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제1 정량 값에 따라 변화하는 제1 물질에 대한 복수의 정량 데이터를 측정한 후 상기 복수의 정량 데이터 중 기 설정된 임계값 이상인 정량 데이터의 비율을 산출하고, 이를 이용하여 상기 제1 물질의 제1 정량 값과 상기 임계값 이상 정량 데이터의 비율 사이의 관계를 도출하는 단계; 및상기 제1 정량 값과 상기 임계값 이상 정량 데이터의 비율 사이의 관계를 이용하여 분석 대상 시료에 대해 이에 포함된 상기 제1 물질의 정량 값을 산출하는 단계를 포함하는, 물질 정량 분석방법
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제1항에 있어서, 상기 복수의 정량 데이터는 2차원 평면 형태로 도포된 상기 제1 물질 함유 시료에 대해 분광기, 광학 현미경, 전자 현미경 및 주사탐침 현미경 중 하나에 의해 촬상된 상기 제1 물질 함유 시료의 2차원 이미지로부터 획득되는 것을 특징으로 하는, 물질 정량 분석방법
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제2항에 있어서,상기 2차원 이미지는 복수의 단위 영역들로 이루어지고, 상기 복수의 정량 데이터는 상기 복수의 단위 영역들로부터 각각 획득되는 것을 특징으로 하는, 물질 정량 분석방법
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제3항에 있어서,상기 2차원 이미지는 라만 분광기에 의해 촬상된 라만 스펙트럼 정보를 포함하는 이미지이고, 상기 임계값 이상 정량 데이터의 비율은,상기 복수의 단위 영역들에 있어서의 상기 제1 물질에 대응하는 라만 쉬프트의 피크 강도와 상기 임계값을 비교하는 단계; 상기 복수의 단위 영역들 중 상기 라만 쉬프트의 피크 강도가 상기 임계값 이상인 단위 영역들의 비율을 산출하는 단계에 의해 획득되는 것을 특징으로 하는, 물질 정량 분석방법
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제3항에 있어서, 상기 2차원 이미지는 질량 스펙트럼 정보를 포함하는 질량 이미지이고, 상기 임계값 이상 정량 데이터의 비율은,상기 복수의 단위 영역들에 있어서의 상기 제1 물질에 대응하는 질량 대 전하의 비(mass to charge ratio, m/z)의 피크 강도와 상기 임계값을 비교하는 단계; 상기 복수의 단위 영역들 중 상기 질량 대 전하의 비(mass to charge ratio, m/z)의 피크 강도가 상기 임계값 이상인 단위 영역들의 비율을 산출하는 단계에 의해 획득되는 것을 특징으로 하는, 물질 정량 분석방법
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제3항에 있어서, 상기 2차원 이미지는 광학 현미경에 의해 촬상된 이미지이고, 상기 임계값 이상 정량 데이터의 비율은,상기 복수의 단위 영역들에 있어서의 명도 값들을 상기 임계값을 비교하는 단계; 상기 복수의 단위 영역들 중 상기 명도 값이 상기 임계값 이상인 단위 영역들의 비율을 산출하는 단계에 의해 획득되는 것을 특징으로 하는, 물질 정량 분석방법
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제1항에 있어서, 상기 분석 대상 시료에 대해 이에 포함된 상기 제1 물질의 정량 값을 산출하는 단계는,상기 분석 대상 시료로부터 상기 제1 물질에 대한 복수의 정량 데이터를 측정하고, 상기 측정된 복수의 정량 데이터 중 상기 기 설정된 임계값 이상인 정량 데이터의 비율을 산출하는 단계; 및상기 제1 정량 값과 상기 임계값 이상 정량 데이터의 비율 사이의 관계를 이용하여 상기 분석 대상 시료로부터 산출된 상기 임계값 이상인 정량 데이터의 비율로부터 상기 분석 대상 시료에 대한 상기 제1 물질의 정량 값을 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 물질 정량 분석방법
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제7항에 있어서, 상기 분석 대상 시료는 상기 제1 물질 및 상기 제1 물질과 다른 하나 이상의 제2 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는, 물질 정량 분석방법
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제7항에 있어서, 상기 제1 물질에 대한 정량 값은 단위 부피 당 상기 제1 물질의 함량인 것을 특징으로 하는, 물질 정량 분석방법
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제9항에 있어서,상기 제1 물질에 대한 정량 값은 상기 제1 물질의 농도인 것을 특징으로 하는, 물질 정량 분석방법
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