| 1 |
1
극소불량률 관리 장치에서의, 비정규 분포 공정의 극소불량률 관리 방법에 있어서,제품 생산 공정에 의해 생산되는 제품에 대해 공정별로 하나 이상의 샘플(sample)을 선택하여 품질특성치의 비정규성을 분석하는 단계;상기 비정규성 분석을 통해 획득된 Burr 분포 함수에 대해, 미리 설정된 제품의 규격한계 값을 이용하여 각 공정별 샘플의 극소불량률 값을 산출하는 단계;상기 산출된 각 공정별 샘플의 극소불량률 값을 기반으로 극소불량률 관리를 위한 Burr_Zp 분포를 산출하는 단계, 여기서, 상기 Burr_Zp 분포는 최대우도(MLE: Maximum Likelihood Estimation) 기법을 통해 추정되는 분포로써, 평균 및 분산을 통해 정의되는 정규분포로 정의함; 상기 Burr_Zp 분포를 사용하여 관리한계선과 타점식을 포함하는 Burr-Zp 관리도를 설계하는 단계; 상기 설계된 Burr-Zp 관리도의 민감도를 산출하는 단계; 상기 산출된 Burr-Zp 관리도의 민감도를 기반으로 상기 제품의 극소불량률을 감지하기 위한 Burr-Zp 지수가중이동평균(EWMA: Exponentially Weighted Boving Average) 관리도를 설계하는 단계; 및상기 Burr-Zp 지수가중이동평균 관리도를 이용하여, 입력되는 불량률의 변화정도 값과 민감도 값에 대응하는 극소불량률을 감지하는 단계를 포함하되,상기 Burr-Zp 지수가중이동평균 관리도는 상기 Burr-Zp 분포에 지수가중이동평균 관리도의 타점식에 상기 입력되는 불량률의 변화정도 값 및 민감도 값에 대응하는 가중치를 부여하여 생성하는 비정규 분포 공정에서의 극소불량률 관리 방법
|
| 2 |
2
제 1 항에 있어서,상기 Burr-Zp 관리도의 민감도는 상기 제품 생산 공정에 포함된 복수 개의 공정의 변화와 해당 공정에서의 샘플의 개수의 변화에 따른 민감도를 나타내는 비정규 분포 공정에서의 극소불량률 관리 방법
|
| 3 |
3
제 2 항에 있어서, 상기 설계된 Burr-Zp 관리도의 민감도는,상기 제품 생산 공정 중 특정 공정이 변화하지 않았는데도 불구하고 확률적 성격에 의해 상기 특정 공정이 변화했다고 신호 줄 확률; 및상기 특정 공정이 변화하였는데도 불구하고 확률적 성격에 의해 상기 특정 공정이 변화하지 않았다고 신호를 줄 확률을 기반으로 산출되는 비정규 분포 공정에서의 극소불량률 관리 방법
|
| 4 |
4
삭제
|
| 5 |
5
제 1 항에 있어서,상기 관리한계선은 상한규격(USL)일 때 상기 Burr-Zp 분포가 망대특성을 갖도록 하는 관리하한선; 및하한규격(LSL)일 때 상기 Burr-Zp 분포가 망소특성을 갖도록 하는 관리상한선(UCL)을 포함하는 비정규 분포 공정에서의 극소불량률 관리 방법
|
| 6 |
6
제 1 항에 있어서,상기 Burr_Zp의 관리도의 타점식은 상기 제품의 특정 공정에서의 관리상한선(USL)에서 샘플의 평균을 뺀 값을 생산라인의 표준편차로 나눈 값과, 상기 제품의 특정 공정에서의 관리하한선(LSL)에서 특정 샘플의 평균을 뺀 값을 생산라인의 표준편차로 나눈 값을 기반으로 산출되는 비정규 분포 공정에서의 극소불량률 관리 방법
|
| 7 |
7
