1 |
1
상부면에 홈이 형성되고, 배선단자를 구비하는 기판;상기 홈에 설치되고, 상기 배선단자와 연결되는 엘이디소자;온도에 따라 색이 변하는 열반응 물질로 형성되고, 상기 기판의 하부면에 도포되어 형성되는 열반응층; 및상기 열반응층을 보호하기 위해 상기 열반응층의 표면에 형성되는 보호층;을 포함하고,상기 기판의 하부면에는, 상기 홈의 위치와 대응되는 위치에 보조홈이 형성되는 것을 특징으로 하는 열 반응 물질을 이용한 발광다이오드 신뢰성 평가 장치
|
2 |
2
청구항 1에 있어서, 상기 열반응층의 색 변화를 감지하는 이미지센서부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열 반응 물질을 이용한 발광다이오드 신뢰성 평가 장치
|
3 |
3
청구항 2에 있어서,상기 이미지센서부로부터 상기 열반응층의 색 변화에 대한 정보를 전달받고 처리 및 저장하는 데이터부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열 반응 물질을 이용한 발광다이오드 신뢰성 평가 장치
|
4 |
4
청구항 3에 있어서, 상기 기판에 상기 엘이디소자가 복수 개 설치되고, 상기 기판에 대해 각각의 상기 엘이디소자는 설치 위치에 따른 설치번호를 구비하는 것을 특징으로 하는 열 반응 물질을 이용한 발광다이오드 신뢰성 평가 장치
|
5 |
5
청구항 4에 있어서, 상기 열반응층의 색 이미지 및 상기 설치번호를 화면으로 표시하는 디스플레이부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열 반응 물질을 이용한 발광다이오드 신뢰성 평가 장치
|
6 |
6
청구항 1에 있어서,상기 열반응 물질은, 시온안료와 합성수지의 혼합물인 것을 특징으로 하는 열 반응 물질을 이용한 발광다이오드 신뢰성 평가 장치
|
7 |
7
청구항 1에 있어서,상기 보호층은, 투명한 재질로 형성되는 것을 특징으로 하는 열 반응 물질을 이용한 발광다이오드 신뢰성 평가 장치
|
8 |
8
삭제
|
9 |
9
상부면에 홈이 형성되고, 배선단자를 구비하는 기판;상기 홈에 설치되고, 상기 배선단자와 연결되며, 엘이디칩과 상기 엘이디칩이 내부에 설치되는 리드프레임을 구비하는 엘이디소자; 및온도에 따라 색이 변하는 열반응 물질로 형성되고, 상기 리드프레임의 외부 표면에 도포되어 형성되는 열반응부;를 포함하고,상기 기판의 하부면에는, 상기 홈의 위치와 대응되는 위치에 보조홈이 형성되는 것을 특징으로 하는 열 반응 물질을 이용한 발광다이오드 신뢰성 평가 장치
|
10 |
10
청구항 9에 있어서,상기 기판은, 투명한 재질로 형성되는 것을 특징으로 하는 열 반응 물질을 이용한 발광다이오드 신뢰성 평가 장치
|
11 |
11
삭제
|
12 |
12
삭제
|
13 |
13
청구항 1의 열 반응 물질을 이용한 발광다이오드 신뢰성 평가 장치에 의한 발광다이오드 신뢰성 평가 방법에 있어서, i) 상기 엘이디소자가 설치된 상기 기판에 전원을 공급하는 단계;ii) 이미지센서부에서 상기 열반응층의 색 변화를 감지하는 단계;iii) 상기 열반응층의 색 변화에 대한 정보를 상기 이미지센서부로부터 데이터부로 전달하는 단계; 및iv) 상기 열반응층의 이미지 및 상기 엘이디소자의 설치번호가 상기 데이터부로부터 디스플레이부로 전달되어 상기 디스플레이부의 화면에 표시되는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드 신뢰성 평가 방법
|
14 |
14
청구항 13에 있어서,상기 iii) 단계에서, 상기 기판에 상기 엘이디소자가 복수 개 설치되고, 상기 기판에 대해 각각의 상기 엘이디소자는 설치 위치에 따른 상기 설치번호를 구비하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드 신뢰성 평가 방법
|
15 |
15
청구항 13에 있어서,상기 iv) 단계 이 후, 상기 데이터부가 상기 열반응층의 색 변화에 대한 정보를 분석하여 상기 기판의 일 부위가 이상 고온 상태인 경우, 상기 전원이 공급 중단되는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드 신뢰성 평가 방법
|