜지스터는, 문턱 아래 영역(subthreshold region)에서 동작하도록 설정되는입력 신호 세기 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 정류부는,상기 입력 신호의 전압의 크기를 제곱한 값에 비례하는 값을 갖는 입력 전류를 생성하는 전류 생성부; 및상기 입력 전류를 입력받아, 상기 입력 전류의 값을 시간에 대해 평균한 값과 동일한 값을 갖는 상기 직류 전류를 상기 스위칭 소자부에 공급하는 전류 제어부를 포함하는입력 신호 세기 측정 장치
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제 4 항에 있어서,상기 전류 생성부는, 제 2 전계 효과 트랜지스터 및 제 3 전계 효과 트랜지스터를 포함하며,상기 제 2 전계 효과 트랜지스터는, 상기 제 2 전계 효과 트랜지스터의 게이트를 통해 소정의 직류 바이어스(bias) 전압과 상기 입력 신호를 함께 입력받음으로써, 상기 직류 바이어스 전압에 의한 직류 바이어스 전류와 상기 입력 신호에 의한 상기 입력 전류가 함께 상기 제 2 전계 효과 트랜지스터의 소스와 드레인 사이의 채널을 통해 흐르도록 하고,상기 제 3 전계 효과 트랜지스터는, 상기 제 2 전계 효과 트랜지스터의 채널로부터 공급된 상기 직류 바이어스 전류와 상기 입력 전류 중, 상기 직류 바이어스 전류는 상기 제 3 전계 효과 트랜지스터의 소스와 드레인 사이의 채널을 통해 흐르도록 하고, 상기 입력 전류는 상기 전류 제어부로 공급되도록 하는입력 신호 세기 측정 장치
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제 5 항에 있어서,상기 제 3 전계 효과 트랜지스터의 채널을 통해 흐르는 전류는, 상기 제 3 전계 효과 트랜지스터의 게이트와 소스 간의 전압이 일정하게 유지됨에 따라, 상기 직류 바이어스 전류로 일정하게 유지되는입력 신호 세기 측정 장치
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제 4 항에 있어서,상기 전류 제어부는, 상기 스위칭 소자부와 병렬로 연결되어, 상기 스위칭 소자부 양단 간의 전압을 일정하게 유지하는 정전압 커패시터를 포함하는입력 신호 세기 측정 장치
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제 7 항에 있어서,상기 전류 제어부는, 상기 입력 전류 중 교류 성분이 상기 정전압 커패시터의 양단 간을 흐르게 함으로써, 상기 입력 전류 중 상기 교류 성분이 제거된 상기 직류 전류를 상기 스위칭 소자부에 공급하는입력 신호 세기 측정 장치
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제 7 항에 있어서,상기 출력부는, 상기 정전압 커패시터의 양단 간의 전압의 시간에 대한 변화율이 소정 임계치 미만일 경우의 상기 정전압 커패시터의 양단 간의 전압의 값에 기초하여, 상기 입력 신호의 전력의 값을 로그 스케일로 출력하는입력 신호 세기 측정 장치
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입력 신호의 전력을 시간에 대해 평균한 값에 비례하는 크기를 갖는 직류 전류를 생성하는 단계;동작 전압이, 양단 간을 흐르는 전류의 값의 로그 스케일(log scale)에 비례하는 특성을 갖는 스위칭 소자부에, 상기 직류 전류를 제공하는 단계; 및상기 직류 전류가 상기 스위칭 소자부의 양단 간에 흐를 때의 상기 스위칭 소자부의 동작 전압의 값에 기초하여, 상기 입력 신호의 전력의 값을 로그 스케일로 출력하는 단계를 포함하는입력 신호 세기 측정 방법
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