비정규 분포 공정에서의 극소불량률 관리 장치에 있어서, 상기 장치는 지시어를 저장하고 있는 메모리 및 상기 메모리에 저장된 지시어를 실행하는 프로세서를 포함하되, 상기 지시어는:제품 생산 공정에 의해 생산되는 제품에 대해 공정별로 하나 이상의 샘플(sample)을 선택하여 품질특성치의 비정규성을 분석하고;상기 비정규성 분석을 통해 획득된 Burr 분포 함수에 대해, 미리 설정된 제품의 규격한계 값을 이용하여 각 공정별 샘플의 극소불량률 값을 산출하며; 상기 산출된 각 공정별 샘플의 극소불량률 값을 기반으로 극소불량률 관리를 위한 Burr_Zp 분포를 산출하고, 여기서, 상기 Burr_Zp 분포는 최대우도(MLE: Maximum Likelihood Estimation) 기법을 통해 추정되는 분포로써, 평균 및 분산을 통해 정의되는 정규분포로 정의함; 및 상기 Burr_Zp 분포를 사용하여 관리한계선과 타점식을 포함하는 Burr-Zp 관리도를 설계하며,상기 설계된 Burr-Zp 관리도의 민감도를 산출하고; 상기 산출된 Burr-Zp 관리도의 민감도를 기반으로 상기 제품의 극소불량률을 감지하기 위한 Burr-Zp 지수가중이동평균(EWMA: Exponentially Weighted Boving Average) 관리도를 설계하며; 및상기 Burr-Zp 지수가중이동평균 관리도를 이용하여, 입력되는 불량률의 변화정도 값과 민감도 값에 대응하는 극소불량률을 감지하는 지시어를 포함하되,상기 Burr-Zp 지수가중이동평균 관리도는 상기 Burr-Zp 분포에 지수가중이동평균 관리도의 타점식에 상기 입력되는 불량률의 변화정도 값 및 민감도 값에 대응하는 가중치를 부여하여 생성하는 지시어를 포함하는 비정규 분포 공정에서의 극소불량률 관리 장치
|
| 8 |
8
비정규 분포 공정에서의 극소불량률 관리를 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독가능한 기록매체에 있어서, 상기 프로그램은:제품 생산 공정에 의해 생산되는 제품에 대해 공정별로 하나 이상의 샘플 (sample)을 선택하여 품질특성치의 비정규성을 분석하고;상기 비정규성 분석을 통해 획득된 Burr 분포 함수에 대해, 미리 설정된 제품의 규격한계 값을 이용하여 각 공정별 샘플의 극소불량률 값을 산출하며;상기 산출된 각 공정별 샘플의 극소불량률 값을 기반으로 극소불량률 관리를 위한 Burr_Zp 분포를 산출하고, 여기서, 상기 Burr_Zp 분포는 최대우도(MLE: Maximum Likelihood Estimation) 기법을 통해 추정되는 분포로써, 평균 및 분산을 통해 정의되는 정규분포로 정의함; 및상기 Burr_Zp 분포를 사용하여 관리한계선과 타점식을 포함하는 Burr-Zp 관리도를 설계하며,상기 설계된 Burr-Zp 관리도의 민감도를 산출하고; 상기 산출된 Burr-Zp 관리도의 민감도를 기반으로 상기 제품의 극소불량률을 감지하기 위한 Burr-Zp 지수가중이동평균(EWMA: Exponentially Weighted Boving Average) 관리도를 설계하며; 및상기 Burr-Zp 지수가중이동평균 관리도를 이용하여, 입력되는 불량률의 변화정도 값과 민감도 값에 대응하는 극소불량률을 감지하는 지시어를 포함하되,상기 Burr-Zp 지수가중이동평균 관리도는 상기 Burr-Zp 분포에 지수가중이동평균 관리도의 타점식에 상기 입력되는 불량률의 변화정도 값 및 민감도 값에 대응하는 가중치를 부여하여 생성하는, 비정규 분포 공정에서의 극소불량률 관리를 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독가능한 기록매체
|
