| 1 |
1
다수의 태양광 패널들이 행렬 형태로 배열되어 이루어진 태양광 어레이의 열적외선 영상으로부터 오작동 패널을 자동 검출하는 방법에 있어서,(A) 상기 열적외선 영상으로부터 패널 영역을 추출하여 각 패널에 인덱스를 부여하는 단계;(B) 상기 추출된 다수의 태양광 패널들 각각의 밝기값 평균과 밝기값 평균의 표준편차를 산출하는 단계;(C) 상기 (B) 단계의 산출 결과로부터 상기 태양광 어레이의 행 별로 오작동 패널을 검출하기 위한 기준(이하, '오작동 패널 검출 기준'이라 함)을 조절하여 최종 오작동 패널을 검출하는 단계; 및(D) 상기 검출된 최종 오작동 패널의 인덱스를 저장하는 단계;를 포함하고,상기 (A) 단계 이후,(E) 상기 추출된 다수의 태양광 패널들 중 동일한 행에 속하는 패널들끼리 그룹화하는 단계;를 더 포함하며,상기 (B) 단계 및 상기(C) 단계는 그룹화된 행 별로 수행되는 것을 특징으로 하는 오작동 패널을 자동 검출하는 방법
|
| 2 |
2
제1항에 있어서,상기 (C) 단계는,상기 다수의 태양광 패널들 중 동일한 행에 속하는 패널들 각각의 밝기값 평균과 밝기값 평균의 표준편차로부터 상기 오작동 패널 검출 기준을 산출하고, 각 패널의 밝기값 평균과 밝기값 평균의 표준편차 중 적어도 하나와, 상기 산출된 오작동 패널 검출 기준을 비교하여 오작동 패널을 검출하는 것을 특징으로 하는 오작동 패널을 자동 검출하는 방법
|
| 3 |
3
제2항에 있어서,상기 (C) 단계는,(C1) 상기 동일한 행에 속하는 패널들의 전체 밝기값 평균과 상기 전체 밝기값 평균에 대한 표준편차를 합하여 CMI(Criteria for Mean Intensities)를 제1오작동 패널 검출 기준으로서 산출하는 단계; (C2) 오작동 패널인지 검사하기 위한 해당 패널의 밝기값 평균과 상기 산출된 CMI를 비교하여, 상기 해당 패널의 밝기값 평균이 상기 CMI 보다 크면 상기 해당 패널을 후보 오작동 패널로 분류하는 단계;(C3) 상기 분류된 후보 오작동 패널의 밝기값과 상기 동일한 행에 속하는 패널들의 평균 표준편차를 합하여 CSD(Criteria for Standard Deviations)를 제2오작동 패널 검출 기준으로서 산출하는 단계; 및(C4) 상기 후보 오작동 패널의 밝기값 평균과 밝기값 평균의 표준편차를 합한 값이 상기 CSD보다 크면, 상기 후보 오작동 패널을 상기 최종 오작동 패널로서 검출하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 오작동 패널을 자동 검출하는 방법
|
| 4 |
4
제3항에 있어서,상기 (C3) 단계에서, 상기 동일한 행에 속하는 패널들의 평균 표준편차는,상기 동일한 행에 속하는 패널들 각각의 ROI(Region Of Interest)를 구성하는 픽셀 수가 상이하므로, 상기 각 패널의 밝기값에 대한 표준편차마다 해당 ROI의 픽셀 수가 가중치로서 부여되어 산출된 것을 특징으로 하는 오작동 패널을 자동 검출하는 방법
|
| 5 |
5
제3항에 있어서,상기 (C3) 단계에서, 상기 패널들의 평균 표준편차는 다음의 식을 이용하여 산출되는 것을 특징으로 하는 오작동 패널을 자동 검출하는 방법:여기서, 는 상기 패널들의 평균 표준편차, n은 각 패널 ROI의 픽셀 수, 는 각 패널의 밝기값 평균에 대한 표준편차, 1 내지 는 동일한 행에 속하는 패널 인덱스임
|
| 6 |
6
삭제
|
| 7 |
7
다수의 태양광 패널들이 행렬 형태로 배열되어 이루어진 태양광 어레이의 열적외선 영상으로부터 오작동 패널을 자동 검출하는 장치에 있어서,상기 열적외선 영상으로부터 추출된 패널 영역의 각 패널에 인덱스를 부여하는 라벨링부;상기 추출된 다수의 태양광 패널들 각각의 밝기값 평균과 밝기값 평균의 표준편차를 산출하는 산출부;상기 산출부의 산출 결과로부터 상기 태양광 어레이의 행 별로 오작동 패널을 검출하기 위한 기준(이하, '오작동 패널 검출 기준'이라 함)을 조절하여 최종 오작동 패널을 검출하되, 상기 다수의 태양광 패널들 중 동일한 행에 속하는 패널들 각각의 밝기값 평균과 밝기값 평균의 표준편차로부터 상기 오작동 패널 검출 기준을 산출하고, 각 패널의 밝기값 평균과 밝기값 평균의 표준편차 중 적어도 하나와, 상기 산출된 오작동 패널 검출 기준을 비교하여 오작동 패널을 검출하는 오작동 패널 검출부; 및상기 최종 오작동 패널의 인덱스를 저장하는 저장부;를 포함하고, 상기 오작동 패널 검출부는,상기 동일한 행에 속하는 패널들의 전체 밝기값 평균과 상기 전체 밝기값 평균에 대한 표준편차를 합하여 CMI(Criteria for Mean Intensities)를 제1오작동 패널 검출 기준으로서 산출하는 CMI 산출부; 오작동 패널인지 검사하기 위한 해당 패널의 밝기값 평균과 상기 산출된 CMI를 비교하여, 상기 해당 패널의 밝기값 평균이 상기 CMI 보다 크면 상기 해당 패널을 후보 오작동 패널로 분류하는 후보 오작동 패널 분류부;상기 분류된 후보 오작동 패널의 밝기값과 상기 동일한 행에 속하는 패널들의 평균 표준편차를 합하여 CSD(Criteria for Standard Deviations)를 제2오작동 패널 검출 기준으로서 산출하는 CSD 산출부; 및상기 후보 오작동 패널의 밝기값 평균과 밝기값 평균의 표준편차를 합한 값이 상기 CSD보다 크면, 상기 후보 오작동 패널을 상기 최종 오작동 패널로서 검출하는 최종 오작동 패널 검출부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 오작동 패널을 자동 검출하는 장치
|
| 8 |
8
삭제
|
| 9 |
9
삭제
|
| 10 |
10
제7항에 있어서,상기 CSD 산출부는, 상기 동일한 행에 속하는 패널들 각각의 ROI(Region Of Interest)를 구성하는 픽셀 수가 상이하므로, 상기 각 패널의 밝기값에 대한 표준편차마다 해당 ROI의 픽셀 수를 가중치로서 부여하여 상기 평균 표준편차를 산출하는 것을 특징으로 하는 오작동 패널을 자동 검출하는 장치
|
