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전자소자가 실장된 전자모듈의 수명정량평가방법

  • 기술번호 : KST2019022206
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 자동차나 원자력 발전소 등의 구동에 사용되는 전자소자가 실장된 전자모듈의 수명정량평가방법이 제안된다. 본 발명에 따른 전자소자가 실장된 전자모듈의 수명정량평가방법은 전자모듈에 포함되는 전자소자에 고장유발원인을 인가하는 고장유발원인 인가단계; 전자소자의 수명과 관련된 특성값을 획득하는 특성값 획득단계; 전자모듈이 고장상태가 될 때까지 단계들을 반복하는 단계; 및 전자소자의 평균수명을, 고장유발원인이 인가되지 않은 초기전자소자의 특성값인 초기특성값과 전자모듈이 고장상태가 된 때의 최후전자소자의 최후특성값의 차이에 대한 특성값의 비율을 연산하여 전자소자의 수명을 획득하는 수명획득단계; 및 전자소자의 수명을 전자모듈의 수명과 매칭시키는 단계;를 포함한다.
Int. CL G01R 31/26 (2014.01.01) G01R 31/00 (2006.01.01) G01R 31/28 (2006.01.01)
CPC G01R 31/2642(2013.01) G01R 31/2642(2013.01) G01R 31/2642(2013.01) G01R 31/2642(2013.01) G01R 31/2642(2013.01) G01R 31/2642(2013.01)
출원번호/일자 1020160039095 (2016.03.31)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-1779707-0000 (2017.09.12)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20170919) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.03.31)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 천성일 대한민국 인천광역시 남구
2 김양섭 대한민국 경기도 군포시 광정로 ***, *
3 오원욱 대한민국 서울특별시 서초구
4 김동신 대한민국 전라북도 전주시 완산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남충우 대한민국 서울 강남구 언주로 ***, *층(역삼동, 광진빌딩)(알렉스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.03.31 수리 (Accepted) 1-1-2016-0310755-35
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2016.08.16 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2016-0794515-13
3 서류반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document
2016.08.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2016-0124386-10
4 서류반려통지서
Notice for Return of Document
2016.09.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2016-0139774-73
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.10.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.12.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0077197-62
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.05.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0368801-11
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.07.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0719875-76
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.07.26 수리 (Accepted) 1-1-2017-0719864-74
10 등록결정서
Decision to grant
2017.08.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0554818-50
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전자모듈에 포함되는 전자소자에 고장유발원인을 인가하는 고장유발원인 인가단계;상기 전자소자의 수명과 관련된 특성값을 획득하는 특성값 획득단계; 상기 전자모듈이 고장상태가 될 때까지 상기 단계들을 반복하는 단계; 및 고장유발원인이 인가되지 않은 전자소자의 특성값인 초기특성값과 전자모듈이 고장상태가 된 때의 전자소자의 특성값인 최후특성값의 차이에 대한, 초기특성값과 최후특성값의 중간값인 중앙특성값과 현재특성값의 차이의 비율을, 전자소자의 평균수명에 곱한 값을, 전자소자의 평균수명에서 뺀 값을 전자소자의 수명으로 획득하는 수명획득단계; 및 상기 전자소자의 수명을 상기 전자모듈의 수명과 매칭시키는 단계;를 포함하고, 상기 전자소자는 복수개이고, 상기 전자모듈의 수명은 상기 복수 개의 전자소자의 수명의 산술평균이 선택되는 것을 특징으로 하는 전자소자가 실장된 전자모듈의 수명정량평가방법
2 2
제 1항에 있어서, 상기 전자소자는 반도체 부품인 것을 특징으로 하는 전자소자가 실장된 전자모듈의 수명정량평가방법
3 3
제 1항에 있어서, 상기 전자소자는 FET, IGBT 및 다이오드 중 어느 하나인 전자소자가 실장된 전자모듈의 수명정량평가방법
4 4
제 1항에 있어서, 상기 고장유발원인은 정전기, 전류, 전압, 고온, 고습도 및 전자파 중 적어도 하나인 것을 특징으로 하는 전자소자가 실장된 전자모듈의 수명정량평가방법
5 5
제 1항에 있어서, 상기 전자소자는 MOSFET이고, 상기 특성값은 드레인/소스의 IV 곡선값인 것을 특징으로 하는 전자소자가 실장된 전자모듈의 수명정량평가방법
6 6
삭제
7 7
삭제
8 8
전자모듈에 포함되는 제1전자소자에 고장유발원인을 인가하는 고장유발원인 인가단계;상기 제1전자소자의 수명과 관련된 특성값을 획득하는 특성값 획득단계; 상기 전자모듈이 고장상태가 될 때까지 상기 단계들을 반복하는 단계; 및 고장유발원인이 인가되지 않은 제1전자소자의 특성값인 초기특성값과 전자모듈이 고장상태가 된 때의 제1전자소자의 특성값인 최후특성값의 차이에 대한, 초기특성값과 최후특성값의 중간값인 중앙특성값과 현재특성값의 차이의 비율을, 제1전자소자의 평균수명에 곱한 값을, 제1전자소자의 평균수명에서 뺀 값을 제1전자소자의 수명으로 획득하는 수명획득단계; 상기 수명이 획득된 제1전자소자를, 제2전자소자를 포함하는 전자모듈에 실장하는 단계;상기 제2전자소자의 현재특성값을 획득하는 단계;상기 제1전자소자의 현재특성값에 대한 상기 제2전자소자의 현재특성값의 비율을 상기 제1전자소자의 수명에 곱하여 상기 제2전자소자의 수명을 획득하는 단계; 및상기 제2전자소자의 수명을 상기 전자모듈의 수명과 매칭시키는 단계;를 포함하고,상기 제1전자소자는 복수개이고, 상기 제1전자소자의 수명은 상기 복수 개의 제1전자소자의 수명의 산술평균이 선택되는 것을 특징으로 하는 전자소자가 실장된 전자모듈의 사용중 수명정량평가방법
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 한국산업기술시험원 에너지국제공동연구 원전 전자기기 적용 반도체 부품에 대한 고출력 전자기파(HEMP, NNEMP) 영향평가 기술 개발