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전면에 걸쳐 소정의 스캐닝패턴으로 조형광선을 조사받는 조형평면, 상기 조형평면에 대한 상기 조형광선의 조사가 한 번의 시작과 종료를 수행하는 경우 경화되는 단위 경화층인 조형라인을 생성되도록 상기 조형평면에 상기 조형광선을 조사하는 헤드부를 포함하는 입체조형장비를 위한 광원조사위치 센싱장치에 있어서,상기 조형평면에 인접하게 설치되고, 도광판의 일부위인 도광판편을 구비하여, 가변적인 조사위치를 갖는 상기 조형광선이 상기 도광판편의 출광면인 입사면에 입사 시, 상기 조형광선이 도파되어 상기 도광판편의 입광면인 발사면을 통해 발사되게 하는 조형광선입사부; 상기 발사면에서 발사되는 광을 센싱하는 기능을 수행하여, 각각의 상기 조형라인의 시작과 종료에 대한 상기 조형광선을 센싱하는 센서부; 및상기 조형광선을 센싱한 상기 센서부로부터 신호를 전달받아 상기 조형광선의 조사위치를 판단하는 제어부;를 포함하고,상기 제어부는, 상기 조형라인 형성의 시작과 종료 시점에 의한 시간 차이를 분석하고, 이에 대한 분석 정보와 상기 제어부에 입력된 설계 정보에 의한 시간 차이를 비교하여, 상기 조형라인의 길이 오차에 대해 판단하며, 상기 조형광선의 조사 시작과 종료 및 상기 조형광선의 조사위치에 대한 오차 조정을 위한 제어신호를 상기 헤드부로 전달하는 것을 특징으로 하는 입체조형장비를 위한 광원조사위치 센싱장치
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청구항1에 있어서, 상기 도광판편의 출광면에 상기 조형광선이 입사되고, 상기 도광판편의 입광면으로부터 상기 센서부로 상기 조형광선이 발사되는 것을 특징으로 하는 입체조형장비를 위한 광원조사위치 센싱장치
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청구항1에 있어서,상기 조형평면의 가장자리에 인접하게 설치된 상기 조형광선입사부의 상기 입사면은, 상기 조형평면의 가장자리에 대응되는 길이를 구비하는 것을 특징으로 하는 입체조형장비를 위한 광원조사위치 센싱장치
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청구항3에 있어서,상기 입사면은, 지면에 대해 상기 조형평면과 동일한 높이로 형성되는 것을 특징으로 하는 입체조형장비를 위한 광원조사위치 센싱장치
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청구항3에 있어서, 상기 조형광선입사부는 하나 이상 설치되는 것을 특징으로 하는 입체조형장비를 위한 광원조사위치 센싱장치
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청구항 1에 있어서,상기 조형광선입사부는 회전 가능하여, 상기 입사면의 각도가 조절되는 것을 특징으로 하는 입체조형장비를 위한 광원조사위치 센싱장치
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삭제
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청구항1에 있어서,상기 센서부는, 포토다이오드, 포토트랜지스터, 포토사이러스트, CCD 이미지센서, MOS 이미지센서 또는 CMOS 이미지센서 중 하나 이상의 센서를 구비하는 것을 특징으로 하는 입체조형장비를 위한 광원조사위치 센싱장치
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청구항1 내지 청구항6, 및 청구항 9 중 선택되는 어느 한 항에 의해 제조되는 광원조사위치 센싱장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 입체조형장비
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전면에 걸쳐 소정의 스캐닝패턴으로 조형광선을 조사받는 조형평면, 상기 조형평면에 대한 상기 조형광선의 조사가 한 번의 시작과 종료를 수행하는 경우 경화되는 단위 경화층인 조형라인을 생성되도록 상기 조형평면에 상기 조형광선을 조사하는 헤드부를 포함하는 입체조형장비를 위한 광원조사위치 센싱장치에 있어서,상기 헤드부에 구비되고, 도광판의 일부위인 도광판편을 구비하여, 가변적인 조사위치를 갖는 상기 조형광선이 상기 도광판편의 출광면인 입사면에 입사 시, 상기 조형광선이 도파되어 상기 도광판편의 입광면인 발사면을 통해 발사되게 하는 조형광선입사부;상기 발사면에서 발사되는 광을 센싱하는 기능을 수행하여, 각각의 상기 조형라인의 시작과 종료에 대한 상기 조형광선을 센싱하는 센서부; 및상기 조형광선을 센싱한 상기 센서부로부터 신호를 전달받아 상기 조형광선의 조사위치를 판단하는 제어부;를 포함하고,상기 제어부는, 상기 조형라인 형성의 시작과 종료 시점에 의한 시간 차이를 분석하고, 이에 대한 분석 정보와 상기 제어부에 입력된 설계 정보에 의한 시간 차이를 비교하여, 상기 조형라인의 길이 오차에 대해 판단하며, 상기 조형광선의 조사 시작과 종료 및 상기 조형광선의 조사위치에 대한 오차 조정을 위한 제어신호를 상기 헤드부로 전달하는 것을 특징으로 하는 입체조형장비를 위한 광원조사위치 센싱장치
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청구항11에 있어서,상기 조형광선입사부는, 상기 조형평면의 끝단 조사 시 형성되는 상기 조형광선의 경로에 설치되는 것을 특징으로 하는 입체조형장비를 위한 광원조사위치 센싱장치
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청구항1의 입체조형장비를 위한 광원조사위치 센싱장치를 이용한 제어방법에 있어서, (ⅰ) 상기 조형광선이 상기 조형광선입사부에 입사되어 상기 조형라인의 형성이 시작되는 단계;(ⅱ) 조형이 수행되어 상기 조형라인이 형성되는 단계;(ⅲ) 상기 조형광선이 상기 조형광선입사부에 입사되어 상기 조형라인의 형성이 종료되는 단계;(ⅳ) 상기 조형라인의 형성 위치 정보와 제어부에 입력된 설계 정보를 비교 판단하는 단계;(ⅴ) 상기 제어부로부터 상기 헤드부로 제어신호가 전달되어, 상기 조형광선의 조사위치를 수정하는 단계; 및(ⅵ) 상기 (ⅰ) 단계 내지 상기 (ⅴ) 단계를 반복 수행하는 단계;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 입체조형장비를 위한 광원조사위치 센싱장치를 이용한 제어방법
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